【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，具体为一种集成电路芯片os测试机。
技术介绍
1、集成电路芯片os测试机是用于测试集成电路芯片操作系统(os)功能和性能的专用设备，它主要用于验证芯片的操作系统是否正常运行、是否符合规格要求，并对其性能进行评估。
2、中国专利cn218167857u一种集成电路芯片测试机，包括底座，所述底座上方固定设置有夹装承载机构，所述夹装承载机构前后侧固定设置有测试机构。
3、上述专利针对现有技术中的测试设备无法在对不合格的芯片进行标记，不容易区分合格芯片与不合格芯片，导致分拣混乱的缺点进行了改进。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本技术提供了一种集成电路芯片os测试机，具备便于对不合格的芯片进行标记和区分、便于分拣的优点，解决了现有技术中的测试设备无法在对不合格的芯片进行标记，不容易区分合格芯片与不合格芯片，导致分拣混乱的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路芯片os测试机，包括底板，所述底板上设有顶出机构；
3、所述顶出机构包括固定安装于底板上表面的测试机本体，所述测试机本体上表面固定安装有测试插座，所述测试插座上表面开设有插接口，所述测试插座内部开设有空腔，所述空腔内腔下表面固定安装有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆顶部固定安装有顶出板，所述底板表面固定安装有控制器。
4、进一步，所述测试插座左侧表面和右侧表面均固定安装有收集盒，所述收集盒下表面与测试机本体上表面固定连接。
<...【技术保护点】
1.一种集成电路芯片OS测试机，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)上设有顶出机构；
2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片OS测试机，其特征在于：所述测试插座(3)左侧表面和右侧表面均固定安装有收集盒(8)，所述收集盒(8)下表面与测试机本体(2)上表面固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片OS测试机，其特征在于：所述测试插座(3)左侧表面和右侧表面均为斜面，所述测试插座(3)的倾斜方向朝向收集盒(8)。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片OS测试机，其特征在于：所述插接口(4)下表面开设有与空腔(5)相连通的条形孔(9)，所述顶出板(7)位于条形孔(9)内。
5.根据权利要求4所述的一种集成电路芯片OS测试机，其特征在于：所述顶出板(7)外表面与条形孔(9)内侧表面之间滑动接触，所述顶出板(7)与条形孔(9)相适配。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片OS测试机，其特征在于：所述顶出板(7)顶部最低处与插接口(4)内腔下表面平齐。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路芯片os测试机，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)上设有顶出机构；
2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片os测试机，其特征在于：所述测试插座(3)左侧表面和右侧表面均固定安装有收集盒(8)，所述收集盒(8)下表面与测试机本体(2)上表面固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片os测试机，其特征在于：所述测试插座(3)左侧表面和右侧表面均为斜面，所述测试插座(3)的倾斜方向朝向收集盒(8)。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片os测试机，其特征在于：所述插接...
【专利技术属性】
技术研发人员：常浩，刘增红，陈春，
申请(专利权)人：镇江矽佳测试技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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