一种缺陷检测方法及视觉检测设备技术

本发明专利技术涉及视觉检测技术领域，公开了一种缺陷检测方法及视觉检测设备。该方法包括：获取待测产品对应的目标图像，待测产品包括多个检测部位，从目标图像中提取待测产品的每个目标区域图像，每个目标区域图像与相应检测部位对应，且合格产品中的每个检测部位规律地排列在合格产品上，确定每个目标区域图像在待测产品上的实时图像位置，根据实时图像位置、指定起始位置及预设间隔，确定待测产品的缺陷检测结果。本发明专利技术通过确定可识别出的检测部位的实时图像位置，根据实时图像位置指定起始位置及预设间隔，可检测待测产品上是否存在有缺陷的检测部位，合理利用了待测产品的检测部位在待测产品上规律排列的特点，实现对待测产品的可靠检测。靠检测。靠检测。

【技术实现步骤摘要】
一种缺陷检测方法及视觉检测设备


[0001]本专利技术涉及视觉检测
，特别是涉及一种缺陷检测方法及视觉检测设备。

技术介绍

[0002]基于光学原理的自动光学检测(AOI)技术是一种新兴起的新型测试技术，自动光学检测一般是指是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。自动检测的过程中，测试设备通过图像采集装置自动扫描PCB，采集图像，测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出PCB上缺陷，并通过显示装置或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整。
[0003]目前，使用AOI技术检测产品中规律排列的部件，例如PCB板卡上的插针时，一般是先对PCB板卡的每一个插针单独画一个ROI(感兴趣区域，region of interest)，通过判断各个ROI内是否存在插针来检测产品的缺陷，亦即，若ROI内存在插针，则说明ROI对应的区域不存在缺陷问题，若ROI内未存在插针，则说明ROI对应的区域存在缺陷问题，例如插针偏移出正常位置或插针缺失。然而，此种检测算法非常依赖对PCB的定位，若定位不准确，加上单个插针的面积过小，容易出现本不存在缺陷的插针未能落入ROI内而导致误报的风险。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种缺陷检测方法及视觉检测设备，能够改善相关技术中缺陷检测不够准确的技术问题。
[0005]本专利技术实施例为改善上述技术问题提供了如下技术方案：
[0006]在第一方面，本专利技术实施例提供了一种缺陷检测方法，包括：<br/>[0007]获取待测产品对应的目标图像，所述待测产品包括多个检测部位；
[0008]根据所述目标图像，提取所述待测产品的每个目标区域图像，其中，每个所述目标区域图像与相应检测部位对应，且合格产品中的每个检测部位规律地排列在所述合格产品上；
[0009]确定每个所述目标区域图像在所述待测产品上的实时图像位置；
[0010]根据所述实时图像位置、指定起始位置及预设间隔，确定所述待测产品的缺陷检测结果。
[0011]可选的，每个所述检测部位按照在所述合格产品上的排列顺序被配置有相应序号，所述根据所述实时图像位置、指定起始位置及预设间隔，确定所述待测产品的缺陷检测结果包括：
[0012]根据指定起始位置、预设间隔及每个所述检测部位的序号，确定每个所述检测部位的合格图像位置；
[0013]将每个所述合格图像位置与每个所述实时图像位置进行比对，得到比对结果；
[0014]根据所述比对结果，确定所述待测产品的缺陷检测结果。
[0015]可选的，所述根据指定起始位置、预设间隔及每个所述检测部位的序号，确定每个
所述检测部位的合格图像位置包括：
[0016]计算所述指定起始位置的序号与每个所述检测部位的序号的间隔差值；
[0017]根据所述间隔差值与预设间隔，计算偏移距离；
[0018]根据所述指定起始位置与所述偏移距离，确定每个所述检测部位的合格图像位置。
[0019]可选的，所述将每个所述合格图像位置与每个所述实时图像位置进行比对，得到比对结果包括：
[0020]按照指定选择顺序，依序选择每个候选合格图像位置，每个所述候选合格图像位置都为尚未进行比对的合格图像位置；
[0021]按照指定比对顺序，将每个所述候选合格图像位置依次与每个所述实时图像位置进行比对。
[0022]可选的，所述根据所述比对结果，确定所述待测产品的缺陷检测结果包括：
[0023]若所述比对结果为比对成功结果，则确定所述待测产品中与所述候选合格图像位置对应的图像位置存在检测部位；
[0024]若所述比对结果为比对失败结果，则确定所述待测产品中与所述候选合格图像位置对应的图像位置不存在检测部位。
[0025]可选的，在根据所述实时图像位置、指定起始位置及预设间隔，确定所述待测产品的缺陷检测结果之前，还包括：
[0026]获取预置合格位置，所述预置合格位置为所述合格产品中指定序号对应的合格图像位置；
[0027]按照指定比对顺序，将所述预置合格位置依次与每个所述实时图像位置进行匹配；
[0028]若比对成功，则选择所述待测产品中与所述预置合格位置比对成功的实时图像位置作为指定起始位置；
