株式会社三丰专利技术

株式会社三丰共有820项专利

  • 一种电子位置编码器,包括标尺和检测器。该检测器包括磁场产生线圈(FGC),该磁场产生线圈具有界定产生磁场区域的细长部分和感测区域,两者都沿着标尺对准。感测区域中的感测元件响应于与所产生的磁场相互作用的标尺而提供位置信号。感测元件和细长部...
  • 一种电子位置编码器包括标尺和检测器。该检测器包括磁场产生线圈(FGC),该磁场产生线圈具有细长部分配置(EPC),该细长部分配置限定了与感测区域中的感测元件对准的磁场产生区域(GFA),以响应于与所产生的磁场相互作用的标尺来提供位置信号...
  • 一种电子位置编码器包括标尺和检测器。该检测器包括磁场产生线圈(FGC),该磁场产生线圈具有细长部分(EP),该细长部分限定了与感测绕组对准的所产生磁场区域(GFA),以提供对与所产生的磁场相互作用的标尺做出响应的位置信号。感测元件和EP...
  • 本发明提供一种标尺,其能够在长期抑制腐蚀的同时,在测量中维持高测量精度。标尺具有基材、在所述基材的主面以规定的周期排列的标尺图案、以及覆盖所述标尺图案且至少一部分为单分子氟化合物的氟膜。
  • 本发明涉及使用多传感器光学轮廓仪来测量测试表面的高度图的方法。该方法包括:通过设置于光学轮廓仪的具有相对长的工作距离和/或大的视野的预映射传感器来测量测试表面的粗糙高度图;将粗糙高度图存储在存储器中;将粗糙高度图细分为多个部分,以适合于...
  • 一种三维几何形状测量装置100,包括:虚拟坐标识别部402,其通过将参考仪器上的特征点虚拟投影到拍摄器件的像面上来识别与像面中的特征点相对应的虚拟拍摄像素的坐标;校正部403,其生成用于校正测量目标拍摄图像中包括的测量目标拍摄像素的坐标...
  • 本发明涉及焦距可变光学系统。焦距可变光学系统(10)具备:成像透镜(3),对来自物镜(2)的平行光束进行汇聚并形成中间像;中继系统(4),从物体侧起依次包含第一中继透镜(41)以及第二中继透镜(42)并将中间像中继到无限远;以及液体共振...
  • 提供了一种旋转编码器,其能够在实现小型化的同时确保足够的合成容限。旋转编码器(1)包括转子(3)、定子(4)和用于计算旋转角度的计算单元(5)。转子(3)具有第一转子图案(31)和第二转子图案(32),第一转子图案具有沿着围绕旋转轴(2...
  • 一种电磁感应型编码器包括检测头和标尺。所述检测头具有相对于第一轨道产生磁通量的第一收发器线圈以及相对于第二轨道产生磁通量的第二收发器线圈。所述标尺具有相对于第一轨道的第一多个周期性元件以及相对于第二轨道的第二多个周期性元件。所述检测头具...
  • 一种适配器光学系统及焦距可变光学系统,适配器光学系统(1A)是将由对象物(S)反射而通过成像透镜(2A)的反射光引导至液体共振式透镜(3)的光学系统,并具备:可拆装地配置在通过成像透镜(2A)的反射光入射的位置,并构成像侧远心光学系统的...
  • 一种三维几何形状测量装置,包括:初步测量部412,其产生指示参考仪器上的参考点的三维坐标的多个初步测量数据;参考数据产生部43,其产生参考数据;计算部44,其基于参考数据和与参考数据不匹配的初步测量数据,来计算校正值;目标测量部411,...
  • 提供了激光装置110、测量装置100和测量方法,其中激光装置110输出具有多种模式的调频激光束且包括:光学腔,其具有用于放大要输入的光的增益介质114,以及用于移位由增益介质放大的光的频率的光学SSB调制器30;以及控制部件50,其控制...
  • 一种设有透明工件表面模式的计量系统,对于该计量系统,该系统被配置为在沿着Z高度方向靠近工件的多个位置上改变聚焦位置。获取图像堆栈,其中图像堆栈的每个图像包括透明或半透明的第一表面(例如工件的上表面)以及通过第一表面至少部分可观察的至少第...
  • 本发明提供用于确定工件的两点大小的方法和设备。一方面涉及一种用于确定工件(30)的两点大小的计算机实现的方法,该方法包括以下步骤:接收工件(30)的测量点的集合(50);基于测量点的集合(50)来确定工件(30)的纵轴(L);将测量点的...
  • 标尺包括沿着测量轴线以给定间隔排列的多个导体,其中多个导体中的每一个具有突出部分,每个突出部分朝向测量轴线的每一侧突出,并且其中每个突出部分的至少一部分具有在测量轴线上突出的弯曲部。
  • 公开了一种用于测量测试表面的高度图的方法,该方法使用包括预扫描传感器和高度测量传感器的多传感器设备来进行测量,所述测试表面具有变化的反射率。多传感器设备还包括被配置为对测试表面进行照明的一个或多个光源以及空间光调制器。空间光调制器被放置...
  • 本发明涉及焦距可变透镜装置以及焦距可变透镜控制方法。焦距可变透镜装置(1)具备:液体谐振式的透镜系统(3),折射率根据输入的驱动信号(Cf)而变化;温度传感器(8),获取透镜系统(3)的温度信息;以及驱动控制部(61),控制透镜系统(3...
  • 一种激光加工装置(1),其具有:焦距可变光学系统(10),其根据输入的驱动信号(Cf)使对焦位置(Pf)周期性地变化;位置检测用光源(41),其经由焦距可变光学系统(10)向工件(W)照射检测光;光检测器(44),其接收在工件(W)被反...
  • 本发明涉及高度测定方法以及高度测定装置。高度测定装置具有:液体谐振式的透镜系统(3);将驱动信号(Cf)输出到透镜系统(3)的透镜控制部(6);对工件进行连续照明的连续照明部(5);通过透镜系统(3)检测工件的图像的图像检测部(4);根...
  • 公开了一种用于操作坐标测量机(CMM)的方法,所述坐标测量机CMM包括CMM控制系统、表面扫描探头、以及探头测量定时子系统,该方法包括:操作CMM控制系统以在可预测的时间输出测量同步触发信号;操作探头测量定时子系统以确定所述可预测的时间...
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