元件测试系统及其方法技术方案

本发明专利技术是有关于一种元件测试系统及其方法。其中，一第一测试设备侦测一第一元件被装载时测试第一元件；一第二测试设备侦测一第二元件被装载时测试第二元件；一仪器驱动模块控制一装卸模块装卸第一元件于第一测试设备，于第一测试设备测试第一元件时控制装卸模块装载第二元件于第二测试设备，藉由控制装卸模块错开装载或卸除元件于第一测试设备与第二测试设备的时间，使第一测试设备与第二测试设备达成并行执行第一元件与第二元件的元件测试作业。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，特别是涉及一种错开装载或卸除元件于 两测试设备的时间，以使两测试设备并行执行元件测试作业的。
技术介绍
先前技术中，厂商在制造受测元件后，对每一受测元件进行一测试作业。请参照图1所示，其为先前技术的元件测试系统的方框图，其是由一仪器驱动模 块11、一测试主机12、一功率计(Power Meter,PM) 15与一信号收发器16。其中，测试主机 12连接仪器驱动模块11，并通过耦合器14接连功率计15与信号收发器16。功率计15用 以侦测受测元件发出的信号(如Radio Frequency Signal，射频信号)的信号强度与信号 传送的资料稳定性。在此说明，信号收发器16指一个具有标准的信号收发、调制、解调能力的标准样 本元件，用以根据接收信号，并根据信号收发器16是否能正确、完整、调制或解调受测元件 13发出的无线信号，测试受测元件13输出的信号的可调制性与受测元件13的传输效能，并 将信号接收结果提供给测试主机12，供测试主机12判断受测元件13是否正常运行。先前技术的系统中，先以人工、或机械手臂夹持受测元件13以装载于测试主机12 的一载具，如受测元件13为一受测晶片时，载具为配置有晶片插槽(Socket)的测试电路 板；亦或，受测元件13为一受测网络卡时，载具为配置有卡片插槽(Slot)。耦合器14先被 切换以连通测试主机12与功率计15，测试主机12从仪器驱动模块11取得一驱动程序以设 定受测元件13，再控制受测元件13发出一受测信号至功率计15。功率计15是分析受测信号的信号强度以回传一信号强度资料至仪器驱动模块 11，仪器驱动模块11修正提供的驱动程序的工作参数以形成一修正程序，再提供给测试主 机12来重新设定受测元件13的工作参数。耦合器14再被切换以连通测试主机12与信号收发器16，测试主机12控制受测元 件13发出一测试资料。信号收发器16接收此测试资料，并将测试资料的接收结果回传给 测试主机12。测试主机12根据取得的接收结果以判断受测元件13是否正常运作。就上述得知，先前技术中，一套测试系统同一时间仅能测试一个受测元件。厂商为 短时间增加产能，多会增设相同的测试系统，以一次性测试多个受测元件。然而，厂商每购 置一套测试系统，仅是多增设一条受测元件的元件测试线，所制造出的受测元件的结构与 受测元件进行的测试流程皆相同，即受测元件测试效率提升了，厂商所付出的测试成本也 相对提升。因此，如何有效的降低生产成本，与提升受测元件的产能，为厂商应思考的问题。由此可见，上述现有的在产品结构、制造方法与使用上，显 然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不 费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品及方 法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此 如何能创设一种新的，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，克服现有的存在的缺陷，而提供一种 新的，所要解决的技术问题是使其可降低设备成本，并保持一定受 测元件测试效能，非常适于实用。本专利技术的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。为达到上述目 的，本专利技术提供了一种元件测试系统，此元件测试系统包含一第一测试设备、一第二测试设 备、一装卸模块与一仪器驱动模块。第一测试设备侦测经装卸模块装载的第一元件时输出一第一触发信号，并测试第 一元件，且于完成测试后输出一第一结束信号。第二测试设备侦测经装卸模块装载的第二 元件时输出一第二触发信号，并测试第二元件，且于完成测试后输出一第二结束信号。仪器 驱动模块控制装卸模块装载第一元件，于取得第一触发信号时判定第一元件被第一测试设 备所测试，同时控制装卸模块装载第二元件，于取得第二触发信号时判定第二元件被第二 测试设备所测试。