一种芯片测试插座制造技术

本发明专利技术涉及半导体测试技术领域，更具体的说，涉及一种芯片测试插座

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试插座


[0001]本专利技术涉及半导体测试
，更具体的说，涉及一种稳定的芯片测试插座
。

技术介绍

[0002]芯片的功能测试是芯片研发和生产中不可或缺的一项重要步骤，而芯片的测试插座是功能测试的重要治具，其作用是将芯片固定在特定位置后，通过连接导体探针将芯片上的锡球与
PCB
线路板之间建立电子信号和电流传输，从而达到芯片测试的目的
。
[0003]对于尺寸较大的芯片来说，其锡球的数量通常在
100
个以上，因而测试插座的尺寸也会相应增大
。
在实际测试中，测试插座固定在
PCB
上时，探针底部会预压一部分距离，一般认为压力越大，芯片
、
探针与
PCB
电路的接触效果越好，因此底部预压越大，测试的稳定性就越高
。
[0004]现有的测试插座，由于探针数量越多产生的力越大，导致顶部探针的平整度较差，致使芯片与
PCB
通过探针接触不稳定
。
此外，现有的测试插座结构复杂，精度要求较高，因此成本也相对较高
。
[0005]中国专利技术专利
CN116381459A
提出了一种安全浮动式
PGA
芯片测试插座，包括探针
、
待测试封装
PGA
芯片
、
底板
、
插座
、
通槽
、
浮动板/>、
弹簧
、
若干个芯片引脚通孔
、
若干个插座体探针通孔和若干个底板探针通孔等
。
但是，上述技术方案结构复杂，成本高，组装困难，结构稳定性低，探针接触性不稳定
。
[0006]因此，目前亟需一种改进的芯片测试插座，以提高其性能并降低成本
。

