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用于芯片仓储的物料控制方法及装置制造方法及图纸

技术编号:40389038 阅读:7 留言:0更新日期:2024-02-20 22:21
本发明专利技术公开了用于芯片仓储的物料控制方法及装置,包括:在芯片仓储物料入库时,扫描芯片仓储物料对应的集成标签单据;基于唯一码,判断在芯片仓储系统中是否存在与唯一码相匹配的待入库信息;如果存在,则确定芯片仓储物料对应的入库权限为允许入库;在芯片仓储物料出库时,扫描集成标签单据;通过集成码以及唯一码,在芯片仓储系统中获取芯片仓储物料的物料信息,对物料信息进行锁定装箱;在进行锁定装箱时,基于预设规则生成第二箱号;在芯片仓储系统中建立集成标签单据与第二箱号之间的映射关系;基于芯片仓储系统,执行物料信息追溯以及账务数据处理。可见,本发明专利技术能够使用一物一码和集成标签的模式,根据唯一码进行具体物料的生产追溯。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机,具体而言,涉及用于芯片仓储的物料控制方法及装置


技术介绍

1、目前,随着物联网的技术发展,更多的企业开始向数字化,信息化转型;从而有仓储管理业务需求的企业,仓储已经不再是简单的储存和分发物料的过程。随着供应链的复杂性增加,企业需要更高效的方式来管理和优化其仓储运营;使其可以更高效准确的管理整个制造流程中的。在这个背景下,如何实现仓库账务一致性,仓库物料流转的节点风险管控变得尤为重要。

2、在实践中发现,当前芯片制造行业中更多的都是通过批次进行仓库物料的锁定,但一个批次实际下单时间,出货时间不一定一致,无法准确的定位到具体的某一盒物料的信息。可见,现在用于芯片仓储的物料控制方法存在着可追溯性较差的问题。

3、针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供了用于芯片仓储的物料控制方法及装置,能够使用一物一码和集成标签的模式,根据唯一码进行具体物料的生产追溯。

2、根据本专利技术实施例的一个方面,提供了用于芯片仓储的物料控制方法,包括:

3、在芯片仓储物料入库时,扫描所述芯片仓储物料对应的集成标签单据;其中,所述集成标签单据包括一体集成的集成码、唯一码以及第一箱号;

4、基于所述唯一码,判断在芯片仓储系统中是否存在与所述唯一码相匹配的待入库信息;

5、如果存在,则确定所述芯片仓储物料对应的入库权限为允许入库;

6、如果不存在,则确定所述芯片仓储物料对应的入库权限为禁止入库;

7、在所述芯片仓储物料出库时,扫描所述集成标签单据;

8、通过所述集成码以及所述唯一码,在所述芯片仓储系统中获取所述芯片仓储物料的物料信息,对所述物料信息进行锁定装箱;

9、在进行锁定装箱时,基于预设规则生成第二箱号;

10、在所述芯片仓储系统中建立所述集成标签单据与所述第二箱号之间的映射关系;

11、基于所述芯片仓储系统,执行物料信息追溯以及账务数据处理;

12、其中,所述第一箱号用于标记所述芯片仓储物料的内箱,所述第二箱号用于标记装载所述内箱的外箱。

13、作为一种可选的实施方式,在扫描所述芯片仓储物料对应的集成标签单据之前,所述方法还包括:

14、通过http协议获取第三方系统生成的所述集成标签单据。

15、作为一种可选的实施方式,基于所述芯片仓储系统,执行物料信息追溯以及账务数据处理,包括:

16、从所述芯片仓储系统中,获取芯片仓储数据;

17、获取芯片仓储仓库中的实物仓储数据;

18、将所述芯片仓储数据与所述实物仓储数据进行数据比对,得到数据比对结果;

19、如果所述数据比对结果指示比对一致,则允许执行所述物料信息追溯;其中,所述物料信息追溯至少包括:扫码入库信息追溯、扫码移库信息追溯以及扫码盘点信息追溯;

20、如果所述数据比对结果指示比对不一致,则基于所述实物仓储数据进行账务数据处理,以实现账实一致。

21、作为一种可选的实施方式,在所述芯片仓储系统中存储有各个唯一码,以及每个唯一码关联的物料来料时间、物料下单时间、物料包装时间、物料入库时间、物料出库时间、物料库位转移数据以及物料借料数据。

22、作为一种可选的实施方式,所述基于预设规则生成第二箱号,包括:

23、确定所述芯片仓储物料对应的锁定装箱客户数据;

24、在所述芯片仓储系统中确定与所述锁定装箱客户数据相匹配的所述预设规则;

25、基于所述预设规则生成所述第二箱号。

26、根据本专利技术实施例的另一方面,还提供了用于芯片仓储的物料控制装置,包括:

27、扫描单元,用于在芯片仓储物料入库时,扫描所述芯片仓储物料对应的集成标签单据;其中,所述集成标签单据包括一体集成的集成码、唯一码以及第一箱号;

