修补方法以及主动元件阵列基板技术

本发明专利技术提供一种修补方法以及主动元件阵列基板。主动元件阵列基板包括基板、扫描线、数据线、主动元件、像素电极以及共通线，至少其中一扫描线具有一断线瑕疵，扫描线与数据线彼此交错以于基板上定义出子像素区域，主动元件与对应的扫描线及数据线电连接，各像素电极位于其中一子像素区域内，并分别与其中一主动元件电连接。所述修补方法包括：切除邻近于断线瑕疵的其中一共通线，以形成一与共通线电绝缘的切除区块；以及令切除区块以及具有断线瑕疵的扫描线与断线瑕疵两侧的二主动元件焊接，以使切除区块与具有断线瑕疵的扫描线电连接。本发明专利技术的修补方法可以在不影响开口率的情况下，对主动元件阵列基板进行修补。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种主动元件阵列基板，且特别关于一种主动元件阵列基板的修补方法。
技术介绍
针对多媒体社会的急速进步，多半受惠于半导体元件或人机显示装置的飞跃性进步。就显示器而言，阴极射线管(Cathode Ray Tube,CRT)因具有优异的显示品质与其经济 性，一直独占近年来的显示器市场。然而，对于个人在桌上操作多数终端机/显示器装置的 环境，或是以环保的观点切入，若以节省能源的潮流加以预测阴极射线管因空间利用以及 能源消耗上仍存在很多问题，而对于轻、薄、短、小以及低消耗功率的需求无法有效提供解 决之道。因此，具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的薄膜晶体管 液晶显示面板(TFT-IXD panel)已逐渐成为市场主流，其中又以高解析度的薄膜晶体管液 晶显示面板备受关注。在高解析度的薄膜晶体管液晶显示面板中，扫描线数量的增加已成为趋势，但为 了顾及面板的开口率(aperture ratio)，在一般的高解析度的薄膜晶体管液晶显示面板 中，并无用以修补扫描线断线的修补线设计，因此当扫描线发生断线瑕疵(open defect) 时，面板多半需报废，造成成本的大幅提高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于在不影响开口率的情况下，对主动元件阵列基板进行修补。为 此，本专利技术提供一种主动元件阵列基板的修补方法以及经过修补后的主动元件阵列基板。本专利技术提供一种修补方法，其适于修补一主动元件阵列基板。主动元件阵列基板 包括一基板、多条扫描线、多条数据线、多个主动元件、多个像素电极以及多条共通线，至少 其中一条扫描线具有一断线瑕疵(open defect)，扫描线与数据线彼此交错以于基板上定 义出多个子像素区域，主动元件与其中一条扫描线以及其中一条数据线电连接，各个像素 电极位于其中一个子像素区域内，并与其中一个主动元件电连接。此修补方法包括切除邻 近于断线瑕疵的其中一条共通线，以形成一与共通线电绝缘的切除区块；以及令切除区块 以及具有断线瑕疵的扫描线与断线瑕疵两侧的二主动元件焊接，以使切除区块与具有断线 瑕疵的扫描线电连接。在本专利技术的一实施例中，前述的主动元件具有一栅极、一源极以及一漏极，源极与 其中一条数据线电连接，漏极与其中一个像素电极电连接，而令切除区块以及具有断线瑕 疵的扫描线与断线瑕疵两侧的二主动元件焊接的方法包括令切除区块以及具有断线瑕疵 的扫描线与断线瑕疵两侧的二主动元件的二漏极焊接。在本专利技术的一实施例中，令切除区块以及具有断线瑕疵的扫描线与断线瑕疵两侧 的二主动元件焊接的方法包括激光焊接(laser welding)。在本专利技术的一实施例中，切除邻近于断线瑕疵的其中一条共通线的方法包括激光切除工艺(laser cutting)。本专利技术提供一种主动元件阵列基板，其包括一基板、多条扫描线、多条数据线、多个主动元件、多个像素电极以及多条共通线。扫描线配置于基板上，且至少其中一条扫描线 具有一断线瑕疵。数据线配置于基板上，扫描线与数据线彼此交错以于基板上定义出多个 子像素区域。主动元件配置于基板上，并与其中一条扫描线以及其中一条数据线电连接。像 素电极配置于基板上，各个像素电极位于其中一个子像素区域内，并分别与其中一个主动 元件电连接。共通线配置于基板上，至少其中一条共通线具有一邻近于断线瑕疵的切除区 块，其中切除区块以及具有断线瑕疵的扫描线与断线瑕疵两侧的二主动元件焊接，以使切 除区块与具有断线瑕疵的扫描线电连接。在本专利技术的一实施例中，前述的各个主动元件具有一栅极、一源极以及一漏极，源 极与其中一条数据线电连接，而漏极与其中一个像素电极电连接。在本专利技术的一实施例中，前述的切除区块以及具有断线瑕疵的扫描线与断线瑕疵 两侧的二主动元件的二漏极焊接。