一种自动化芯片测试分选装置及系统制造方法及图纸

技术编号:39729179 阅读:8 留言:0更新日期:2023-12-17 23:33
本发明专利技术涉及芯片测试设备技术领域,具体的公开了一种自动化芯片测试分选装置及系统,包括底座,所述底座的顶部安装有多边形的安装柱,安装柱的顶端安装有顶板,安装柱的底端外壁开设有环形的安装槽,安装柱的顶端靠近边缘的位置开设有若干个放置槽,放置槽的内底部与安装槽相互连通,放置槽的内壁按长度方向开设有固定孔;安装槽的内部转动安装有安装套,安装套的外壁上安装有若干个芯片测试仪,芯片测试仪的顶端开设有与放置槽相匹配的进料孔

【技术实现步骤摘要】
一种自动化芯片测试分选装置及系统


[0001]本专利技术涉及芯片测试设备
,尤其涉及一种自动化芯片测试分选装置及系统


技术介绍

[0002]芯片,又称微电路

微芯片

集成电路,是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分

芯片内部都是半导体材料,大部份都是硅材料,里面的电容,电阻,二极管,三极管都是用半导体做出来的

芯片对于电器而言相当于人体大脑一样,它具有十分强大的运算

处理

协调能力

芯片的工作原理是将电路制造在半导体芯片表面上从而进行运算与处理

芯片在封装前,需要对芯片在使用时的电变量进行测量,用于了解芯片的质量和使用时的稳定性

[0003]在对芯片测试完毕后,需要对不同电变量参数的芯片进行分选放置,而常用的芯片电变量测试设备在对芯片测试时大多只能对单一的芯片进行测试,所以在对芯片进行分选时,为了节省成本,大多是通过工作人员手动对芯片进行分选,在对芯片进行测试时需要工作人员手动对芯片进行位置放置和连接,对芯片的测试效率较低


技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种自动化芯片测试分选装置及系统

[0005]为了实现上述目的,本专利技术采用了如下技术方案:
[0006]一种自动化芯片测试分选装置及系统,包括底座,所述底座的顶部安装有多边形的安装柱,安装柱的顶端安装有顶板,安装柱的底端外壁开设有环形的安装槽,安装柱的顶端靠近边缘的位置开设有若干个放置槽,放置槽的内底部与安装槽相互连通,放置槽的内壁按长度方向开设有固定孔;
[0007]安装槽的内部转动安装有安装套,安装套的外壁上安装有若干个芯片测试仪,芯片测试仪的顶端开设有与放置槽相匹配的进料孔,进料孔的底端贯穿芯片测试仪,进料孔的顶端与放置槽的底端相互连通,进料孔的两侧内壁上均安装有若干个弧形的检测片

[0008]优选的,所述进料孔远离安装柱的一侧内壁上开设有固定槽,固定槽内滑动安装有挡板,挡板位于若干个检测片的下方,固定槽远离进料孔的一端内壁上安装有电磁铁,进料孔远离固定槽的一侧内壁上安装有磁铁片

[0009]优选的,所述挡板的两端均安装有铁片,电磁铁和磁铁片分别位于挡板的两端,固定槽的两侧内壁上均按长度方向开设有导向槽,导向槽的一端贯穿至进料孔的内部,挡板的两侧均安装有导向块,导向块滑动安装在导向槽内

[0010]优选的,所述安装槽的底端外壁开设有环形的限位槽,限位槽的内部转动安装有外齿轮圈,安装套的底端内壁安装有若干个齿轮条,安装套通过齿轮条与外齿轮圈相互啮合连接,底座的顶部开设有环形的滑槽,滑槽内滑动安装有电动滑块,电动滑块的顶端安装
在外齿轮圈的底部

[0011]优选的,所述安装柱的外壁上安装有与安装柱相匹配的多边形的固定圈,固定圈的若干个侧面均开设有与放置槽相匹配的安装孔,安装孔的内壁上转动安装有电动滚轮,放置槽的内壁上位于固定孔的两侧均按长度方向安装有清洁片