技术实现思路

[0007]本专利技术的目的是提供一种芯片测试插座，解决现有技术的芯片测试插座结构复杂及稳定性差的问题
。
[0008]为了实现上述目的，本专利技术提供了一种芯片测试插座，至少包括探针
、
插座本体和待测芯片，所述插座本体，至少包括插座主体和限位导向板；所述插座主体的上表面，设置有第一凹槽；所述第一凹槽内，开设有探针孔；所述限位导向板的正面表面内设置有第二凹槽；所述第二凹槽内，开设有限位导向孔；所述探针孔
、
限位导向孔与待测芯片的锡球相对应；所述限位导向孔为阶梯结构，包括相互连通的导向孔与限位孔，导向孔位于限位孔上部，所述导向孔用于导引待测芯片，所述限位孔用于限制探针从上方脱离结构；其中，探针通过探针孔和限位导向孔放置在插座本体和限位导向板内，待测芯片放置在限位导向板的第二凹槽内，通过限位导向孔与探针接触
。
[0009]在一实施例中，所述插座主体的第一凹槽的内部尺寸，与限位导向板的外包络尺寸相匹配；
所述限位导向板安装在第一凹槽内
。
[0010]在一实施例中，所述第一凹槽内，开设有若干第一定位销孔；所述限位导向板的背面表面，开设有若干第二定位销孔；第一定位销孔与第二定位销孔的位置相对应，定位销的一端插入第一定位销孔，定位销的另一端插入第二定位销孔，对插座主体与限位导向板的相对位置进行定位
。
[0011]在一实施例中，所述第一凹槽内，开设有若干第一弹簧限位孔；所述限位导向板的背面表面，开设有若干第二弹簧限位孔；第一弹簧限位孔与第二弹簧限位孔的位置相对应，弹簧的一端装入第一弹簧限位孔，弹簧的另一端装入第二弹簧限位孔，提供弹簧支撑力
。
[0012]在一实施例中，所述插座主体的上表面，设置有若干沉头凹槽；沉头螺栓穿过沉头凹槽，与紧固螺母配合装配，将插座主体固定安装在印刷电路板上
。
[0013]在一实施例中，所述沉头凹槽，设置在插座主体的上表面的角上
。
[0014]在一实施例中，所述插座主体的上表面，设置有若干限位螺丝槽；所述限位导向板正面表面，设置有若干个螺丝限位槽；所述螺丝限位槽的位置与限位螺丝槽的位置相对应；限位螺丝穿过螺丝限位槽与限位螺丝槽，将限位导向板与插座主体进行安装固定
。
[0015]在一实施例中，所述限位螺丝槽，设置在插座主体的上表面相对的两侧边；每侧边设置2个限位螺丝槽；所述螺丝限位槽，设置在限位导向板的正面表面
。
[0016]在一实施例中，所述导向孔的直径大于限位孔的直径
。
[0017]在一实施例中，所述探针孔为阶梯结构，探针孔尾端的直径小于探针孔主体的直径
。
[0018]在一实施例中，所述插座主体和限位导向板为多边形结构
。
[0019]在一实施例中，所述第二凹槽的周边开有侧槽，用于提供取出或放置待测芯片的操作空间
。
[0020]本专利技术提供了一种稳定的芯片测试插座，有效解决了现有技术中因探针底部预压和探针顶部限位板过薄导致的探针平整度较低，芯片与探针无法同时接触，从而影响测试结果稳定性的问题
。
该测试插座能够精简结构，简化组装过程，降低成本，同时更好地保障芯片与
PCB
电路板的接触，确保了测试的准确性和稳定性
。
附图说明
[0021]本专利技术上述的以及其他的特征
、
性质和优势将通过下面结合附图和实施例的描述而变的更加明显，在附图中相同的附图标记始终表示相同的特征，其中：图1揭示了根据本专利技术一实施例的芯片测试插座的整体结构示意图；图
2a
揭示了根据本专利技术一实施例的限位导向板的正面示意图；图
2b
揭示了根据本专利技术一实施例的限位导向板的背面示意图；图3揭示了根据本专利技术一实施例的测试状态下的结构剖视图；
图4揭示了根据本专利技术一实施例的限位导向板的结构剖视图；图5揭示了现有技术的芯片测试插座的结构剖视图；图6揭示了根据本专利技术一实施例的芯片测试插座的局部示意图
。
[0022]图中各附图标记的含义如下：1待测芯片；2限位螺丝；3螺丝限位槽；4限位导向孔；
41
导向孔；
42
限位孔；5限位导向板；6弹簧；7定位销；8探针；9透气通孔；
10a
第一定位销孔；
10b
第二定位销孔；
11a
第一弹簧限位孔；
11b
第二弹簧限位孔；
12
限位螺丝槽；
13
沉头螺栓；
14
紧固螺母；
15
沉头凹槽；
16
探针孔；
17
插座主体；
18
第一凹槽；
19
第二凹槽
。
具体实施方式
[0023]为了使本专利技术的目的
、
技术方案及本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种芯片测试插座，至少包括探针
、
插座本体和待测芯片，其特征在于，所述插座本体，至少包括插座主体和限位导向板；所述插座主体的上表面，设置有第一凹槽；所述第一凹槽内，开设有探针孔；所述限位导向板的正面表面内设置有第二凹槽；所述第二凹槽内，开设有限位导向孔；所述探针孔
、
限位导向孔与待测芯片的锡球相对应；所述限位导向孔为阶梯结构，包括相互连通的导向孔与限位孔，导向孔位于限位孔上部，所述导向孔用于导引待测芯片，所述限位孔用于限制探针从上方脱离结构；其中，探针通过探针孔和限位导向孔放置在插座主体和限位导向板内，待测芯片放置在限位导向板的第二凹槽内，通过限位导向孔与探针接触
。2.
根据权利要求1所述的芯片测试插座，其特征在于，所述插座主体的第一凹槽的内部尺寸，与限位导向板的外包络尺寸相匹配；所述限位导向板安装在第一凹槽内
。3.
根据权利要求1所述的芯片测试插座，其特征在于，所述第一凹槽内，开设有若干第一定位销孔；所述限位导向板的背面表面，开设有若干第二定位销孔；第一定位销孔与第二定位销孔的位置相对应，定位销的一端插入第一定位销孔，定位销的另一端插入第二定位销孔，对插座主体与限位导向板的相对位置进行定位
。4.
根据权利要求1所述的芯片测试插座，其特征在于，所述第一凹槽内，开设有若干第一弹簧限位孔；所述限位导向板的背面表面，开设有若干第二弹簧限位孔；第一弹簧限位孔与第二弹簧限位孔的位置相对应，弹簧的一端装入第一弹簧限位孔，弹簧的另一端装入第二弹簧限位孔，提供弹簧支撑力
。5.

【专利技术属性】
技术研发人员：胡佳伟，梁建，罗雄科，何亚军，
申请(专利权)人：上海泽丰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：