株式会社三丰专利技术

株式会社三丰共有917项专利

  • 目的是在电磁感应型编码器中使用具有低功耗的单个电源利用不同电压的分别激励发送线圈。编码器的检测头包括电压调节电路和多个激励电路。激励电路包括谐振电路,该谐振电路包括串联连接的驱动电容器和发送线圈,并且通过在驱动电容器被充电的状态下连接谐...
  • 提供一种即使标尺图案的图案被划伤也能够保持测量精度的标尺。标尺(2)包括标尺图案(4),标尺图案(4)在其表面上具有沿着测量方向以预定间距设置的多个单元图案。多个单元图案中的至少一个包括由环形导体形成的多个环形部分(8)。包括在单元图案...
  • 本发明涉及光学装置和光学式测量机。光学装置(10)有:第1透镜保持件(4),其保持准直透镜(21);第2连结块(7),其支承第1透镜保持件;第2透镜保持件(6),其支承光成形透镜(22);圆柱状的辊(9),其夹在第2连结块和第2透镜保持...
  • 一种色点传感器(CPS)光学笔,提供可用于测量距一表面的距离的信号,并且包括轴向色差部分,该轴向色差部分被布置成接收来自孔的源辐射,将其作为具有轴向色散的聚焦测量光束向表面输出,接收来自表面的反射辐射并将其聚焦在孔附近。轴向色差部分包括...
  • 一种形状测量设备的控制方法和记录介质,形状测量设备用平移移动机构和旋转驱动机构使探测器和工件相对移动以通过使探测器沿预设扫描路径移动来扫描测量工件。方法包括:操作员设置扫描路径和旋转驱动机构的转动角度命令;将关于扫描路径的数据分割成多个...
  • 提供了使不必要的电力消耗最小化并改善电力效率的位移测量装置。位移测量装置包括:主标尺;以及检测头,其以相对于主标尺可相对位移的方式设置,并输出具有根据相对于所述主标尺的相对位移而改变的相位的周期信号。检测头输出作为周期信号的、具有粗周期...
  • 本发明的可变焦距镜头装置包括:可变焦距镜头,焦距(Df)根据被输入的驱动信号(Cf)而周期性地变化;图像检测单元,通过可变焦距镜头,检测测量对象物的图像;脉冲照明单元,脉冲发光而照明测量对象物;以及发光控制单元,基于与可变焦距镜头的指定...
  • 本发明涉及一种分析设备、分析方法、干涉测量系统和存储介质。该分析设备(200)包括:获取部(210),其从干涉测量设备获取基于参考面(132)和测量对象物体(10)的表面之间的多个光路长度的多个干涉图像;计算部(230),其分别计算多个...
  • 本发明涉及一种分析设备、分析方法、干涉测量系统和存储介质。该分析设备(200)包括:获取部(210),用于从干涉测量设备获取基于具有多个不同波长的光的多个干涉图像;去除部(230),用于通过去除多个干涉图像中的各像素的干涉信号中所包含的...
  • 机器人使用辅助度量位置坐标确定(SMPD)系统。“机器人精度”(例如,用于控制和感测安装在其可动臂结构远端附近的末端工具的末端工具位置)是基于机器人中包括的机器人位置传感器。SMPD系统包括成像结构和XY标尺以及用于感测二者间的对准/未...
  • 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法,包括:载置工序,将校正治具载置于旋转台;移动位置获取工序,使第j个球的位置相对于第1个球的位置平行移动,向校正治具照射X射线,并从X射线图像检测器的输出中获取第j个球的投影像的重心位置相对于第1个...
  • 图像检测装置(1)具有:焦点位置周期性变化的液体共振型的透镜系统(3);图像检测单元(4),通过透镜系统(3)对拍摄区域的检测图像(Im)进行检测;脉冲照明单元(5)与焦点位置同步地对拍摄区域进行脉冲照明;以及发光控制单元(62),基于...
  • 本发明涉及一种图像检测装置、脉冲照明装置以及脉冲照明方法。所述图像检测装置包括:焦点位置周期性地变化的液体谐振式的透镜系统(3);通过透镜系统(3)检测对象物的图像的图像检测部(4);与焦点位置同步地对对象物进行脉冲照明的脉冲照明部(5...
  • 本发明涉及一种X射线CT装置及其校正方法和装置、测定方法和装置,在使尺寸预先已知的球形校正治具(30)与被检体(W)接触的状态下进行CT扫描来生成体数据,获取该体数据中的被检体(W)表面形状的轮廓,并且根据球形校正治具(30)的中心坐标...
  • 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法,包括:前段特征位置计算工序,将配置于N个部位的球的平行移动进行多次,确定处于N个部位的球各自的投影像的重心位置;单独矩阵计算工序,针对球分别计算单独投影矩阵;单独位置计算工序,基于单独投影矩阵来计...
  • 本发明提供一种测量用X射线CT装置。测量用X射线CT装置在X射线源与X射线检测器之间具备用于搭载测定对象的旋转台以及扫描机构,该测量用X射线CT装置在预先校正X射线源的焦点、X射线检测器和旋转台的旋转中心的几何位置关系的基础上向测定对象...
  • 本发明提供了粗糙度测试仪,其提高了测量效率和粗糙度测量精度。粗糙度测试仪包括:触针单元,其包括触针和触针位移检测单元,触针以从滑动部的通孔突出和缩回到通孔中的方式设置并且沿着工件的表面进行扫描运动,触针位移检测单元被构造为检测触针的位移...
  • 本发明提供一种检查方法、校正方法以及检查装置。能够简单地执行对三维激光扫描仪的检查。提供包括以下步骤的检查方法、校正方法以及检查装置:通过向检查装置的第一区域照射激光,来测定第一区域中被照射了激光的第一空间位置;检查装置测定第一区域中被...
  • 测量装置300包括:激光装置110;分支部件120,将调频激光束分支为参考光和测量光;差拍信号生成部件150,通过混合参考光和反射光来生成差拍信号,该反射光是照射到待测对象10上的测量光;第一分析部件310,基于差拍信号来分析与参考光和...
  • 提供了一种数字千分尺,其适合于测量作为强磁体的待测对象物。该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部,测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧以便在远离砧座的方向...