[0012]优选的,所述电动滚轮的外壁上安装有海绵套,海绵套的外壁靠近安装柱的一侧位于固定孔的内部,固定圈位于芯片测试仪的上方

[0013]优选的,所述底座的顶部靠近边缘的位置开设有若干个与芯片测试仪相匹配的出料槽,出料槽靠近安装柱的一端位于芯片测试仪的下方,进料孔的底端与出料槽的内部相互连通

[0014]优选的,所述顶板的顶部靠近边缘的位置倾斜开设有若干个与放置槽相匹配的进料槽,进料槽的内底部靠近安装柱的一端开设有输送孔,输送孔的底端与放置槽相互连通

[0015]优选的,所述顶板的底部开设有环形的存放槽,存放槽的内顶部安装有遮挡布,底座的底部安装有若干个支撑块

[0016]本专利技术中一种自动化芯片测试分选装置的操作系统,该操作系统包括如下步骤:
[0017]步骤一:工作人员把待检测的芯片放置在进料槽的内部,使芯片顺着进料槽的内底部滑落至放置槽的内部,在使用时若干个待测试的芯片在放置槽的内部依次叠放;
[0018]步骤二:当工作人员对芯片进行测试时,电动滚轮带动放置槽内底部的芯片移动至芯片测试仪上的进料孔内部,而位于进料孔两侧内壁上的弹性检测片与芯片两侧的键合丝相互抵接,芯片测试仪通过检测片与键合丝对芯片使用时的电变量进行检测;
[0019]步骤三:当芯片测试完毕后,根据对芯片测试的电变量参数使电动滑块通过外齿轮圈和安装套带动芯片测试仪和测试完毕的芯片转动至指定出料槽的上方;
[0020]步骤四:在对芯片进行测试时,挡板能对芯片的位置进行限定,当芯片测试完毕后,电磁铁通电产生磁场,并与挡板上的铁片相互吸附,挡板向电磁铁方向移动,并断开对进料孔的阻挡,使测试完毕的芯片掉落至出料槽内

[0021]与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:
[0022]1、
本专利技术中安装柱为多边形,且安装柱若干个侧面上的放置槽内部均可存放一定量的待测试芯片,在使用时存放的芯片可自动进入芯片测试仪内部进行电变量测试,在使用时更加方便,无需工作人员手动对芯片进行放置和连接,且在芯片测试完毕后,可根据芯片的电变量参数把测试完毕的芯片分别放置在底座顶部的若干个出料槽内,在使用时无需工作人员手动对芯片进行测试和分选,使用时更加方便,且若干个芯片测试仪可同时对多个芯片进行测试,提高了芯片测试的效率

[0023]2、
本专利技术中电动滚轮通过海绵套带动位于放置槽内底部的芯片进行下移,同时也能在芯片移动时对芯片的侧面起到较好的保护作用,防止电动滚轮带动芯片进行移动时对芯片的侧面进行挤压,导致芯片表面出现损坏,同时海绵套也能与放置槽的内壁相互配合,对芯片进行夹持和位置限定,在芯片在放置槽内部移动时,位于放置槽内壁上的清洁片能对芯片两侧的键合丝进行清洁,使键合丝能与检测片更好的进行连接,同时清洁片能对进入放置槽内部的芯片掉落速度进行减缓,防止相邻的两个芯片在放置槽内部相互碰撞

[0024]3、
本专利技术中当芯片掉落至芯片测试仪上的进料孔内部后,芯片的底端与挡板的顶部抵接,挡板能对芯片的位置起到较好的限定作用,防止芯片在进行测试时出现掉落的情
况,位于进料孔两侧内壁上的若干个检测片便会分别与芯片两侧的若干个键合丝相互抵接,芯片测试仪通过检测片和键合丝对芯片与芯片相互电性连接,并对芯片使用时的变电量进行测试

