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本发明公开了一种太阳能硅芯片检测机台，用于逐片检测太阳能硅芯片，且该等受测硅芯片均具有彼此相反、且分别布设有电极的第一面及第二面，该检测机台包括基座，吸取入料装置组设于基座，并自第一面吸取受测硅芯片；承载检测装置组设于基座，承接来自吸取入料...
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