28、入库控制单元,用于基于所述唯一码,判断在芯片仓储系统中是否存在与所述唯一码相匹配的待入库信息;如果存在,则确定所述芯片仓储物料对应的入库权限为允许入库;如果不存在,则确定所述芯片仓储物料对应的入库权限为禁止入库;

29、出库控制单元,用于在所述芯片仓储物料出库时,扫描所述集成标签单据;通过所述集成码以及所述唯一码,在所述芯片仓储系统中获取所述芯片仓储物料的物料信息,对所述物料信息进行锁定装箱;在进行锁定装箱时,基于预设规则生成第二箱号;在所述芯片仓储系统中建立所述集成标签单据与所述第二箱号之间的映射关系;

30、物料控制单元,用于基于所述芯片仓储系统,执行物料信息追溯以及账务数据处理;

31、其中,所述第一箱号用于标记所述芯片仓储物料的内箱,所述第二箱号用于标记装载所述内箱的外箱。

32、作为一种可选的实施方式,所述扫描单元还用于:

33、在扫描所述芯片仓储物料对应的集成标签单据之前,通过http协议获取第三方系统生成的所述集成标签单据。

34、作为一种可选的实施方式,所述物料控制单元具体用于:

35、从所述芯片仓储系统中,获取芯片仓储数据;

36、获取芯片仓储仓库中的实物仓储数据;

37、将所述芯片仓储数据与所述实物仓储数据进行数据比对,得到数据比对结果;

38、如果所述数据比对结果指示比对一致,则允许执行所述物料信息追溯;其中,所述物料信息追溯至少包括:扫码入库信息追溯、扫码移库信息追溯以及扫码盘点信息追溯;

39、如果所述数据比对结果指示比对不一致,则基于所述实物仓储数据进行账务数据处理,以实现账实一致。

40、作为一种可选的实施方式,在所述芯片仓储系统中存储有各个唯一码,以及每个唯一码关联的物料来料时间、物料下单时间、物料包装时间、物料入库时间、物料出库时间、物料库位转移数据以及物料借料数据。

41、作为一种可选的实施方式,所述出库控制单元具体用于:

42、确定所述芯片仓储物料对应的锁定装箱客户数据;

43、在所述芯片仓储系统中确定与所述锁定装箱客户数据相匹配的所述预设规则;

44、基于所述预设规则生成所述第二箱号。

45、根据本专利技术实施例的又一方面,还提供了一种计算设备,所述计算设备包括:至少一个处理器、存储器和输入输出单元;其中,所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器用于调用所述存储器中存储的计算机程序来执行上述用于芯片仓储的物料控制方法。

46、根据本专利技术实施例的又一方面,还提供了一种计算机可读存储介质,其包括指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述用于芯片仓储的物料控制方法。

47、在本专利技术实施例中,在芯片仓储物料入库时,扫描芯片仓储物料对应的集成标签单据;基于唯一码,判断在芯片仓储系统中是否存在与唯一码相匹配的待入库信息;如果存在,则确定芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.用于芯片仓储的物料控制方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的用于芯片仓储的物料控制方法,其特征在于,在扫描所述芯片仓储物料对应的集成标签单据之前,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的用于芯片仓储的物料控制方法,其特征在于,基于所述芯片仓储系统,执行物料信息追溯以及账务数据处理,包括:

4.根据权利要求1所述的用于芯片仓储的物料控制方法,其特征在于,在所述芯片仓储系统中存储有各个唯一码,以及每个唯一码关联的物料来料时间、物料下单时间、物料包装时间、物料入库时间、物料出库时间、物料库位转移数据以及物料借料数据。

5.根据权利要求1所述的用于芯片仓储的物料控制方法,其特征在于,所述基于预设规则生成第二箱号,包括:

6.用于芯片仓储的物料控制装置,其特征在于,包括:

7.根据权利要求6所述的用于芯片仓储的物料控制装置,其特征在于,所述扫描单元还用于:

8.根据权利要求6所述的用于芯片仓储的物料控制装置,其特征在于,所述物料控制单元具体用于:

9.根据权利要求6所述的用于芯片仓储的物料控制装置,其特征在于,在所述芯片仓储系统中存储有各个唯一码,以及每个唯一码关联的物料来料时间、物料下单时间、物料包装时间、物料入库时间、物料出库时间、物料库位转移数据以及物料借料数据。

10.根据权利要求6所述的用于芯片仓储的物料控制装置,其特征在于,所述出库控制单元具体用于:

...

【技术特征摘要】

1.用于芯片仓储的物料控制方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的用于芯片仓储的物料控制方法,其特征在于,在扫描所述芯片仓储物料对应的集成标签单据之前,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的用于芯片仓储的物料控制方法,其特征在于,基于所述芯片仓储系统,执行物料信息追溯以及账务数据处理,包括:

4.根据权利要求1所述的用于芯片仓储的物料控制方法,其特征在于,在所述芯片仓储系统中存储有各个唯一码,以及每个唯一码关联的物料来料时间、物料下单时间、物料包装时间、物料入库时间、物料出库时间、物料库位转移数据以及物料借料数据。

5.根据权利要求1所述的用于芯片仓储的物料控制方法,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:常浩刘增红
申请(专利权)人:镇江矽佳测试技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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