地址检测电路和地址检测方法技术

本发明专利技术提供了地址检测电路和地址检测方法。地址检测电路包括校正信号生成器，该校正信号生成器基于从光盘的摆动读出的ＡＤＩＰ（预刻槽地址）信号生成多个时序校正信号，时序校正信号彼此具有不同的周期；校正信号选择器，该校正信号选择器选择由校正信号生成器生成的时序校正信号中的一个并且输出所选择的信号；以及时序校正器，该时序校正器在根据从校正信号选择器传输的时序校正信号的时序输出基于从光盘的数据轨道读出的数据信号检测到的数据地址。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及地址检观lj电路和地址检观'J方法。
技术介绍
为了以高精确度对光盘执行数据的读取和写入，要求以高精确度 检测光盘上的位置。为了检测光盘上的位置，需要从光盘本身读出指 示光盘上的位置的地址信息。将地址信息存储在光盘中的方法包括(1)调制沿着数据轨道弯曲的摆动(wobble)的方法，和(2)将地址信息写在数据轨道上的方法。 能够通过读出被存储在光盘中的地址信息检测光盘上的位置。在光盘中，预先形成了螺旋状的数据轨道。由在光盘中形成的凹 凸部分的延伸形成数据轨道。更加具体地，在凹部分的底表面和/或凸 部分的上表面上形成数据轨道。通过沿着凸部分的延伸方向调制凸部 分的边缘形成摆动。日本未经审查的专利申请公开No.2005-50469(在下文中被称为专 利文献1)、日本未经审查的专利申请公开No.2003-85749 (在下文中 被称为专利文献2 )、以及日本未经审查的专利申请公开 No.2002-329329 (在下文中被称为专利文献3)均公布了从光盘获得地 址的技术。专利文献1公布了一种地址检测方法，该方法防止了由当由于记 录数据的状态导致地址的同步状态变得不稳定时的诸如本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种地址检测电路，包括：　校正信号生成器，所述校正信号生成器基于从光盘的摆动读出的ＡＤＩＰ（预刻槽地址）信号生成多个时序校正信号，所述时序校正信号彼此具有不同的周期；　校正信号选择器，所述校正信号选择器选择由所述校正信号生成器生 成的所述时序校正信号中的一个并且输出被选择的信号；以及　时序校正器，所述时序校正器在根据从所述校正信号选择器传输的所述时序校正信号的时序输出基于从所述光盘的数据轨道读出的数据信号检测到的数据地址。

【技术特征摘要】
JP 2008-9-18 2008-2396831.一种地址检测电路，包括校正信号生成器，所述校正信号生成器基于从光盘的摆动读出的ADIP(预刻槽地址)信号生成多个时序校正信号，所述时序校正信号彼此具有不同的周期；校正信号选择器，所述校正信号选择器选择由所述校正信号生成器生成的所述时序校正信号中的一个并且输出被选择的信号；以及时序校正器，所述时序校正器在根据从所述校正信号选择器传输的所述时序校正信号的时序输出基于从所述光盘的数据轨道读出的数据信号检测到的数据地址。2. 根据权利要求1所述的地址检测电路，进一步包括 第一数据地址保持电路，所述第一数据地址保持电路保持所述数据地址并且在根据从所述数据信号生成的数据同步信号的时序将所述 数据地址输出至所述时序校正器。3. 根据权利要求2所述的地址检测电路，其中所述时序校正器包括第二数据地址保持电路，所述第二数据地址保持电路保持并且输 出所述数据地址；和控制器，所述控制器在根据从所述校正信号选择器传输的所述时 序校正信号的时序将保持在所述第一地址保持电路中的所述数据地址 传输至所述第二数据地址保持电路。4. 根据权利要求2所述的地址检测电路，进一步包括 数据地址检测器，所述数据地址检测器从所述数据信号检测所述数据地址；和数据同步信号生成器，所述数据同步信号生成器从所述数据信号 生成所述数据同步信号。5.根据权利要求1所述的地址检测电路，其中所述校正信号生成 器包括多个判断单元，所述多个判断单元判断从所述ADIP信号检测到 的ADIP同步信号的每个周期是否是特定的周期；和多个校正信号生成单元，所述多个校正信号生成单元根据所述判 断单元的判断结果生成所述时序校正信号。6.根据权利要求5所述的地址检测电路，进一步包括ADIP地址保持电路，所述ADIP地址保持电路保持从所述ADIP信号检测到的ADIP地址，其中所述校正信...

【专利技术属性】
技术研发人员：中川贵史，
申请(专利权)人：恩益禧电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]