【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，尤其是指一种集成电路测试系统识别线束或线缆的方法及系统。
技术介绍
1、为确保芯片质量，在芯片出厂之前需要进行芯片性能测试，只有符合性能要求的芯片才会进行后续封装工序等以包装出厂。芯片测试系统通常包括装载有测试程序的测试机和与测试机通讯连接的测试电路板及搬运装置等，搬运装置依据测试机输出的测试结果将测试完成的芯片下料至相应的位置。
2、为提高测试效率，测试电路板上通常设置有多个测试位，每一个测试位均通过相应的连接线实现被测芯片与测试机的电连接，并通过测试机同时测试多个芯片。但是，测试机上各个接口与各个测试位之间的连接关系是一一对应的，人为将测试电路板上各个测试位的连接线与测试机接口接线时，可能出现将各测试位与测试机的各个接口接混，若接线接混，将会导致芯片测试结果弄混，搬运装置根据测试结果进行下料时也会随之出错。例如，测试位a原本应该连接测试机的接口a，测试位b原本应该连接测试机的接口b，如果误将测试位a与接口b连接，将测试位b与接口a连接，测试机进行测试时就会将芯片a的测试结果当作芯片b的测试结果，将...
【技术保护点】
1.一种集成电路测试系统识别线束或线缆的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统识别线束或线缆的方法，其特征在于，测试位的预设标准值的获取过程包括：
3.根据权利要求2所述的集成电路测试系统识别线束或线缆的方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求2所述的集成电路测试系统识别线束或线缆的方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求1所述的集成电路系统识别线束或线缆的方法，其特征在于，接收经过各个电阻返回的响应信号后还包括：
6.根据权利要求1所述的集成电路测试系统识别线束或线缆的方...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试系统识别线束或线缆的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统识别线束或线缆的方法，其特征在于，测试位的预设标准值的获取过程包括：
3.根据权利要求2所述的集成电路测试系统识别线束或线缆的方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求2所述的集成电路测试系统识别线束或线缆的方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求1所述的集成电路系统识别线束或线缆的方法，其特征在于，接收经过各个电阻返回的响应信号后还包括：
6.根据权利要求1所述的集成电路测试系...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐润生，陈汉生，
申请(专利权)人：胜达克半导体科技上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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