[0025]4、
本专利技术中当芯片测试仪和其内部的芯片移动至指定出料槽的内部后,电磁铁与外界的电源相互电性连接,电磁铁的磁场强度大于磁铁片的磁场,所以挡板通过电磁铁磁铁片的相互吸附向电磁铁方向移动,挡板靠近磁铁片的一端便可断开对进本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种自动化芯片测试分选装置,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)的顶部安装有多边形的安装柱(2),安装柱(2)的顶端安装有顶板(3),安装柱(2)的底端外壁开设有环形的安装槽(
10
),安装柱(2)的顶端靠近边缘的位置开设有若干个放置槽(4),放置槽(4)的内底部与安装槽(
10
)相互连通,放置槽(4)的内壁按长度方向开设有固定孔(5);安装槽(
10
)的内部转动安装有安装套(8),安装套(8)的外壁上安装有若干个芯片测试仪(9),芯片测试仪(9)的顶端开设有与放置槽(4)相匹配的进料孔(
16
),进料孔(
16
)的底端贯穿芯片测试仪(9),进料孔(
16
)的顶端与放置槽(4)的底端相互连通,进料孔(
16
)的两侧内壁上均安装有若干个弧形的检测片(
18
);所述进料孔(
16
)远离安装柱(2)的一侧内壁上开设有固定槽(
19
),固定槽(
19
)内滑动安装有挡板(
21
),挡板(
21
)位于若干个检测片(
18
)的下方,固定槽(
19
)远离进料孔(
16
)的一端内壁上安装有电磁铁(
20
),进料孔(
16
)远离固定槽(
19
)的一侧内壁上安装有磁铁片(
22
);所述安装柱(2)的外壁上安装有与安装柱(2)相匹配的多边形的固定圈(7),固定圈(7)的若干个侧面均开设有与放置槽(4)相匹配的安装孔(
12
),安装孔(
12
)的内壁上转动安装有电动滚轮(
13
),放置槽(4)的内壁上位于固定孔(5)的两侧均按长度方向安装有清洁片(6);所述电动滚轮(
13
)的外壁上安装有海绵套(
14
),海绵套(
14
)的外壁靠近安装柱(2)的一侧位于固定孔(5)的内部,固定圈(7)位于芯片测试仪(9)的上方;电动滚轮(
13
)转动时便可带动其外壁上的海绵套(
14
)便可带动位于放置槽(4)内底部的芯片进行下移,直至芯片掉落至芯片测试仪(9)上的进料孔(
16
)的内部,而电动滚轮(
13
)便停止转动,使海绵套(
14
)对位于放置槽(4)内部的芯片起到较好的夹持,在使用时海绵套(
14
)能带动芯片进行下移,同时也能在芯片移动时对芯片的侧面起到较好的保护作用,防止电动滚轮(
13
)带动芯片进行移动时对芯片的侧面进行挤压,导致芯片表面出现损坏,同时海绵套(
14
)也能与放置槽(4)的内壁相互配合,对芯片进行夹持和位置限定,芯片掉落至放置槽(4)的内部后,电动滚轮(
13
)和其外壁上的海绵套(
14
)能对芯片的下移进行阻挡,使海绵套(
14
)的外壁与芯片的侧面抵接,在使用时能防止芯片出现自动掉落的情况
。2.
根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试分选装置,其特征在于,所述挡板(
21
)的两端均安装有铁片,电磁铁(
20
)和磁铁片(
22
)分别位于挡板(
21
)的两端,固定槽(
19
)的两侧内壁上均按长度方向开设有导向槽(
23
),导向槽(
23
)的一端贯穿至进料孔(
16
)的内部,挡板(
21
...

【专利技术属性】
技术研发人员:常浩刘增红何佳
申请(专利权)人:镇江矽佳测试技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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