内径测量器制造技术

技术编号:4122752 阅读:261 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种内径测量器。该内径测量器包括具有与主体(10)螺纹配合的外螺纹(14)且沿轴向进退的测杆(15)、设置于主体(10)上且沿与测杆(15)的轴向大致正交的方向进退的多个测量触头(22)、和设置在这些测量触头(22)与测杆(15)之间且随着测杆(15)的轴向的进退使测量触头(22)沿与测杆(15)的轴向大致正交的方向进退的圆锥构件(23),测杆(15)的外螺纹(14)的导程形成为1.0mm以上,而且圆锥构件(23)的圆锥角形成为小于53度。优选外螺纹(14)的导程为2.0mm,圆锥构件(23)的圆锥角为大致28度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种内径测量器
技术介绍
作为测量被测量物的内径的装置,公知有被称作孔径测量 器的内径测量器。该内径测量器包括主体、具有与该主体螺紋 配合的螺紋部且沿轴向进退的测杆、设置于主体且沿与测杆的 轴向大致正交的方向进退的多个测量触头、和设置在这些测量 触头与测杆之间且随着测杆的轴向的进退使测量触头沿与测杆的轴向大致正交的方向进退的圆锥构件(例如,参照文献l: 曰本实开昭60 - 41811号公报)。以往,在该内径测量器中,设置于测杆的螺紋部的导程为 0.5mm,而且为了使测量触头的移动量与测杆的进退量相等, 圆锥构件的圆锥角a通常为大致53度。即,(一个测量触头的移 动量)=(测杆的进退量)xtan(ax1/2),由于tan(53x 1/2)^0.5,因此,通过使圆锥角a为大致53度,测量触头的 移动量(多个测量触头中的两个测量触头的移动量的合计)与 测杆的进退量相等。但是,在这样的内径测量器中,由于测杆的螺紋部的导程 为0.5mm,因此,测量者在测量很多的大小各异的被测量物时, 为了使测量触头进退而需要使测杆的螺紋部旋转许多圈,存在 操作性及作业效率较差这样的问题。为了解决这些问题,增大圓锥构件的圆锥角即可,例如在 使圓锥角为90度的情况下,即使测杆转动与以往相同的旋转圈 数,也能够使测量触头进退以往的大致2倍的量。但是,由于随着圆锥角变陡峭而测量触头在圆锥构件的圆 锥面上滑动时对滑动面施加的负荷增大,测量触头在圆锥构件 上滑动的部分产生的摩擦力大于以往,因此,有可能导致测量 触头及圓锥构件的耐久性降低。另外,以往测杆的移动量与传 递到测量触头的移动量为相同的比率,但若圆锥构件的圆锥角 变大,则测杆的移动量被传递到测量触头时会放大。即,由于 以测杆较少的移动量使测量触头移动较大,因此,存在测量精 度恶化这样的问题。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种提高测量被测量物时的操 作性、作业效率及测量精度、并能够使在测量触头与圆锥构件 之间产生的摩擦力为最小限度来提高耐久性的内径测量器。本专利技术内径测量器的特征在于,包括主体、具有与该主体 螺紋配合的螺紋部且沿轴向进退的测杆、设置于上述主体上且 沿与上述测杆的轴向大致正交的方向进退的多个测量触头、和 设置在这些测量触头与上述测杆之间且随着上述测杆的轴向的 进退使上述测量触头沿与上述测杆的轴向大致正交的方向进退的圆锥构件,上述测杆的螺紋部的导程形成为l.Omm以上,而 且上述圆锥构件的圆锥角形成为小于53度。采用该构造,由于沿轴向进退的测杆的螺紋部的导程为 l.Omm以上,因此,与以往相比,测杆每旋转l圈时测杆沿轴 向的进给量增多,测量被测量物时不必使螺紋部旋转量太多, 能够提高作业效率及操作性。另外,由于圆锥构件的圆锥角小于53度,与圆锥角为90度 时相比,测量触头在与测量触头的轴向大致正交的方向上的移 动量小于测量触头的移动量,因此,能够减小测量误差。并且,由于测量触头与圆锥构件的圆锥面接触地移动的距离变大,圆 锥构件与测量触头滑动时产生的每单位移动量的摩擦力变小,因此,能够提高耐久性。本专利技术的内径测量器优选上述测量触头的螺紋部的导程形成为2.0mm,而且上述圓锥构件的圆锥角为大致28度。这里所说的大致28度是指满足tan(圓锥角x 1/2) =0.25 的值(大约28.0724869…度)。在以往的导程为0.5mm、圆锥角为53度的结构中,为了使 测量触头沿与测杆的轴向大致正交的方向移动l.Omm,需要使 测杆旋转2圏。