【技术实现步骤摘要】
本专利技术的实施方式涉及数据处理，更具体地，本专利技术的实施方式涉及用于芯片工厂的巡检控制方法及装置。
技术介绍
1、本部分旨在为权利要求书中陈述的本专利技术的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。
2、近年来，芯片工厂的日常巡检任务通常是通过巡检人员完成的。然而，在实践中发现，通过人工的方式安排的巡检任务不够合理，会使得巡检过程的时长过长，从而导致针对芯片工厂的巡检效率较低。
技术实现思路
1、在本上下文中，本专利技术的实施方式期望提供用于芯片工厂的巡检控制方法及装置。
2、在本专利技术实施方式的第一方面中，提供了用于芯片工厂的巡检控制方法，包括：
3、获取预设时间段内的芯片工厂的历史巡检信息和所述预设时间段内的问题报错信息；其中，所述预设时间段的时长为预设天数，且所述预设时间段的终点日期为当前日期；
4、对所述历史巡检信息和所述问题报错信息进行分析，得到当前巡检方案；
5、将所述当前巡检方案发送至巡检人员的终端设备，以使所述巡检人员基于所述当前巡检方案对所述芯片工厂进行巡检。
6、在本实施方式的一个实施例中，所述对所述历史巡检信息和所述问题报错信息进行分析，得到当前巡检方案，包括：
7、对所述历史巡检信息进行分析，得到所述芯片工厂中的各个生产区域的巡检频率；
8、基于所述巡检频率从多个生产区域中确定第一待巡检区域；
9、对所述问题报错信
10、基于所述第一待巡检区域和所述第二待巡检区域，确定当前巡检方案。
11、在本实施方式的一个实施例中，所述对所述历史巡检信息进行分析，得到所述芯片工厂中的各个生产区域的巡检频率，包括：
12、从所述历史巡检信息中获取所述芯片工厂中的各个生产区域的历史巡检次数；
13、基于所述各个生产区域的历史巡检次数与所述预设天数，计算得到所述各个生产区域的巡检频率。
14、在本实施方式的一个实施例中，所述基于所述巡检频率从多个生产区域中确定第一待巡检区域，包括：
15、确定各个生产区域的区域类型；其中，所述区域类型包括重要区域类型、中等区域类型以及普通区域类型；
16、获取所述重要区域类型的生产区域对应的重要巡检阈值、所述中等区域类型的生产区域对应的中等巡检阈值以及所述普通区域类型的生产区域对应的普通巡检阈值；
17、将所述重要区域类型的生产区域中所述巡检频率小于所述重要巡检阈值的目标生产区域确定为第一区域；
18、将所述中等区域类型的生产区域中所述巡检频率小于所述重要巡检阈值的目标生产区域确定为第二区域；
19、将所述普通区域类型的生产区域中所述巡检频率小于所述重要巡检阈值的目标生产区域确定为至第三区域；
20、将所述第一区域、所述第二区域以及所述第三区域确定为第一待巡检区域。
21、在本实施方式的一个实施例中，所述问题报错信息中至少包括问题信息、问题生产区域以及问题类型，所述对所述问题报错信息进行分析，从所述多个生产区域中确定第二待巡检区域，包括：
22、从所述问题报错信息中确定各个生成区域为问题生产区域的问题次数；
23、将所述问题次数大于预设次数阈值的问题生产区域确定为第二待巡检区域。
24、在本实施方式的一个实施例中，所述基于所述第一待巡检区域和所述第二待巡检区域，确定当前巡检方案，包括：
25、将所述第二待巡检区域中与所述第一待巡检区域相同的待巡检区域删除，得到第三待巡检区域；
26、将所述第一待巡检区域和所述第三待巡检区域共同确定为巡检区域；
27、获取所述芯片工厂的工厂地图；
28、基于所述工厂地图，生成包含各个所述巡检区域的巡检路线；
29、获取各个所述巡检区域对应的巡检任务；
30、基于所述巡检路线和所述巡检任务，生成当前巡检方案。
31、在本实施方式的一个实施例中，所述将所述当前巡检方案发送至巡检人员的终端设备，包括：
32、获取所述问题报错信息中包含的至少一个问题类型；
33、确定各个问题类型对应的候选巡检人员；
34、确定所述候选巡检人员解决所述问题类型的类型数量；
35、将解决所述问题类型的最大类型数量对应的候选巡检人员确定为巡检人员；
