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本发明公开了一种用于芯片测试工厂的智能仓储预警管理方法及装置，应用于芯片制造领域，包括确定芯片测试工厂的仓库中的各个传感器组、以及每个传感器组对应的传感器排放类别；响应于检测到物料上架请求，确定待上架库位、与待上架库位对应的第一传感器组以及...
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