太阳能硅芯片检测机台和检测方法技术

本发明专利技术公开了一种太阳能硅芯片检测机台，用于逐片检测太阳能硅芯片，且该等受测硅芯片均具有彼此相反、且分别布设有电极的第一面及第二面，该检测机台包括基座，吸取入料装置组设于基座，并自第一面吸取受测硅芯片；承载检测装置组设于基座，承接来自吸取入料装置的受测硅芯片的第二面而沿一个径向搬移并检测受测硅芯片第一面特性；吸取分类装置组设于基座，并自第一面吸取来自承载检测装置的受测硅芯片；第二面检测装置组设于基座，对应吸取入料装置或吸取分类装置之一；处理装置用以接收来自承载检测装置及第二面检测装置的信息，并指令吸取分类装置。另外，本发明专利技术还公开了一种太阳能硅芯片检测方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种太阳能硅芯片检测机台；本专利技术还涉及一种太阳能硅芯片 检测方法。
技术介绍
矿产资源如原油等日渐枯竭，且炼制过程污染不绝；而天然资源如太阳 能，具有取之不尽、用之不竭且无环保困扰的优势，成为下一代能源的要角， 太阳能板可进行光电转换，将所接收光能转换为电能以供利用，为替代能源 较优的解决方案之一。组成太阳能板的主要部件为太阳能硅芯片，如图1所示，图中左侧呈现 为太阳硅芯片1的受光面，以下称为第一面12、右侧呈现者为太阳能硅芯片 1翻转180度的非受光面，以下称为第二面14。为将光电流导出，太阳能硅 芯片1的第一面12与第二面14分别布设有电极122、 142;因此，太阳能硅 芯片1的两面均需受到检验。检验主要区分为外观(printing)检测、分色检测、及发光效率检测。 外观部分主要利用自动化机台的光学判读，检视太阳能硅芯片是否有刮痕、 水痕、白点、断线、脏污及对位偏移等状况。另由于太阳能硅芯片的制程及 原料等因素，每片硅芯片呈现的颜色均有些许差异，并可依照反射光的主要 频率，分为由浅蓝、深蓝、蓝紫、紫、棕等诸多颜色，色彩虽不影响其光电 转换效能，却影响日后组装的美观性，故采购太阳能硅芯片厂商对此分色检 测多所要求。光电转换效能与电气性能，为相当重要的影响因素，但因检验 流程较特殊，亦可另设于他处。目前的太阳能硅芯片检测机台大部分偏重进行外观检测，且较常见的操 作模式是在检测某一面后，将太阳能硅芯片利用机械直接或加装检测治具16以水车式的承载结构翻转180度，即如图2所示，检测另一面，而后再翻回。 连续的翻转过程中，沿重力方向的下端存在应力集中效应，且速度稍快即可 能造成边缘破损或结构微裂(micro-crake)，前者犹可目测，后者更是增加检 测的困扰。两次翻转的水车设计，半径过小，在重力相关方向的角加速度高而易受 损；半径过大则占据庞大空间。即使努力縮小半径，在流程的方向至少需占 用三倍于太阳能硅芯片的置放空间及水车翻转直径两倍的运转空间，机台的 整体尺寸无法减小。因此，若能提供一种将检测机构与流程安排最佳化，可使太阳硅芯片高 速循序接受双面检测，无须使用治具，更可配合嵌入不同的检测模块，或依 委托受测者要求，进行更精细分类，此类检测机台应为最佳解决方案。
技术实现思路
针对现有技术的上述不足，本专利技术所要解决的技术问题是提供一种全程 无翻转，能降低太阳能芯片损坏风险，并可进行双面检测的太阳能硅芯片检 测机台。该检测机台可使检测流程最佳化，使太阳能硅芯片于最短时间内完 成所有检测；该检测机台使弹性扩充成为可能，视太阳能硅芯片不同检测项 目可增加检测模块；该检测机台还可配合分类，在检测同时进行颜色分类， 配合指定检测需求，检测完成亦即成为待包装出厂状态。本专利技术所要解决的另一技术问题是提出一种使用本专利技术的检测机台检测 太阳能硅芯片的方法。为了解决上述技术问题，本专利技术提出的太阳能硅芯片检测机台，用于逐 片检测太阳能硅芯片，且该等受测硅芯片均具有彼此相反、且分别布设有电 极的第一面及第二面，该检测机台包括基座、吸取入料装置、承载检测装置、吸取分类装置、第二面检测装置和处理装置，其中吸取入料装置组设于基座，并自第一面吸取受测硅芯片； 承载检测装置组设于基座，承接来自吸取入料装置的受测硅芯片的第二面而沿一个径向搬移并检测受测硅芯片第一面特性；吸取分类装置组设于基座，并自第一面吸取来自承载检测装置的受测硅心片；第二面检测装置组设于基座，对应吸取入料装置或吸取分类装置之一；处理装置用以接收来自承载检测装置及第二面检测装置的信息，并指令 吸取分类装置。