光学检测仪制造技术

本发明专利技术公开一种光学检测仪，包括基座，基座的两侧设置有轨道机构，轨道机构包括：第一驱动件、滚轮组件和链轮组件，滚轮组件包括至少两个滚动轮，至少两个滚动轮分别为主动轮和至少一个从动轮，主动轮连接有第一转轴，第一转轴与第一驱动件传动连接以驱动主动轮转动，从动轮连接有第二转轴，第一转轴通过轴承与基座连接，第二转轴通过轴承与基座连接；链轮组件包括链轮本体和链条，第一转轴和第二转轴上均设置链轮本体，相邻两个链轮本体通过链条连接。转轴和基座之间通过轴承连接，可以提高转轴的负载能力；通过设置链轮组件，可以保证全部的滚动轮具有相同的转速，避免出现跳齿现象导致个别滚动轮和面板之间出现打滑现象造成面板的磨损。面板的磨损。面板的磨损。

【技术实现步骤摘要】
光学检测仪


[0001]本专利技术涉及检测设备领域，尤其涉及一种光学检测仪。

技术介绍

[0002]光学检测仪是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。当自动检测时，光学检测仪通过摄像头自动扫描面板，采集图像，测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出面板上的缺陷，并通过显示设备把缺陷显示出来，供维修人员修整。
[0003]随着技术的不断革新，显示屏的尺寸逐渐增大，显示屏内面板的尺寸和重量也相应增大。为了使原有的光学检测仪能够检测重量较大的面板，通常采用的方式是增大轨道的尺寸以增大轨道的的负载能力。大轨道的设置会遮挡光学检测仪上检测相机的光源，导致面板邻近轨道区域的成像模糊，影响光学检测仪的检测精度。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例的目的在于：提供一种光学检测仪，其检测精度较高。
[0005]为达上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0006]提供一种光学检测仪，包括基座，所述基座的两侧设置有轨道机构，所述轨道机构包括：
[0007]第一驱动件；
[0008]滚轮组件，所述滚轮组件包括至少两个滚动轮，至少两个所述滚动轮分别为主动轮和至少一个从动轮，所述主动轮连接有第一转轴，所述第一转轴与所述第一驱动件传动连接以驱动所述主动轮转动，所述从动轮连接有第二转轴，所述第一转轴通过轴承与所述基座连接，所述第二转轴通过所述轴承与所述基座连接；
[0009]链轮组件，所述链轮组件包括链轮本体和链条，所述第一转轴和所述第二转轴上均设置所述链轮本体，相邻两个所述链轮本体通过所述链条连接。
[0010]本专利技术的有益效果为：转轴和基座之间通过轴承连接，可以提高转轴的负载能力，从而可以减小滚动轮的尺寸，减少轨道机构的尺寸，光学检测仪的光源分别设置在面板的上方和下方，轨道机构尺寸的减小可以减少轨道机构在竖直方向上对光线的遮挡，提高面板成像的清晰度，进而提高检测精度；通过设置链轮组件，可以保证全部的滚动轮具有相同的转速，避免出现跳齿现象导致个别滚动轮和面板之间出现打滑现象造成面板的磨损，提高面板的成品率的同时还可以提高轨道机构的负载能力。
附图说明
[0011]下面根据附图和实施例对本专利技术作进一步详细说明。
[0012]图1为本专利技术实施例所述光学检测仪示意图(普通检测模式)。
[0013]图2为本专利技术实施例所述光学检测仪示意图(大板检测模式)。
[0014]图3为本专利技术实施例所述光学检测仪局部示意图(普通检测模式)。
[0015]图4为本专利技术实施例所述光学检测仪局部分解示意图(普通检测模式)。
[0016]图5为本专利技术实施例所述光学检测仪局部示意图(大板检测模式)。
[0017]图6为本专利技术实施例所述光学检测仪局部示意图(部分保护壳未示出)。
[0018]图7为本专利技术实施例所述轨道机构和基座的剖视示意图。
[0019]图8为本专利技术实施例所述宽度调节机构示意图。
[0020]图中：
[0021]100、检测区域；200、上料区域；300、下料区域；
[0022]1、基座；2、滚轮组件；201、滚动轮；2011、工作侧面；2012、凸台；202、辅助轮；3、链轮组件；301、链轮本体；302、链条；4、第一驱动件；5、支撑块；6、第二转轴；7、角接触轴承；8、宽度调节机构；801、第二电机；802、丝杆；803、螺母；804、导轨；805、拖链；9、传感器；10、挡停机构；1001、挡停块；1002、第二驱动件；11、保护壳；12、压紧机构；1201、压爪；1202、第三驱动件；1203、安装板；13、轴套；14、替换块；15、齿轮组件；1501、第一齿轮；1502、第二齿轮。
