打印机芯片测试系统技术方案

技术编号:4112000 阅读:380 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术提供一种打印机芯片测试系统,包括微控制器以及与所述微控制器连接的电源控制电路、输入控制电路、结果显示电路和信号控制电路;所述信号控制电路与打印机连接,模拟打印机的开合并提取打印机检测芯片信号的结果;所述输入控制电路与键盘或计算机连接,提供给控制测试的输入对象;所述电源控制电路与外部电源连接以提供电源;所述微控制器接收电源控制电路和输入控制电路的信号,测试信号控制电路提取的结果并发送给结果显示电路;所述结果显示电路显示系统测试的结果。本实用新型专利技术具有测试结果准确、快速测试、低成本的优点。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种芯片测试系统,具体地说,涉及一种对安装在打印机上的芯 片进行测试的系统。
技术介绍
目前的打印机处理盒上大都安装有可与打印机进行信号传输以及信息存储功能 的芯片。为了保证芯片正常工作,往往需要对芯片进行测试以检验其各项功能是否合格, 测试芯片的方法有两种一种是采用专门的功能测试仪,另一种是用打印机对芯片测试,用 专门的功能测试仪来测试芯片的结果与用打印机测试的结果往往不一致,测试结果不够准 确;因此常用的方法是直接利用打印机对芯片进行测试,该方法测试芯片的结果较专门功 能测试仪的结果准确,然而由于打印机在工作前,先要进行预热和就绪的过程,需要较长时 间才能得出测试结果,采用此方法的检验速度慢;而且在上述预热和就绪过程中,打印机上 的齿轮组等易耗件的损耗较大,导致用打印机测试的成本增加;另外,利用该方法测试只有 等到打印机就绪后才显示测试结果,且芯片的数据被改写,即改变芯片参数,给以后的使用 带来不便。
技术实现思路
本技术的主要目的是提供一种准确、快速、低成本的打印机芯片测试系统。为实现上述目的,本技术提供的打印机芯片测试系统包括微控制器以及与微 控制器连接的电源控制电路、输入控制电路、结果显示电路和信号控制电路。信号控制电路 包括开关控制部分和信号采集部分,开关控制部分具有一个用于与打印机合盖开关并联的 输出端;信号采集部分具有一个与打印机连接以获得打印机测试芯片结果的连接端。输入 控制电路用于用户输入控制,微控制器通过控制开关控制部分接收信号采集部分的信号并 将结果输出给结果显示电路。由以上方案可见,本技术提供的芯片测试系统利用信号控制电路中信号采集 部分的连接端与打印机相应信号线连接,从而快速准确地获取打印机对芯片的调制信号、 解调信号和同步信号,并通过开关控制部分中与打印机合盖开关并联的输出端实现对打印 机合盖开关时间的准确控制,用户能够在很短时间内得出测试结果,而且保证了测试结果 与打印机测试结果的一致。通过输入控制电路,操作用户可用按键控制对芯片的测试操作; 通过结果显示电路,用户还能够及时看到测试的结果,操作简便,由于直接利用了打印机采 集芯片的信号,在完成测试后断开打印机的开关,既不会将测试结果写入芯片,同时保护了 打印机的易耗件,测试参数更准确、节约成本。附图说明图1是本技术的系统结构原理框图;图2是本技术第一实施例的电路原理图;图3是本技术第二实施例的电路原理图;图4是本技术第三实施例的电路原理图。以下结合各实施例及其附图对本技术作进一步说明。 A-打印机芯片测试系统,B-打印机,1-微控制器(MCU),2-电源控制电路,3-输入控制电路,4_结果显示电路,5_信号 控制电路,51-开关控制部分,52-信号采集部分,6-打印机合盖开关(SW),7_打印机芯片电 触点组,8-外部电源,9-外接探针。具体实施方式参见图1,打印机芯片测试系统A与打印机B连接并通过外部电源8接电,被测芯 片与信号控制电路5中的外接探针9连接后即可进行测试。其中,打印机芯片测试系统A 由微控制器1及与微控制器1连接的电源控制电路2、输入控制电路3、结果显示电路4和 信号控制电路5组成,信号控制电路5包括开关控制电路51和信号采集电路52,开关控制 电路51具有与打印机合盖开关并联的输出端,信号采集电路52具有与打印机连接以获得 打印机测试芯片结果的连接端,作为实现本技术的具体实施例如下第一实施例参见图2,打印机芯片测试系统A包括微控制器1以及与微控制器1连接的电源控 制电路2、输入控制电路3、结果显示电路4和信号控制电路5 ;信号控制电路5包括开关控制部分51和信号采集部分52,开关控制部分51包括 继电器J、电阻Rl、二极管D和三极管Q,电阻Rl是三极管Q的基极偏置电阻,Rl的两端分 别与微控制器1的输入/输出端IOl和三极管Q的基极连接,三极管Q的发射极接地GND, 集电极通过继电器J与电源VCC连接,继电器J与二极管D并联,继电器J的开关K作为输 出端与打印机合盖开关6并连;信号采集部分52包括电阻R2、电阻R3、电阻R4和外接探针 9,电阻R2的一端与微处理器1的输入/输出端口 102连接,电阻R3的一端与微处理器1 的输入/输出端口 103连接,电阻R4的一端与微处理器1的输入/输出端口 104连接,电 阻R2、R3和R4的另一端作为连接端与打印机连接,其中电阻R2的另一端与从打印机B引 出的同步时钟信号CLK连接,电阻R3的另一端与打印机B上引出的调制数据SDAl连接,电 阻R4的另一端与打印机B上引出的解调数据SDA2连接,微控制器1的GND端口与打印机 接地端口连接,打印机芯片电触点组7直接引出外接探针9作为测试芯片的连接触点,即外 接探针9与微控制器1没有电连接关系,此时检测结果较为准确。电源控制电路2 —端与外部电源8连接,另一端连接微控制器1以给其提供电源。输入控制电路3为控制测试开始和结束的两个按键。微控制器1接收电源控制电路2提供的电源和输入控制电路3的信号,通过控制 信号控制电路5中开关控制部分51的导通和截止,实现对打印机开盖合盖的准确控制,同 时检测信号控制电路5中信号采集部分52获得的结果并将其发送给结果显示电路4 ;结果 显示电路4将测试结果通过LED指示器显示出来。开关控制部分实现电子开关的原理如下当微控制器1的IOl端口输出低电平时,三极管Q截止,继电器线圈中无电流,因 此继电器开关K处于常开状态,此时模拟的是人为打开打印机盖(打印机B不运行)的效果;当微控制器1的101端口输出高电平时,三极管Q导通,电源VCC的电流经继电器线圈、 三极管集电极、三极管发射极到地GND,因此继电器J的开关K闭合,此时模拟的是人为合上 打印机盖(打印机B运行)的效果;当微控制器1的101端口再次输出的低电平时,三极管 Q截止,继电器线圈由于忽然断电使它产生反向电压,此时与继电器反相并联的二极管D起 到续流的作用,消耗该反向电压的能量,避免对其他的器件产生破坏。测试过程如下连接打印机B电源,打开打印机电源开关,先使打印机合盖开关(SW)6断开,连接 控制盒电源,探针接上芯片,用户可通过输入控制电路3选择键盘或计算机控制测试过程 微控制器1的101端口输出高电平,三极管Q导通,电源VCC的电流经继电器线圈、三极管 集电极、三极管发射极到地GND,因此继电器J的开关K闭合,此时打印机B开始运行,开始 测试,信号采集电路52和输入控制电路3开始工作,在测试过程中,微控制器1在同步时钟 CLK的同步作用下,接收调制数据SDA1和接收解调数据SDA2,由于解调数据SDA2反应了芯 片的返回数据效果,因此通过测试解调数据SDA2的数据规格和数据校验可以准确地判断 所测试的芯片是否合格,还可以通过测试SDA1或SDA2的数据重复特性来判断芯片是否合 格。测试结束后,微控制器1的101端口输出低电平,继电器开关K断开,打印机B停止运 行;微控制器1通过结果显示电路4把测试结果输出显示。第二实施例作为本技术实施例的一种变换,信号控制电路5的开关控制部分51中还可以 采用光耦作为电子开关,如图3所示,即采用如下结构打印机芯片测试系统A包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
打印机芯片测试系统,其特征在于:所述测试系统包括微控制器(1)以及与所述微控制器(1)连接的电源控制电路(2)、输入控制电路(3)、结果显示电路(4)和信号控制电路(5);所述信号控制电路(5)包括开关控制部分(51),其具有一个用于与打印机合盖开关并联的输出端;信号采集部分(52),其具有一个与打印机连接以获得打印机测试芯片结果的连接端;所述输入控制电路(3)用于用户输入控制;所述微控制器(1)通过所述控制开关控制部分(51)接收所述信号采集部分(52)的信号并将结果输出给所述结果显示电路(4)。