本专利技术提出的太阳能硅芯片检测方法，用于逐片检测太阳能硅芯片，且 该等受测硅芯片均具有彼此相反且分别布设有电极的第一面及第二面，该检测方法所使用的检测机台包含吸取入料装置、对应该吸取入料装置的第二 面检测装置、承载检测装置、具有吸取器及复数承载器的吸取分类装置、及 处理装置，该检测方法包含下列步骤a) 由吸取入料装置以暴露受测太阳能硅芯片第二面的方式，由第一面吸 取硅芯片；b) 以第二面检测装置检测太阳能硅芯片第二面，并将所得数据输出至处 理装置；C)将受测太阳能硅芯片以第二面向下，受承载检测装置承载的方式，输 送至承载检测装置；d) 由承载检测装置检测太阳能硅芯片第一面特性，并传输至处理装置；e) 处理装置判断受测太阳能硅芯片的分类，并指令吸取分类装置的吸取 器自承载检测装置吸取太阳能硅芯片第一面，并以第二面向下，置放至对应 该分类的承载器中。相对于现有技术，本专利技术藉由吸取入料装置，可快速提供太阳能硅芯片 进料，承载检测装置除输送太阳能硅芯片外，更可同步由相关光学装置进行 检测；检测完成，吸取分类装置可直接依设定，分送不同颜色或等级的太阳 能硅芯片置入承载容器。第二面检测装置无论配置于吸取入料装置或吸取分 类装置端，皆可在不翻转太阳能硅芯片的状况下进行第二面检测。附图说明图1是常见的太阳能硅芯片正反两面外观立体示意图2是常见的太阳能硅芯片水车式受测模式立体示意图3是本专利技术太阳能硅芯片检测机台外观立体示意图4是本专利技术第一实施例的方块图5是本专利技术第一实施例主要部份的立体示意图6是本专利技术第一实施例吸取入料装置的立体示意图7是本专利技术第一实施例承载检测装置的立体示意图8是本专利技术第一实施例吸取分类装置的立体示意图9是图8中吸取分类装置的方块图IO是本专利技术第一实施例的检测流程图11是本专利技术第二实施例的方块图12是本专利技术第二实施例主要部份的立体示意图。其中l为太阳能硅芯片；12为第一面；14为第二面；122、 142为电极； 16为检测治具；2、 2'为太阳能硅芯片检测机台；22、 22，为气压变换装置； 3、 3'为基座；4、 4'为吸取入料装置；42为枢轴；44为循环；46为吸嘴；48为入料座；482为入料器；5、 5'为承载检测装置；52为光学检测器；54 为承载移动件；542为皮带；544为皮带轮;56为光-电特性检测器；6、 6' 为吸取分类装置；62为输送件；60为止动件；64为机械臂；66为承载器； 68为导滑件；642为吸取器；7、 7，为第二面检测装置；8、 8，为处理装置；900-908为步骤。 具体实施例方式下面结合附图和具体实施例，进一步阐述本专利技术。这些实施例应理解为 仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的保护范围。在阅读了本专利技术记载的 内容之后，本领域技术人员可以对本专利技术作各种改动或修改，这些等效变化 和修饰同样落入本专利技术所附权利要求书所限定的范围。如图3所示，本专利技术第一较佳实施例提供的太阳能硅芯片检测机台2包 含基座3、吸取入料装置4、承载检测装置5、吸取分类装置6、第二面检测 装置7及处理装置。如图4及图5所示，第二面检测装置7对应吸取入料装置4设置，且处 理装置8配置于太阳能硅芯片检测机台2的基座3内，气压变换装置22则供 应全机至少一部份的正负压力调节(图中为避免相关管线造成图面紊乱，连 结管线并未绘示)。如图6所示，吸取入料装置4包括供沿重力方向枢转的枢轴42及设置于 枢轴42的数组吸嘴46，在本实施例中，四组吸嘴46彼此以直角相间隔地随 枢轴42沿一个循环44逆时针枢转以吸取受测物。第二面检测装置7设置于 对应循环44本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种太阳能硅芯片检测机台，用于逐片检测太阳能硅芯片，且该等受测硅芯片均具有彼此相反、且分别布设有电极的第一面及第二面，其特征是，该检测机台包括基座、吸取入料装置、承载检测装置、吸取分类装置、第二面检测装置和处理装置，其中：　吸取入料装置组设于基座，并自第一面吸取受测硅芯片；　承载检测装置组设于基座，承接来自吸取入料装置的受测硅芯片的第二面而沿一个径向搬移并检测受测硅芯片第一面特性；　吸取分类装置组设于基座，并自第一面吸取来自承载检测装置的受测硅芯片；第二面检测装置组设于基座，对应吸取入料装置或吸取分类装置之一；　处理装置用以接收来自承载检测装置及第二面检测装置的信息，并指令吸取分类装置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林汉声，
申请(专利权)人：中茂电子深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]