【技术实现步骤摘要】
熔融制样
‑
X射线荧光光谱法测定锂矿石中元素的方法
[0001]本专利技术涉及元素测定
,尤其涉及一种熔融制样
‑
X
射线荧光光谱法测定锂矿石中元素的方法
。
技术介绍
[0002]目前常用的检测方法均为化学分析法,包括二氧化硅用重量
‑
钼蓝分光光度法
、
三氧化二铝用
EDTA
络合滴定法
、
三氧化二铁用邻二氮杂菲分光光度法
EDTA
络合滴定法
、
磷用钼蓝分光光度法
、
氧化钙和氧化镁用火焰原子吸收光谱法
、
一氧化锰用过硫酸盐氧化分光光度法
。
但是,现有方法只能分次进行检测,需消耗大量试剂,产生大量的废液,同时耗费了大量的人力
、
时间,检测效率低下
。
技术实现思路
[0003]有鉴于此,本专利技术的目的在于提出一种熔融制样
‑
X
射线荧光光谱法测定锂矿石中元素的方法,以解决上述问题
。
[0004]基于上述目的,本专利技术提供了一种熔融制样
‑
X
射线荧光光谱法测定锂矿石中元素的方法,按照以下步骤进行:
[0005]S1、
称取锂矿石样品,并将锂矿石样品反复灼烧至恒重
。
[0006]S2、
分别称取一定重量的助熔剂和
S1
处理后得到的锂
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.
一种熔融制样
‑
X
射线荧光光谱法测定锂矿石中元素的方法,其特征在于,按照以下步骤进行:
S1、
称取锂矿石样品,并将锂矿石样品反复灼烧至恒重;
S2、
分别称取一定重量的助熔剂和
S1
处理后得到的锂矿石样品,加入至铂黄坩埚中并混合均匀;
S3、
向铂黄坩埚中加入脱模剂,并混合均匀;
S4、
对铂黄坩埚进行第一次加热,直至烘干铂黄坩埚内残余水分;
S5、
将铂黄坩埚放入至熔样机中进行第二次加热,制备
X
射线荧光光谱仪用玻璃样片;
S6、
采用理论
α
系数法建立
X
射线荧光光谱法工作曲线;
S7、
根据
X
射线荧光光谱法工作曲线测定锂矿石样品中元素含量
。2.
根据权利要求1所述的熔融制样
‑
X
射线荧光光谱法测定锂矿石中元素的方法,其特征在于,
S1
的具体步骤为:
S11、
称取
2g
的锂矿石样品;
S12、
将锂矿石样品置于已恒重的
20mL
瓷坩埚中,在
1050℃
下灼烧
45
分钟;
S13、
灼烧完成并初步冷却后,将锂矿石样品置于干燥器中冷却至室温后称重;
S14、
重复
S12
至
S13
,直至锂矿石样品恒重
。3.
根据权利要求1所述的熔融制样
‑
X
射线荧光光谱法测定锂矿石中元素的方法,其特征在于,助熔剂为四硼酸锂与偏硼酸锂的混合物,四硼酸锂与偏硼酸锂的重量比为
12:22。4.
根据权利要求1所述的熔融制样
技术研发人员:吴楠,赵超,王玉娟,王钊,杨姗姗,贾士青,付亚凤,
申请(专利权)人:石家庄海关技术中心,
类型:发明
国别省市:
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