【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及在显微镜、图像测定装置、图像测定探针等中使用的光学装置。
技术介绍
1、已知一种光学装置，具备：成像透镜，其设置于物镜与摄像装置之间的光路；分束器，其沿着物镜的光轴设置；同轴落射照明光学系统，其构成为能够经由分束器对摄像对象进行照明，并且配置于与配置有成像透镜的光路不同的光路。在这样的光学装置中，从同轴落射照明光学系统透过分束器的无用光的一部分经由成像透镜照射到摄像装置，产生光斑。
2、于是，在专利文献1中，尝试通过将透过分束器的无用光照射于植毛布来吸收无用光从而防止光斑。但是，由于植毛布不仅产生污染，而且反射率不为零，因此如果想要确保同轴落射照明的亮度，则产生光斑，其效果不充分。
3、并且，在专利文献2中，尝试通过使透过分束器的无用光向与分束器(在文献中记载为半透半反镜)大致平行或成直角的方向反射来防止光斑。但是，在专利文献2中，反射的光进入包含成像系统的光轴在内的面内，因此成为新的光斑光。例如向与分束器大致平行的方向反射的光入射到成像透镜，容易作为光斑映入。向与分束器成直角的方向反射的光也因为入射到物镜而产生照明不均，或者由于照射到框、垫片等部件的光发生反射、散射而作为光斑映入。特别是如果想要实现光学装置整体的小型化，屈光力大的透镜密集地排列，因此上述光斑光受到聚光作用，反而可能发生过于明显的现象。
4、现有技术文献
5、专利文献
6、专利文献1：(日本)特开2013－140032号公报
7、专利文献2：(日本)实开平7－014412号公报
8、专利文献3：(日本)特开2015－127776号公报
技术实现思路
1、专利技术所要解决的技术问题
2、本专利技术的目的在于提供一种光学装置，能够抑制同轴落射照明时的光斑的产生。
3、用于解决技术问题的技术方案
4、本专利技术一实施方式的光学装置具备：成像透镜，其设置于物镜与摄像装置之间的光路，并且将经由所述物镜而入射的光成像于所述摄像装置的摄像面；分束器，其沿着所述物镜的光轴设置；同轴落射照明光学系统，其构成为能够经由所述分束器对摄像对象进行照明，并且配置于与配置有所述成像透镜的光路不同的光路；光阻尼器，其具有阻尼面。所述分束器、所述成像透镜以及所述摄像装置沿着所述物镜的光轴配置。所述同轴落射照明光学系统的光轴与所述物镜的光轴正交。所述分束器和所述光阻尼器沿着所述同轴落射照明光学系统的光轴配置。所述阻尼面的法线方向与所述物镜的光轴正交，相对于所述同轴落射照明光学系统的光轴倾斜，并且不与所述同轴落射照明光学系统的光轴正交。
5、本专利技术的另一实施方式的光学装置具备：成像透镜，其设置于物镜与摄像装置之间的光路，并且将经由所述物镜而入射的光成像于所述摄像装置的摄像面；分束器，其沿着所述物镜的光轴设置；同轴落射照明光学系统，其构成为能够经由所述分束器对摄像对象进行照明，并且配置于与配置有所述成像透镜的光路不同的光路；光阻尼器，其具有阻尼面。所述分束器和所述同轴落射照明光学系统沿着所述物镜的光轴配置。所述成像透镜的光轴与所述物镜的光轴正交。所述摄像装置、所述分束器以及所述光阻尼器沿着所述成像透镜的光轴配置。所述阻尼面的法线方向与所述物镜的光轴正交，相对于所述成像透镜的光轴倾斜，并且不与所述成像透镜的光轴正交。
6、根据本专利技术，能够提供一种光学装置，能够抑制同轴落射照明时的光斑的产生。
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1.一种光学装置，具备：
2.一种光学装置，具备：
3.根据权利要求1或2所述的光学装置，
4.根据权利要求1或2所述的光学装置，
5.根据权利要求4所述的光学装置，
6.根据权利要求4所述的光学装置，
7.根据权利要求6所述的光学装置，
【技术特征摘要】
1.一种光学装置，具备：
2.一种光学装置，具备：
3.根据权利要求1或2所述的光学装置，
4.根据权利要求1或2所述的...
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