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本发明涉及一种集成电路测试系统识别线束或线缆的方法及系统，属于芯片测试技术领域。包括在测试电路板的每个测试位上分别设置阻值不同的电阻，测试机发送预设激励信号至各个测试位上的电阻，并接收经过各个电阻返回的响应信号；将各个响应信号分别与第一预设...
该专利属于胜达克半导体科技（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过胜达克半导体科技（上海）股份有限公司授权不得商用。

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