本发明专利技术是有关于一种可设定信号衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法，该系统包含一信号衰减器，一信号收发器，一信号差值推算单元与一设定单元，信号差值推算单元，取得一受测元件的一元件发送信号强度值与一元件接收信号强度值，与信号收发器的一装置接收信号强度值以计算出一信号衰减值，以及根据该信号衰减值与该元件接收信号强度值推算一装置发送信号强度值。设定单元根据装置发送信号强度与信号衰减值以各别设定信号衰减器与信号收发器。本发明专利技术可有效的降低元件测试作业所需的设备成本，可应用在具流水产线特性、且受测元件为制式化的元件测试作业中，可藉由调整信号收发器的信号输出强度，以应用于测试不同规格的受测元件。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种元件测试系统的环境参数设定方法，特别是涉及一种可设定信号 衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法。
技术介绍
在先前技术中，厂商在制造受测元件后，对每一受测元件进行一测试作业。请参 照图1，其为先前技术的元件测试系统的方框图，其是由一仪器驱动模块(Ni，National Instruments) 11、一测试主机12、一功率计(PowerMeter ；PM) 15与一信号收发器 (AP-Golden Unit ；AP-GUT) 16组成。其中，测试主机12连接仪器驱动模块11，并透过耦 合器14接连功率计15与信号收发器16。功率计15用以侦测受测元件发出的信号(如 RadioFrequency Signal，射频信号)的信号强度与信号传送的数据稳定性。在此说明，信号收发器16指一个具有标准的信号收发、调变、解调变能力的标准 样本元件，用以根据接收信号，并根据信号收发器16是否能正确、完整、调变或解调变受测 元件13发出的无线信号，测试受测元件13输出的信号的可调变性与受测元件13的传输效 能，并将接收信号结果提供给测试主机12，供测试主机12判断受测元件13是否正常运行。就上述得知，先前技术中，信号收发器16与受测元件13之间设置有一信号衰减器 17。此信号衰减器17可为信号收发器所16包含或是额外配置，信号衰减器17用以对受测 元件13与信号收发器16之间的传输的无线信号进行信号衰测行为，以同时检测受测元件 13在受信号衰减器17进行信号衰减后是否可正确的进行信号收发。先前技术中，为因应不同的元件测试，厂商配置具调变衰减信号强度能力的可调 变信号衰减器于测试系统中，以使受测元件进行不同测试时，由信号衰减器提供不同的信 号衰减数值。然而，当前的元件测试系统为流水产线形态的测试模式，且受测元件的规格多为 一致时，受测元件与信号收发器之间仅需要单一的信号衰减的规范即可，可调变信号衰减 器的信号可调变能力即无用武之地。再者，可调变信号衰减器因结合信号可调变能力，造价 不菲，使得厂商付出的设备成本难以缩减。因此，如何有效的将元件测试作业所需的设备成 本有效降低，同时维持元件测试的效率乃厂商应思考的问题。由此可见，上述现有的元件测试系统在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷， 而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之 道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切结构能够解决上 述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型的可设定信号衰减 参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前 业界极需改进的目标。有鉴于上述现有的元件测试系统存在的缺陷，本专利技术人基于从事此类产品设计制 造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种 新型的可设定信号衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法，能够改进一般现有的元件测试系统，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进 后，终于创设出确具实用价值的本专利技术。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于，克服现有的元件测试系统存在的缺陷，而提供一种新型 的可设定信号衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法，所要解决的技术问题是 使其可藉由可降低硬件成本，维持受测元件与信号收发器之间的信号衰减作业并简化元件 测试环境的信号衰减参数的设定方法，非常适于实用。本专利技术的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本专利技术提出 的一种元件测试系统的信号衰减参数设定方法，是应用于一信号衰减器连接于一受测元件 与一信号收发器之间，该信号衰减参数设定方法包含取得该受测元件的一元件发送信号 强度值；取得该信号收发器的一装置接收信号强度值；根据该装置接收信号强度值与该元 件发送信号强度值计算出一信号衰减值以设定该信号衰减器；取得该受测元件的一元件接 收信号强度值；以及根据该元件接收信号强度值与该信号衰减值计算出该信号收发器的一 装置发送信号强度值用以设定该信号收发器发送信号的强度。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。前述的元件测试系统的信号衰减参数设定方法，其中所述的信号衰减器根据该信 号衰减值调整该受测元件发送的一测试信号的信号强度。前述的元件测试系统的信号衰减参数设定方法，其中所述的信号衰减器根据该信 号衰减值调整该信号收发器发送的一响应信号的信号强度。前述的元件测试系统的信号衰减参数设定方法，其中所述的受测元件是为一受测 网络卡或一测试电路板。本专利技术的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本专利技术提出 的一种可设定信号衰减参数的元件测试系统，其包括一信号衰减器；一信号收发器；一信 号差值推算单元，是取得一受测元件的一元件发送信号强度值，与该信号收发器的一装置 接收信号强度值以计算出一信号衰减值，以及取得该受测元件的一元件接收信号强度值， 以根据该信号衰减值与该元件接收信号强度值推算一装置发送信号强度值；以及一设定单 元，用以根据该信号衰减值设定该信号衰减器，以及根据该装置发送信号强度值设定该信 号收发器发送信号的强度。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其更包含一信号强度侦测器，该信 号强度侦测器用以侦测该受测元件的该元件发送信号强度值，并传输该元件发送信号强度 值至该信号差值推算单元。前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其更包含一信号强度侦测器，该信 号强度侦测器用以侦测该受测元件的该元件接收信号强度值，并传输该元件接收信号强度 值至该信号差值推算单元。前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其更包含一信号强度侦测器，该信 号强度侦测器用以侦测该信号收发器的该装置接收信号强度值，并传输该装置接收信号强 度值至该信号差值推算单元。前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其更包含一数据库与一控制接口， 该控制接口是供输入该受测元件与该信号收发器的规格参数，以从该数据库取得对应该受 测元件的规格参数的该元件发送信号强度值与该元件接收信号强度值，及该信号收发器的 规格参数的该装置接收信号强度值，并传送至该信号差值推算单元。前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其更包含一控制接口，该控制接口 用以供输入该元件发送信号强度值、该元件接收信号强度值与该装置接收信号强度值，并 传送至该信号差值推算单元。前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其中所述的信号衰减器根据该信号 衰减值调整该受测元件发送的一测试信号的信号强度。前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其中所述的信号衰减器根据该信号 衰减值调整该信号收发器发送的一响应信号的信号强度。前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其中所述的受测元件是为一受测网 络卡、一测试电路板或一半导体的受测芯片。本专利技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上可知，为达到上述目 的，本专利技术提供了一种元件测试系统的信号衰减参数设定方法，应用于一信号衰减器连接 于一受测元件与一信号收发器之间。此方法包含取得一受测元件的一元件发送信号强度 值，取得一信号收发器的一装置接收本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种元件测试系统的信号衰减参数设定方法，是应用于一信号衰减器连接于一受测元件与一信号收发器之间，其特征在于该信号衰减参数设定方法包含：取得该受测元件的一元件发送信号强度值；取得该信号收发器的一装置接收信号强度值；根据该装置接收信号强度值与该元件发送信号强度值计算出一信号衰减值以设定该信号衰减器；取得该受测元件的一元件接收信号强度值；以及根据该元件接收信号强度值与该信号衰减值计算出该信号收发器的一装置发送信号强度值用以设定该信号收发器发送信号的强度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：骆文彬，张如容，施云严，
申请(专利权)人：宝定科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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