仪器驱动模块于第二元件测试期间同步取得第一结束信号时，控制装卸 模块卸除第一元件，以及取得第二结束信号时控制装卸模块卸除第二元件。本专利技术所揭露的元件测试系统形成一仪器控制模块控制两个测试设备，与先前技 术相较，可减少仪器控制模块的使用数量，以降低设备成本。而且，藉由仪器控制模块可错 开对两测试设备的控制时间，使两测试设备持续无间断的对各元件受测元件进行元件测试 作业，维持一定程度的受测元件测试效能。然仪器判断装载与卸除元件于第一测试设备的时间，与装载与卸除元件于第二测 试设备的时间重叠时，仪器驱动模块先控制装卸模块执行装载或卸除元件于第一测试设备 的动作，再控制该装卸模块执行装载或卸除元件于第二测试设备的动作。本专利技术的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。另外，为达到上述目的，本专利技术还提供了一种元件测试方法，其流程包含经由一 仪器驱动模块控制一装卸模块装载一第一元件于一第一测试设备，第一测试设备于第一元 件完成被装载时，输出一第一触发信号并测试第一元件。仪器驱动模块取得第一触发信号 时判定第一元件被第一测试设备所测试，同时控制装卸模块装载一第二元件于第二测试设 备，第二测试设备在第二元件被装载时输出一第二触发信号并测试第二元件。仪器驱动模 块取得第二触发信号时判定第二元件被第二测试设备所测试，且与第一测试设备测试该第 一元件达成并行执行。借由上述技术方案，本专利技术至少具有下列优点及有益效 果本专利技术所揭露的是形成一仪器控制模块控制两个测试设备，与 先前技术相较，可减少仪器控制模块的使用数量，以降低设备成本。然而，每一测试设备在 取得元件时，对元件进行相同的元件测试。此方法中，仪器控制模块错开对两测试设备的控 制时间，使两测试设备持续实质上无间断的元件测试作业，提升一定程度的受测元件测试 的执行效率。综上所述，本专利技术是有关于一种。其中，一第一测试设备侦 测一第一元件被装载时测试第一元件；一第二测试设备侦测一第二元件被装载时测试第二元件；一仪器驱动模块控制一装卸模块装卸第一元件于第一测试设备，于第一测试设备测 试第一元件时控制装卸模块装载第二元件于第二测试设备，藉由控制装卸模块错开装载或 卸除元件于第一测试设备与第二测试设备的时间，使第一测试设备与第二测试设备达成并 行执行第一元件与第二元件的元件测试作业。本专利技术在技术上有显著的进步，并具有明显 的积极效果，诚为一新颖、进步、实用的新设计。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段， 而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够 更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。附图说明图1是先前技术的元件测试系统方框图。 图2A是本专利技术实施例的元件测试系统架构图。图2B是本专利技术实施例的元件测试系统方框图。图3是本专利技术实施例的元件测试方法的流程图。图4是本专利技术实施例的元件测试流程时序图。图5是本专利技术实施例的第一测试设备测试第一元件的流程图。图6是本专利技术实施例的第二测试设备测试第二元件的流程图。图7是本专利技术实施例的元件接续测试流程图。图8是本专利技术实施例的元件接续测试的另一流程图。图9是本专利技术实施例的元件装卸时间重叠的执行流程图。11仪器驱动模块12测试主机13受测元件14華禹合器15功率计1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种元件测试系统，其特征在于其包含：一装卸模块；一第一测试设备，侦测经该装卸模块装载的一第一元件时输出一第一触发信号，并测试该第一元件，于完成测试后输出一第一结束信号；一第二测试设备，侦测经该装卸模块装载的一第二元件时输出一第二触发信号，并测试该第二元件，于完成测试后输出一第二结束信号；以及一仪器驱动模块，连接该第一测试设备、该第二测试设备与该装卸模块，该仪器驱动模块控制该装卸模块装载该第一元件，于取得该第一触发信号时判定该第一元件被该第一测试设备所测试，同时控制该装卸模块装载该第二元件，于取得第二触发信号时判定该第二元件被该第二测试设备所测试，以及于该第二元件测试期间同步取得该第一结束信号时控制该装卸模块卸除该第一元件，与取得该第二结束信号时控制该装卸模块卸除该第二元件。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：骆文彬，刘钊平，施云严，
申请(专利权)人：宝定科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]