36、将所述当前巡检方案发送至巡检人员的终端设备。
37、在本专利技术实施方式的第二方面中，提供了用于芯片工厂的巡检控制装置，包括：
38、获取单元，用于获取预设时间段内的芯片工厂的历史巡检信息和问题报错信息；其中，所述预设时间段的时长为预设天数，且所述预设时间段的终点日期为当前日期；
39、分析单元，用于对所述历史巡检信息和所述问题报错信息进行分析，得到当前巡检方案；
40、发送单元，用于将所述当前巡检方案发送至巡检人员的终端设备，以使所述巡检人员基于所述当前巡检方案对所述芯片工厂进行巡检。
41、在本专利技术实施方式的第三方面中，提供了一种计算设备，所述计算设备包括：至少一个处理器、存储器和输入输出单元；其中，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于调用所述存储器中存储的计算机程序来执行第一方面中任一项所述的方法。
42、在本专利技术实施方式的第四方面中，提供了一种计算机可读存储介质，其包括指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行第一方面中任一项所述的方法。
43、根据本专利技术实施方式的用于芯片工厂的巡检控制方法及装置，能够获取预设时间段内的芯片工厂的历史巡检信息和所述预设时间段内的问题报错信息；对所述历史巡检信息和所述问题报错信息进行分析，得到当前巡检方案；将所述当前巡检方案发送至巡检人员的终端设备，以使所述巡检人员基于所述当前巡检方案对所述芯片工厂进行巡检。可见，通过上述方式可以自动生成巡检方案，且该巡检方案能兼顾预设时间段内的巡检信息，以使得到的巡检方案更加全面，提升了针对芯片工厂的巡检效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.用于芯片工厂的巡检控制方法，包括：
2.根据权利要求1所述的用于芯片工厂的巡检控制方法，所述对所述历史巡检信息和所述问题报错信息进行分析，得到当前巡检方案，包括：
3.根据权利要求2所述的用于芯片工厂的巡检控制方法，所述对所述历史巡检信息进行分析，得到所述芯片工厂中的各个生产区域的巡检频率，包括：
4.根据权利要求3所述的用于芯片工厂的巡检控制方法，所述基于所述巡检频率从多个生产区域中确定第一待巡检区域，包括：
5.根据权利要求2所述的用于芯片工厂的巡检控制方法，所述问题报错信息中至少包括问题信息、问题生产区域以及问题类型，所述对所述问题报错信息进行分析，从所述多个生产区域中确定第二待巡检区域，包括：
6.根据权利要求5所述的用于芯片工厂的巡检控制方法，所述基于所述第一待巡检区域和所述第二待巡检区域，确定当前巡检方案，包括：
7.根据权利要求5或6所述的用于芯片工厂的巡检控制方法，所述将所述当前巡检方案发送至巡检人员的终端设备，包括：
8.用于芯片工厂的巡检控制装置，包括：
9.一
10.一种计算机可读存储介质，其包括指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行如权利要求1~7中的任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.用于芯片工厂的巡检控制方法，包括：
2.根据权利要求1所述的用于芯片工厂的巡检控制方法，所述对所述历史巡检信息和所述问题报错信息进行分析，得到当前巡检方案，包括：
3.根据权利要求2所述的用于芯片工厂的巡检控制方法，所述对所述历史巡检信息进行分析，得到所述芯片工厂中的各个生产区域的巡检频率，包括：
4.根据权利要求3所述的用于芯片工厂的巡检控制方法，所述基于所述巡检频率从多个生产区域中确定第一待巡检区域，包括：
5.根据权利要求2所述的用于芯片工厂的巡检控制方法，所述问题报错信息中至少包括问题信息、问题生产区域以及问题类...
【专利技术属性】
技术研发人员：常浩，刘增红，
申请(专利权)人：镇江矽佳测试技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。