在本专利技术的一实施例中，前述的各个漏极分别与其中一条共通线重叠。在本专利技术的一实施例中，前述的共通线位于像素电极下方。基于上述，由于本专利技术将部分的共通线切除以作为修补线之用，因此本专利技术的修 补方法可以在不影响开口率的情况下，对主动元件阵列基板进行修补。附图说明图1为本专利技术一实施例的主动元件阵列基板的示意图。图2为图1的主动元件阵列基板经过修补的后的示意图。附图标号100、100，主动元件阵列基板110:基板120 扫描线130:数据线140 主动元件140G 栅极140S 源极140D 漏极15O:像素电极160 共通线D 断线瑕疵C 切除区块R 子像素区域C1、C2、C3、C4、C5、C6 切除线W1、W2、W3、W4 焊接点BR 桥接导体具体实施例方式为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。图1为本专利技术一实施例的主动元件阵列基板的示意图，而图2为图1的主动元件 阵列基板经过修补的后的示意图。请同时参照图1与图2，本实施例的修补方法适于修补图 1中的主动元件阵列基板100，以提升主动元件阵列基板100的制造成品率提升。如图1所 示，主动元件阵列基板100包括一基板110、多条扫描线120、多条数据线130、多个主动元件 140、多个像素电极150以及多条共通线160，扫描线120与数据线130彼此交错以于基板 110上定义出多个子像素区域R，主动元件140与其中一条扫描线120以及其中一条数据线 130电连接，各个像素电极150位于其中一个子像素区域R内，并与其中一个主动元件140 电连接。此外，本实施例的共通线160例如是位于像素电极150下方，以与像素电极150耦 合形成储存电容。在本实施例中，主动元件140具有一栅极140G、一源极140S以及一漏极140D，源 极140S与其中一条数据线130电连接，漏极140D与其中一个像素电极150电连接。由图1与图2可清楚得知，本实施例的主动元件阵列基板100中不具有额外的修 补线(impair line)，因此本实施例的主动元件阵列基板100具有高开口率。当扫描线120因工艺控制不当或是其他因素而产生断线瑕疵D时，通过本实施例 的修补方法能够在不影响开口率的情况下，有效地降低面板报废的机率，进而降低制造成 本。以下将结合图2针对主动元件阵列基板100’的修补方法作进一步的说明。请参照图2，当其中一条或多条扫描线120因工艺控制不当或是其他因素而产生 断线瑕疵D时，本实施例以断线瑕疵D附近的其中一条共通线160作为修补线，以使具有断 线瑕疵D的一条或多条扫描线120能够恢复正常功能。举例而言，本实施例可先切除邻近 于断线瑕疵D的共通线160，以形成一与共通线160电绝缘的切除区块C，之后，通过焊接的 方式使切除区块C与断线瑕疵D两侧的二主动元件140电连接，并通过焊接的方式使具有 断线瑕疵D的扫描线120与断线瑕疵D两侧的二主动元件140电连接。在经过上述的焊接 之后，切除区块C会与具有断线瑕疵D的扫描线120电连接。值得注意的是，在本专利技术的其 他实施例中，亦可先进行焊接的动作，再进行切除的动作，同样可以达到相同的修补效果。由图2可以清楚得知，为了形成与共通线160电绝缘的切除区块C，本实施例沿着 切除线C1、C2、C3、C4进行激光切除工艺，以使切除区块C能够与共通线160分离。详言之， 沿着切除线Cl、C2进行的激光切除工艺主要是用以将共通线160切本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种修补方法，其特征在于，所述修补方法适于修补一主动元件阵列基板，所述主动元件阵列基板包括一基板、多条扫描线、多条数据线、多个主动元件、多个像素电极以及多条共通线，至少其中一条扫描线具有一断线瑕疵，所述扫描线与所述数据线彼此交错以于所述基板上定义出多个子像素区域，所述主动元件分别与其中一条扫描线以及其中一条数据线电连接，各像素电极位于其中一个子像素区域内，并与其中一个主动元件电连接，而所述修补方法包括：切除邻近于所述断线瑕疵的其中一条共通线，以形成一与所述共通线电绝缘的切除区块；以及令所述切除区块以及具有所述断线瑕疵的所述扫描线与所述断线瑕疵两侧的二主动元件焊接，以使所述切除区块与具有所述断线瑕疵的所述扫描线电连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡东璋，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]