【技术特征摘要】
打印机芯片测试系统,其特征在于所述测试系统包括微控制器(1)以及与所述微控制器(1)连接的电源控制电路(2)、输入控制电路(3)、结果显示电路(4)和信号控制电路(5);所述信号控制电路(5)包括开关控制部分(51),其具有一个用于与打印机合盖开关并联的输出端;信号采集部分(52),其具有一个与打印机连接以获得打印机测试芯片结果的连接端;所述输入控制电路(3)用于用户输入控制;所述微控制器(1)通过所述控制开关控制部分(51)接收所述信号采集部分(52)的信号并将结果输出给所述结果显示电路(4)。2.根据权利要求1所述的打印机芯片测试系统,其特征在于所述开关控制部分(51)包括继电器J、电阻R1、二极管D和三极管Q,所述电阻Rl的两 端分别与微控制器(1)的输入/输出端IOl和三极管Q的基极连接,三极管Q的发射极接 地GND,集电极通过继电器J与电源连接,继电器J与二极管D反相并联,继电器J的开关K 为所述输出端。3.根据权利要求1所述的打印机芯片测试系统,其特征在于所述开关控制部分(51) 包括光耦和电阻R1,所述光耦的两端分别与微控制器(1)的输入/输出端口和电阻Rl连 接,光耦的输出集电极和发射极为所述输出端,电阻Rl的另一端与电源连接。4.根据权利要求1所述的打印机芯片测试系统,其特征在于所述开关控制部分(51)包括单向可控硅和电阻R1,电阻Rl —端与微控制器(1)的输 入/输出端口 IOl连接,另一端与单向可控硅的控制极G连接,单向可控硅的阴极K、阳极A 为所述输出端。5.根据权利要求1 4中任意一项所述的打印机芯片测试系统,其特征在于所述信号采集部分(52)包...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢立功
申请(专利权)人:珠海天威技术开发有限公司
类型:实用新型
国别省市:44[中国|广东]

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