一种芯片测试分选设备及方法技术

本发明专利技术涉及芯片测试分选技术领域，具体涉及一种芯片测试分选设备及方法，包括安装台、支撑架和测试机构，还包括分选组件；分选组件包括传动带、电动推杆、推出垫、放置构件、带动构件、导出构件、收集构件和辅助构件；传动带与支撑架通过带动构件连接，电动推杆与测试机构电连接，推动垫与电动推杆的输出端连接，放置构件与传动带连接，带动构件与支撑架连接，导出构件与测试机构连接，收集构件与安装台连接，辅助构件与支撑架连接，实现了能够通过设有的构件对检测不合格的芯片自动进行分选收集，不需要人工手动进行分拣，使得整个加工生产更加方便快捷。产更加方便快捷。产更加方便快捷。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试分选设备及方法


[0001]本专利技术涉及芯片测试分选
，尤其涉及一种芯片测试分选设备及方法。

技术介绍

[0002]芯片作为现在常用的电子元器件在进行加工生产时都需要将生产后的成品放入到对于的测试机构中进行对应的检测，然后将测试结果不合格的加工成品挑选出来。
[0003]但是采用上述方式，在现有的设备在进行工作时都需要工人长时间守在机器的显示屏幕前，当出现不合格产品时便要及时手动分选出来，如此便会导致整个测试分选过程耗费人力较大，使得整个加工生产十分不便。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种芯片测试分选设备及方法，能够通过设有的构件对检测不合格的芯片自动进行分选收集，不需要人工手动进行分拣，使得整个加工生产更加方便快捷。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了一种芯片测试分选设备及方法，包括安装台、支撑架和测试机构，所述支撑架固定安装在所述安装台的一侧，所述测试机构安装在所述安装台的一侧，还包括分选组件；
[0006]所述分选组件包括传动带、电动推杆、推出垫、放置构件、带动构件、导出构件、收集构件和辅助构件；所述传动带与所述支撑架通过所述带动构件连接，并位于所述支撑架的一侧，所述电动推杆与所述测试机构电连接，并固定安装在所述测试机构的一侧，所述推动垫与所述电动推杆的输出端连接，并位于所述电动推杆的一侧，所述放置构件与所述传动带连接，所述带动构件与所述支撑架连接，所述导出构件与所述测试机构连接，所述收集构件与所述安装台连接，所述辅助构件与所述支撑架连接。
[0007]其中，所述放置构件包括固定支架和放置盘，所述固定支架与所述传动带固定连接，并位于所述传动带的一侧；所述放置盘与所述固定支架固定连接，并位于所述固定支架的一侧。
[0008]其中，所述带动构件包括旋转轴、带动轴和带动电机，所述旋转轴与所述传动带连接，并转动安装在所述支撑架的一侧；所述带动轴与所述传动带连接，并转动安装在所述支撑架的一侧；所述带动电机的输出轴与所述带动轴连接，所述带动电机固定安装在所述支撑架的一侧。
[0009]其中，所述导出构件包括引导板、限位挡板和计数部件，所述引导板与所述测试机构固定连接，并位于所述测试机构的一侧，所述限位挡板与所述引导板固定连接，并位于所述引导板的一侧；所述计数部件与所述引导板连接。
[0010]其中，所述计数部件包括红外线传感器、接收块和显示器，所述红外线传感器与所述限位挡板连接，并位于所述限位挡板的一侧；所述接收块与所述引导板固定连接，并位于所述引导板靠近所述红外线传感器的一侧；所述显示器与所述接收器电连接，并固定安装
在所述测试机构的一侧。
[0011]其中，所述收集构件包括搁置台、限位块和收纳部件，所述搁置台与所述安装台固定连接，并位于所述安装台的一侧；所述限位块与所述搁置台固定连接，并位于所述搁置台的一侧；；所述收纳部件位于所述搁置台的一。
[0012]其中，所述收纳部件包括装载箱、安装底板、夹持架和滚轮，所述装载箱放置在所述搁置台的一侧；所述安装底板与所述装载箱固定连接，并位于所述装载箱的一侧；所述夹持架与所述安装底板转动连接，并位于所述安装底板的一侧；所述滚轮与所述夹持架转动连接，并位于所述夹持架的一侧。
[0013]其中，所述辅助构件包括吹尘风机、侧边架、滑动挡板和驱动部件，所述吹尘风机与所述支撑架固定连接，并位于所述支撑架的一侧；所述侧边架与所述引导板固定连接，并位于所述引导板的一侧；所述滑动挡板与所述侧边架滑动连接，并位于所述侧边架的一侧；所述驱动部件与所述侧边架连接。
[0014]其中，所述驱动部件包括驱动螺杆和驱动电机，所述驱动螺杆与所述滑动挡板螺纹连接，并转动安装在所述侧边架的一侧；所述驱动电机的输出轴与所述驱动螺杆连接，所述驱动电机固定安装在所述侧边架的一侧。
[0015]本专利技术的一种芯片测试分选设备及方法，通过所述带动电机带动所述带动轴进行转动，在所述带动轴的带动下所述传动带便会进行对应的运动，如此便可通过所述传动带将放置在所述放置盘上的待检测工件进行传输，所述放置盘上放置的工件在所述传动带的带动下与所述测试机构进行配合，在所述测试机构检测完成后如果产品合格所述放置盘便会在所述传动带的作用下进行后续的对应加工或者测试，当检测到产品合格，在所述传动带将所述放置盘带出所述测试机构的测试范围后，所述电动推杆便会推动所述放置盘上的产品到所述引导板上，然后被推出的不合格产品再通过所述引导板进入到对应的收集构件，而且在不合格产品通过所述引导板时，所述红外线传感器与所述接收块还可以对产品数量进行计数，使得用户后期可以更好的对不合格产品数量进行记录，实现了能够通过设有的构件对检测不合格的芯片自动进行分选收集，不需要人工手动进行分拣，使得整个加工生产更加方便快捷。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0017]图1是本专利技术第一实施例的芯片测试分选设备整体的结构示意图。
[0018]图2是本专利技术第一实施例的带动轴的安装结构示意图。
[0019]图3是本专利技术第二实施例的芯片测试分选设备整体的结构示意图。
[0020]图4是本专利技术第三实施例的芯片测试分选设备整体的结构示意图。
[0021]图5是本专利技术第三实施例的图4的A处放大图。
