一种用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理方法及装置，应用于芯片制造领域，包括确定芯片测试工厂的仓库中的各个传感器组、以及每个传感器组对应的传感器排放类别；响应于检测到物料上架请求，确定待上架库位、与待上架库位对应的第一传感器组以及第一灯组，并控制第一灯组开启；检测第一传感器组的第一触发顺序；如果传感器排放类别为同层面放置类别或者不同层面放置类别、且第一触发顺序为逆序触发，则判断物料上架不成功，发出预警信息；如果传感器排放类别为对角横向放置类别、且第一触发顺序为顺序触发，则判断物料上架不成功，发出预警信息。可见，本发明专利技术能够改善用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片制造，具体而言，涉及一种用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理方法及装置。

技术介绍

1、目前，随着物联网的技术发展，更多的企业开始向数字化，信息化转型；从而有仓储管理业务需求的企业（如芯片测试企业），仓储已经不再是简单的储存和分发物料的过程。随着供应链的复杂性增加，企业需要更高效的方式来管理和优化其仓储运营；使其可以更高效准确的管理整个制造流程中的。在这个背景下，如何精准的将物料与库位进行绑定成为了一项关键的技术。

2、目前普遍的解决方案：一物一码的技术；现场操作人员通过手持pda设备通过扫取物料标签与库位标签进行对应库位信息的管理。采用一物一码的技术实际是系统数对接系统数据，只能通过物--标签进行信息流转的确认；物料归属的管理系统无法直观的读取当前物料的位置状态，并且无法及时发现物料实际摆放库位是否与扫取的库位标签信息是否一致。在实际的作业过程并不能完全杜绝物料摆放错误的问题，实现闭环控制。

3、针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路>

1、本专利技本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理方法，其特征在于，每个传感器组包含第一传感器、第二传感器以及第三传感器；其中，所述同层面放置类别为所述第一传感器、所述第二传感器以及所述第三传感器放置于同一层面，即，所述第一传感器、所述第二传感器以及所述第三传感器的放置高度相同；其中，所述不同层面放置类别为所述第一传感器、所述第二传感器以及所述第三传感器放置于不同层面，即，所述第一传感器、所述第二传感器以及所述第三传感器的放置高度不同、但所述第一传感器、所述第二传感器与所述第三传感器仍处于同一平面；其...

【技术特征摘要】

1.一种用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理方法，其特征在于，每个传感器组包含第一传感器、第二传感器以及第三传感器；其中，所述同层面放置类别为所述第一传感器、所述第二传感器以及所述第三传感器放置于同一层面，即，所述第一传感器、所述第二传感器以及所述第三传感器的放置高度相同；其中，所述不同层面放置类别为所述第一传感器、所述第二传感器以及所述第三传感器放置于不同层面，即，所述第一传感器、所述第二传感器以及所述第三传感器的放置高度不同、但所述第一传感器、所述第二传感器与所述第三传感器仍处于同一平面；其中，所述对角横向放置类别为所述第一传感器、所述第二传感器以及所述第三传感器处于同一立体面中的对角以及横向放置。

3.根据权利要求1所述的用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理方法，其特征在于，所述方法还包括：

4.根据权利要求1所述的用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理方法，其特征在于，所述方法还包括：

5.根据权利要求1所述的用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理方法，其特征在于，在发出所述预警信息之后，还包括：

6.一种用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理装置，其特征在于，应用于主机，所述主机采用i...

【专利技术属性】
技术研发人员：常浩，刘增红，刘柏植，
申请(专利权)人：镇江矽佳测试技术有限公司，
类型：发明
国别省市：