具体实施方式
[0023]为使本专利技术解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0024]如图1至图7所示，本专利技术提供的一种光学检测仪，图中的X方向为光学检测仪对面板的运输方向，光学检测仪包括基座1，基座1的两侧设置有轨道机构，轨道机构包括第一驱动件4、链轮组件3和滚轮组件2，滚轮组件2包括至少两个滚动轮201，滚动轮201用于驱动面板移动，至少两个滚动轮201分别为主动轮和至少一个从动轮，主动轮连接有第一转轴，第一转轴与第一驱动件4传动连接以驱动主动轮转动，从动轮连接有第二转轴6，第一转轴和第二转轴6均通过轴承与基座1连接，链轮组件3包括链轮本体301和链条302，第一转轴和第二转轴6上均设置有链轮本体301，相邻两个链轮本体301通过链条302连接。在本实施例中，第一转轴和第二转轴6的轴线方向均与水平方向一致，参照图6和图7，第二转轴6的轴线方向与图中的X方向垂直，第二转轴6的一端和滚动轮201连接，第二转轴6的另一端和链轮本体301连接。第二转轴6和基座1之间通过轴承连接，可以提高第二转轴6的负载能力，从而可以减小滚动轮201的尺寸，减少轨道机构的尺寸，在本实施例中，光学检测仪的光源分别设置在面板的上方和下方，轨道机构尺寸的减小可以减少轨道机构在竖直方向上对光线的遮挡，提高面板成像的清晰度，进而提高检测精度；通过设置链轮组件3，可以保证全部的滚动轮201具有相同的转速，避免出现跳齿现象导致个别滚动轮201和面板之间出现打滑现象造成面板的磨损，提高面板的成品率的同时还可以提高轨道机构的负载能力。
[0025]参照图7，具体地，本实施例中的轴承为角接触轴承7，第二转轴6通过两个反装的角接触轴承7与基座1连接。角接触轴承7反装指的是角接触轴承7的外圈宽端面相对，即两个角接触轴承7的压力中心距离大于两个角接触轴承7中点的跨距。设置两个反装的角接触轴承7，可以提高第二转轴6应对轴向和径向负载的能力，这样可以进一步减小滚动轮201的尺寸，减少滚轮组件2对光线的遮挡，提高检测精度。在其他实施例中，轴承还可以是深沟球
轴承，可以根据实际需要选择合适的轴承种类。
[0026]具体地，在本实施例中，主动轮和第一转轴一体成型，从动轮和第二转轴6一体成型，这样可以提高滚动轮201和转轴的强度，进一步增大轨道机构的负载能力，从而减小轨道机构对光线的遮挡。为了降低链轮本体301和第二转轴6之间的组装难度，第二转轴6的外部套设有轴套13，轴套13设置在角接触轴承7和链轮组件3之间，安装时，可以先将第二转轴6和角接触轴承7与基座1进行安装，然后将轴套13套在第二转轴6的外周实现第二转轴6的安装固定，然后再组装链轮组件3。
[0027]具体地，滚轮组件2包括辅助轮202，辅助轮202设置在相邻两个滚动轮201之间。通过设置辅助轮202，可以减小相邻两个滚轮之间的间隙，避免面板落入到间隙内发生卡死现象，提高轨道机构的传动平本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学检测仪，包括基座，所述基座的两侧设置有轨道机构，其特征在于，所述轨道机构包括：第一驱动件；滚轮组件，所述滚轮组件包括至少两个滚动轮，至少两个所述滚动轮分别为主动轮和至少一个从动轮，所述主动轮连接有第一转轴，所述第一转轴与所述第一驱动件传动连接以驱动所述主动轮转动，所述从动轮连接有第二转轴，所述第一转轴通过轴承与所述基座连接，所述第二转轴通过所述轴承与所述基座连接；链轮组件，所述链轮组件包括链轮本体和链条，所述第一转轴和所述第二转轴上均设置所述链轮本体，相邻两个所述链轮本体通过所述链条连接。2.根据权利要求1所述的光学检测仪，其特征在于，所述轴承为角接触轴承或深沟球轴承，所述转轴通过反装的两个所述轴承与所述基座连接。3.根据权利要求1所述的光学检测仪，其特征在于，所述主动轮和所述第一转轴一体成型；和/或，所述从动轮和所述第二转轴一体成型。4.根据权利要求1所述的光学检测仪，其特征在于，所述滚轮组件包括辅助轮，所述辅助轮设置在相邻两个所述滚动轮之间。5.根据权利要求1所述的光学检测仪，其特征在于，所述滚动轮具有工作侧面，所述工作侧面凸出设置有凸台，所述凸台的周部抵在面板的下表面。6.根据权利要求5所述的光学检测仪，其特征在于，所述基座上设置有连接两个所述轨道机构的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张沈佳，
申请(专利权)人：广州镭晨智能装备科技有限公司，
类型：发明
国别省市：