[0022]图6是本专利技术第四实施例的芯片测试分选方法的流程图。
[0023]图中：101
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安装台、102
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支撑架、103
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测试机构、104
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传动带、105
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电动推杆、106
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推出垫、107
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固定支架、108
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放置盘、109
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旋转轴、110
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带动轴、111
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带动电机、112
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引导板、113
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限位挡板、114
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红外线传感器、115
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接收块、116
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显示器、201
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搁置台、202
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限位块、
203
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装载箱、204
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安装底板、205
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夹持架、206
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滚轮、301
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吹尘风机、302
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侧边架、303
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滑动挡板、304
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驱动螺杆、305
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驱动电机。
具体实施方式
[0024]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0025]本申请的第一实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试分选设备，包括安装台、支撑架和测试机构，所述支撑架固定安装在所述安装台的一侧，所述测试机构安装在所述安装台的一侧，其特征在于，还包括分选组件；所述分选组件包括传动带、电动推杆、推出垫、放置构件、带动构件、导出构件、收集构件和辅助构件；所述传动带与所述支撑架通过所述带动构件连接，并位于所述支撑架的一侧，所述电动推杆与所述测试机构电连接，并固定安装在所述测试机构的一侧，所述推动垫与所述电动推杆的输出端连接，并位于所述电动推杆的一侧，所述放置构件与所述传动带连接，所述带动构件与所述支撑架连接，所述导出构件与所述测试机构连接，所述收集构件与所述安装台连接，所述辅助构件与所述支撑架连接。2.如权利要求1所述的芯片测试分选设备，其特征在于，所述放置构件包括固定支架和放置盘，所述固定支架与所述传动带固定连接，并位于所述传动带的一侧；所述放置盘与所述固定支架固定连接，并位于所述固定支架的一侧。3.如权利要求1所述的芯片测试分选设备，其特征在于，所述带动构件包括旋转轴、带动轴和带动电机，所述旋转轴与所述传动带连接，并转动安装在所述支撑架的一侧；所述带动轴与所述传动带连接，并转动安装在所述支撑架的一侧；所述带动电机的输出轴与所述带动轴连接，所述带动电机固定安装在所述支撑架的一侧。4.如权利要求1所述的芯片测试分选设备，其特征在于，所述导出构件包括引导板、限位挡板和计数部件，所述引导板与所述测试机构固定连接，并位于所述测试机构的一侧，所述限位挡板与所述引导板固定连接，并位于所述引导板的一侧；所述计数部件与所述引导板连接。5.如权利要求4所述的芯片测试分选设备，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄祥恩，匡嘉乐，韦文龙，陆瑜，冯琳丽，
申请(专利权)人：桂林芯隆科技有限公司，
类型：发明
国别省市：