上电复位电路制造技术

技术编号:4185221 阅读:364 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种上电复位电路,包括电压分压部分和电压检测部分,所述电压分压部分包括在电源端和地之间串联的至少两个NMOS管,其中每个NMOS管的栅极与其各自的漏极相连接,第一个NMOS管的漏极接电源端,后一个NMOS管的漏极连接前一个NMOS管的源极,最后一个NMOS管的源极接地,所述电压检测部分包括一个NMOS管和一个PMOS管,所述PMOS管的源极接到电源端,栅极接地,漏极接NMOS管的漏极,该NMOS管的源极接地,栅极连接到电压分压部分中一个NMOS管的漏极,所述PMOS管的漏极连接一个反相器的输入端。本发明专利技术通过采用串联的NMOS管代替现有的分压电阻,其电路结构非常简单,并且降低了工作电流,同时减少了所占用芯片的面积。

【技术实现步骤摘要】
1/2页 Wl + W2 W3 +篇式中RN1是NM0S Nl的导通电阻,通常远小于R3,可忽略。因此 膨-,, 1 + 2为了降低功耗,R1、R2和R3的电阻值必须很大。假设VDD = 3V,要求IDD < luA, 则要求R1+R2〉6MQ,R3〉6MQ。在通常的CMOS工艺中,12M Q的电阻将会占用非常大的 芯片面积。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种上电复位电路,能够采用简单的电路结 构,可以降低工作电流,同时减少所占用芯片的面积。 为解决上述技术问题,本专利技术上电复位电路的技术方案是,包括电压分压部分和 电压检测部分,所述电压分压部分包括在电源端和地之间串联的至少两个NM0S管,其中每 个NM0S管的栅极与其各自的漏极相连接,第一个NM0S管的漏极接电源端,后一个NM0S管 的漏极连接前一个NM0S管的源极,最后一个NM0S管的源极接地,所述电压检测部分包括又 一个NM0S管和一个PM0S管,所述PM0S管的源极接到电源端,栅极接地,漏极接电压检测部 分的NM0S管的漏极,该NM0S管的源极接地,栅极连接到电压分压部分中除第一个NM0S管本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种上电复位电路,其特征在于,包括电压分压部分和电压检测部分,所述电压分压部分包括在电源端和地之间串联的至少两个NMOS管,其中每个NMOS管的栅极与其各自的漏极相连接,第一个NMOS管的漏极接电源端,后一个NMOS管的漏极连接前一个NMOS管的源极,最后一个NMOS管的源极接地,所述电压检测部分包括又一个NMOS管和一个PMOS管,所述PMOS管的源极接到电源端,栅极接地,漏极接电压检测部分的NMOS管的漏极,该NMOS管的源极接地,栅极连接到电压分压部分中除第一个NMOS管的其它任意一个NMOS管的漏极,所述PMOS管的漏极连接一个反相器的输入端,所述反相器的输出端为所述上电复位电路的输出...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:孟醒李兆桂陈涛
申请(专利权)人:上海华虹NEC电子有限公司
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]

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