一种光接收芯片测试设备制造技术

本技术涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种光接收芯片测试设备，包括测试台和防护组件，防护组件包括转向块、测试板、测试头、防护箱、转动块和防护板，转向块用于转动测试板，测试板位于转向块远离测试台的一侧，测试头固定安装在测试板的下表面，防护箱固定安装在测试台的上表面，转动块用于转动防护板，防护板位于转动块远离防护箱的一侧，通过防护箱和防护板对测试头进行完全防护，从而避免了测试头直接裸露在空气中会导致空气中的灰尘等杂质附着在测试头上而对测试头的测试效果造成影响。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片测试，尤其涉及一种光接收芯片测试设备。

技术介绍

1、在芯片的生产加工过程中，需要使用芯片测试设备对芯片的性能进行检测，现有的芯片测试设备在测试完成后芯片需要人工一一夹取，从而增加了工作人员的工作量，进而降低了设备的工作效率。

2、现有技术cn218824579u公开了一种芯片测试设备，包括测试台和放置槽，并采用测试板对芯片进行测试，本专利技术提供的芯片测试设备能够自动对芯片进行弹出，从而不需要人工一一夹取，进而提高了设备的工作效率。

3、在不使用测试板时，需要对测试板上的测试头进行防护，以避免空气中的灰尘等杂质附着在测试头上，但是上述所采用的测试板附近未设置防护组件，导致在不使用时，测试板上的测试头直接裸露在空气中。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种光接收芯片测试设备，旨在能够在不使用测试板时能够对测试板上的测试头进行遮挡防护，从而避免了测试板上的测试头直接裸露在空气中会导致空气中的灰尘等杂质附着在测试头上而对测试头的测试效果造成影响。

2、为实现上述目的，本技术提供了一种光接收芯片测试设备，包括测试台，还包括防护组件，所述防护组件包括转向块、测试板、测试头、防护箱、转动块和防护板，所述转向块用于转动所述测试板，所述测试板位于所述转向块远离所述测试台的一侧，所述测试头固定安装在所述测试板的下表面，所述防护箱固定安装在所述测试台的上表面，所述转动块用于转动所述防护板，所述防护板位于所述转动块远离所述防护箱的一侧。

<p>3、其中，所述转向块包括控制电机和转动杆，所述控制电机固定安装在所述测试台的内侧；所述转动杆的两端分别与所述控制电机的输出端和所述测试板连接，所述转动杆贯穿所述测试台。

4、其中，所述转动块包括固定块和连接杆，所述固定块固定安装在所述防护箱的外侧；所述连接杆与所述防护板转动连接，并固定安装在所述固定块远离所述防护箱的一侧。

5、其中，所述光接收芯片测试设备还包括固定组件，所述固定组件用于限位固定所述防护板。

6、其中，所述固定组件包括连接块和卡接块，所述连接块固定安装在所述防护板靠近所述防护箱的一侧；所述卡接块与所述连接块滑动连接，并位于所述连接块远离所述防护板的一侧。

7、其中，所述固定组件还包括活动杆和操作板，所述活动杆固定安装在所述卡接块远离所述连接块的一侧，并贯穿所述防护箱；所述操作板固定安装在所述活动杆远离所述卡接块的一端。

8、其中，所述固定组件还包括连接弹簧，所述连接弹簧的两侧分别与所述防护箱和所述操作板固定连接，所述连接弹簧套设在所述活动杆的外侧。

9、本技术的一种光接收芯片测试设备，所述转向块用于转动所述测试板，所述测试板位于所述转向块远离所述测试台的一侧，所述测试头固定安装在所述测试板的下表面，所述防护箱固定安装在所述测试台的上表面，所述转动块用于转动所述防护板，所述防护板位于所述转动块远离所述防护箱的一侧，通过所述防护箱和所述防护板对所述测试头进行完全防护，从而避免了所述测试头直接裸露在空气中会导致空气中的灰尘等杂质附着在所述测试头上而对所述测试头的测试效果造成影响。

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【技术保护点】

1.一种光接收芯片测试设备，包括测试台，其特征在于，

2.如权利要求1所述的光接收芯片测试设备，其特征在于，

3.如权利要求1所述的光接收芯片测试设备，其特征在于，

4.如权利要求1所述的光接收芯片测试设备，其特征在于，

5.如权利要求4所述的光接收芯片测试设备，其特征在于，

6.如权利要求5所述的光接收芯片测试设备，其特征在于，

7.如权利要求6所述的光接收芯片测试设备，其特征在于，

【技术特征摘要】

1.一种光接收芯片测试设备，包括测试台，其特征在于，

2.如权利要求1所述的光接收芯片测试设备，其特征在于，

3.如权利要求1所述的光接收芯片测试设备，其特征在于，

4.如权利要求1所述的光接收...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄祥恩，匡嘉乐，韦文龙，唐佛雨，李乐宜，廖云峰，
申请(专利权)人：桂林芯隆科技有限公司，
类型：新型
国别省市：