相对于此,在本专利技术的结构中,由于导程为 2.0mm、圆锥角为28度,测杆随着1圈的旋转而进退2.0mm, 随之一个测量触头移动2.0 x tan ( 28 x 1 / 2 ) "0.5mm。为了 考虑到两个测量触头成对地动作而4吏测量触头移动1.0mm,测 杆《又旋转1圈即可。因而,能够使测杆以比以往更少的旋转圏 数使测量触头移动l.Omm,从而能够提高作业效率及操作性。 另外,采用本专利技术的结构,与以往相比,测量触头与圆锥构件 的圓锥面接触地移动的距离变大,圆锥构件与测量触头滑动时 产生的每单位移动量的摩擦力变小,因此,能够提高耐久性。附图说明图l是本专利技术的一实施方式的孔径测量器的分解立体图。 图2是上述孔径测量器的剖视图。具体实施方式下面,根据附图说明本专利技术的一个实施方式。 图l是作为本实施方式的内径测量器的孔径测量器1的分 解立体图,图2是孔径测量器1的剖视图。在图l中,孔径测量器1包括主体10和多个测头20A、 20B。 测头20A、 20B根据被测量物的内径来选择。 主体10的结构主体lO包括方形外壳ll、互相同轴地安装在外壳ll的两端 面大致圆筒状的套筒12A、 12B、与套筒12B的内周面螺紋配合 且沿轴向进退的测#干15、;险测测杆15的轴向上的移动量的#:测 部件16、使测杆15进退的测孩i套筒17、设置在测杆15的基端侧 且在对测杆15施加^见定以上的负载时^f吏测孩史套筒17相对于测 杆15空转的定压机构18。外壳11包括数字显示由检测部件16检测出的测杆15的轴 向上的移动量的显示部111。在套筒12A上形成有供测头20A、 20B中的任一测头螺紋配 合的外螺纟丈121。在套筒12B的外周面安装有外侧套筒19,在 套筒12B的内周面形成有内螺紋13。在外侧套筒19的外周面, 沿着轴向设有刻度(省略图示)。在测杆15的基端侧形成有用于与套筒12B的内螺紋13螺紋 配合的外螺紋14,进一步朝向基端侧而形成有锥形轴部151。 在此,外螺紋14的导程形成为2.0mm。另外,在测杆15的轴向 上的大致中央部,沿着轴向形成有卡合槽153。在锥形轴部151上自测杆15的基端侧嵌套有测微套筒17, 测微套筒17以覆盖外侧套筒19的方式安装。在测微套筒17的外 周面,沿着圆周方向设有由其与外侧套筒19的刻度的关系表示 测杆15的移动量的刻度(省略图示)。在锥形轴部151的内部形 成有螺孔152。检测部件16包括由定子162、定子村套163、转子衬套164 及转子165构成的所谓的回转式编码器、和基于回转式编码器 的输出信号来计算测杆15的移动量并将其变换为后述的测量触头的移动量的未图示的运算部件。定子162隔着定子衬套163套在测杆15上,并通过定子衬套 163嵌合固定于套筒12B的顶端。转子衬套164被套在测杆15上并具有卡合于测杆15的卡合 槽153的卡合销161,由此,转子衬套164与测杆15 —体地旋转。转子165被套在测杆15上,并且与转子衬套164配合,与转 子衬套164—体旋转。该转子165输出表示该转子165相对于定 子162的相对角度的相对角度信号。未图示的运算部件由自转子165输出的相对角度信号计算 测杆15的旋转量,由该测杆15的旋转量与外螺紋13的导程计算 测杆15的移动量。由运算部件计算的测杆15的移动量在被变换 为测量触头的移动量之后,数字显示在显示部lll中。定压机构18是将测微套筒17的旋转传递到测杆15并对测 杆15施加规定以上的负载时,通过使测微套筒17相对于测杆15 空转而使测量压恒定的机构。该定压机构18包括与螺孔15 2螺 紋配合的支承轴181、被该支承轴181可旋转地本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种内径测量器,其特征在于, 包括: 主体; 测杆,具有与该主体螺纹配合的螺纹部,沿轴向进退; 多个测量触头,设置于上述主体上,沿与上述测杆的轴向大致正交的方向进退; 圆锥构件,设置在这些测量触头与上述测杆之间 ,随着上述测杆的轴向的进退使上述测量触头沿与上述测杆的轴向大致正交的方向进退; 上述测杆的螺纹部的导程形成为1.0mm以上,而且上述圆锥构件的圆锥角形成为小于53度。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:藤川勇二太刀挂正彦松本光司林田秀二
申请(专利权)人:株式会社三丰
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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