[0029]若比对失败，则选择所述预置合格位置作为指定起始位置。
[0030]可选的，所述指定序号为在所述合格产品中位于首端或末端的检测部位对应的序号。
[0031]可选的，还包括：
[0032]根据每个所述目标区域图像，确定拟合直线；
[0033]根据所述拟合直线的直线方程，判断每个目标实时图像位置是否偏移所述拟合直线，每个所述目标实时图像位置为各个所述实时图像位置中的一个；
[0034]若偏移，则标记目标序号对应的检测部位处于偏移状态，所述目标序号为所述目标实时图像位置映射在所述合格产品中的序号；
[0035]若不偏移，则确定所述目标实时图像位置在所述拟合直线上。
[0036]在第二方面，本专利技术实施例提供了一种视觉检测设备，包括：
[0037]图像采集装置，用于拍摄待测产品以得到对应的目标图像；
[0038]控制器，与所述图像采集装置电连接，其中，所述控制器包括至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0039]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一
个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如上所述的缺陷检测方法。
[0040]在第三方面，本专利技术实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使电子设备执行如上所述的缺陷检测方法。
[0041]本专利技术实施例的有益效果包括：提供一种缺陷检测方法及视觉检测设备。所述方法包括：获取待测产品对应的目标图像，待测产品包括多个检测部位，从目标图像中提取待测产品的每个目标区域图像，每个目标区域图像与相应检测部位对应，且合格产品中的每个检测部位规律地排列在合格产品上，确定每个目标区域图像在待测产品上的实时图像位置，根据实时图像位置、指定起始位置及预设间隔，确定待测产品的缺陷检测结果。本专利技术通过确定可识别出的检测部位的实时图像位置，根据实时图像位置指定起始位置及预设间隔，可检测待测产品上是否存在有缺陷的检测部位，巧妙利用了待测产品的检测部位在待测产品上规律排列的特点，实现对待测产品的可靠检测。
附图说明
[0042]一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片仅作为示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
[0043]图1是本专利技术实施例提供的一种视觉检测设备的结构示意图；
[0044]图2是本专利技术实施例提供的一种缺陷检测方法的流程示意图；
[0045]图3是本发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待测产品对应的目标图像，所述待测产品包括多个检测部位；根据所述目标图像，提取所述待测产品的每个目标区域图像，其中，每个所述目标区域图像与相应检测部位对应，且合格产品中的每个检测部位规律地排列在所述合格产品上；确定每个所述目标区域图像在所述待测产品上的实时图像位置；根据所述实时图像位置、指定起始位置及预设间隔，确定所述待测产品的缺陷检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，每个所述检测部位按照在所述合格产品上的排列顺序被配置有相应序号，所述根据所述实时图像位置、指定起始位置及预设间隔，确定所述待测产品的缺陷检测结果包括：根据指定起始位置、预设间隔及每个所述检测部位的序号，确定每个所述检测部位的合格图像位置；将每个所述合格图像位置与每个所述实时图像位置进行比对，得到比对结果；根据所述比对结果，确定所述待测产品的缺陷检测结果。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据指定起始位置、预设间隔及每个所述检测部位的序号，确定每个所述检测部位的合格图像位置包括：计算所述指定起始位置的序号与每个所述检测部位的序号的间隔差值；根据所述间隔差值与预设间隔，计算偏移距离；根据所述指定起始位置与所述偏移距离，确定每个所述检测部位的合格图像位置。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将每个所述合格图像位置与每个所述实时图像位置进行比对，得到比对结果包括：按照指定选择顺序，依序选择每个候选合格图像位置，每个所述候选合格图像位置都为尚未进行比对的合格图像位置；按照指定比对顺序，将每个所述候选合格图像位置依次与每个所述实时图像位置进行比对。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述比对结果，确定所述待测产品的缺陷检测结果包括：若所述比对结果为比对成功结果，则确定所述待测产品中与所述候选合格图像位置对应的图像位...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵政，
申请(专利权)人：广州镭晨智能装备科技有限公司，
类型：发明
国别省市：