平面表面波纹度测量装置制造方法及图纸

平面表面波纹度测量装置，是用于零件平面加工后表面波纹度的测量装置；由数显千分表、工字型滑块、紧固螺钉、测量头、测量基座、固紧螺钉和标准半圆杆组成；将两个标准半圆杆用固紧螺钉固定在测量基座下端上，将数显千分表的表轴装在工字型滑块的孔中，用紧固螺钉固定，将工字型滑块装在测量基座顶面上制出的卡槽内，工字型滑块在卡槽内可自由滑动，将测量头装在数显千分表表轴的下端上；优点：为测量表面波纹度提供了测量装置；平面表面波纹度测量装置结构紧凑，使用方便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术创造是用于零件平面加工后表面波纹度的测量 装置。
技术介绍
表面波纹度是指零件平面在加工过程中，由于机床、 零件、刀具系统刚性不足而引起的振动，在零件平面表面形成波纹状 的加工痕迹。表面波纹度是由重复出现的峰和谷组成，峰和谷各有明 显周期性。平面的表面特征一般由表面粗齒度、表面波纹度和表面几何形状误差三个参数确定，其中表面粗糙度属微观量，通常波长小于lmm，相应的测量仪器有轮廓仪等；表面几何形状误差属宏观量，波长在 10mm以上，相应的测量仪器有电子测微仪及其它的大型测量设备； 表面波纹度介于微观量和宏观量之间波长在1 10mm，目前没有检测 该参数的测量设备。
技术实现思路
本专利技术创造的目的是提供一种能测量表面波纹度的平'面表面波纹度测量装置；本专利技术创造的目的是通过下述的技术方案实 现的平面表面波纹度测量装置，其特征在于由数显千分表、工字型 滑块、紧固螺钉、测量头、测量基座、固紧螺钉和标准半圆杆组成； 标准半圆杆上面制成平面，下面制成半圆面，在半圆面上制出两个凹 槽；工字型滑块上制有游标，中心制有装数显千分表表轴的孔及侧面 制出紧固螺钉的安装螺孔；测量基座上制有标尺，在测量基座顶面上制有装工字型滑块的卡槽及在中部制有长槽通孔；将两个标准半圆杆 用固紧螺钉固定在测量基座下端上，将数显千分表的表轴装在工字型 滑块的孔中，用紧固螺钉固定，将工字型滑块装在测量基座顶面上制 出的卡槽内，工字型滑块在卡槽内可自由滑动，将测量头装在数显千 分表表轴的下端上。本专利技术创造的优点为测量表面波纹度提供了测量装置；平面表 面波纹度测量装置结构紧凑，使用方便。附图.说明附图说明图1是平面表面波纹度测量装置结构示意图； 图2是带标尺的测量基座的俯视示意图； 图3是带游标的工字型滑块俯视示意图； 图4是图3的侧视示意图5.是平面表面波纹度测量装置中的标准半圆杆结构示意图； 图6是波纹度波形示意图7.是图6局部放大图(粗糙度波形示意图)；图8是^3mm测量头示意图9是滤除表面粗糙度参数示意图IO是带有平面度误差的波纹度波形示意图11是平面表面波纹度测量装置测量前将数显千分表清零示意图12是平面表面波纹度测量装置测量过程示意图； 图13'是平面表面聘纹度测量装置数据采集点示意图。图1至图5中的1、数显千分表2、工字型滑块3、紧固螺 钉4、测量头5、测量基座6、固紧螺钉7、标准半圆杆具体实施例方式平面表面波纹度测量装置，其特征在于由数显千 分表、工字型滑块、紧固螺钉、测量头、测量基座、固紧螺钉和标准 半圆杆组成；标准半圆杆上面制成平面，下面制成半圆面，在半圆面 上制出两个凹槽；工字型滑块上制有游标，中心制有装数显千分表表 轴的孔及侧面制出紧固螺钉的安装螺？L;测量基座上制有标尺，在测 量基座顶面上制有装工字型滑块的卡槽及在中部制有长槽通孔；将两 个标准半圆杆用固紧螺钉固定在测量基座下端上，将数显千分表的表 轴装在工字型滑块的孔中，用紧固螺钉固定，将工字型滑块装在测量 基座顶面上制出的卡槽内，工字型滑块在卡槽内可自由滑动，将测量 头装在数显千分表表轴的下端上。平面表面波纹度参数测量需要解决两个关键问题问题1、如何在零件平面表面的三个特征参数中将微观量表面粗 糙度参数滤除。解决办法本专利技术在设计时充分考虑了微观量表面粗糙度参数滤 除问题，由于微观量表面粗糙度参数的波长都小于lmm，而波纹度 的波长在l 10mm之间，如图6、 7所示，所以将平面表面波纹度测 量装置的测量头触测部位标准球的直径设计为1.5mm和3mm,如图 8所示，这样在波纹度测量的过程中，可以目测被测表面波纹度轮廓 的波长选择不同的测量头，在保证标准球的直径远远大于粗糙度参数 的波长的同时，保证测量头能与被测表面波纹度轮廓完全接触，由于标准球的直径远远大于粗糙度参数的波长，就可以将微观量表面粗糙度参数有效滤除，如图9所示。问题2、如何在零件平面表面的三个特征参数中将宏观量表面几 何形状误差滤除。解决办法 一般平面的宏观量表面几何形状误差是由平面的平面度参数确定的，如图io所示，为了滤除如图IO所示的表面宏观几何 形状平面度将会引入的0.02mm的误差，在测量前先将平面表面波纹 度测量装置放置在标准平面上，在该装置的测量基准线位置将数显千 分表清零，如图11所示。如图12所示，测量时将该装置放在带有波纹度的被测面上，测 量基座底部上两个标准半圆杆与被测面波纹的两个最高点成线接触， 在测量头沿被测平面移动的过程中，数显千分表显示的拐点值为波峰 波谷相对于标准半圆杆测量基准线的变化量，如图12中的hl、 h2所 示，与实际平面的平面度无关，这样就有效的滤除了表面宏观几何形 状平面度的影响。检测过程如下测量前，先将平面表面波纹度测量装置放置在标准平面上，将数 显千分表在该装置的测量基准线位置清零。清零后将该装置放置在被 测面上，测量方向的选*应使数显千分表的测量头移动方向与被测面 的加工痕迹方向垂直，将游标零点与标尺零点的重合位置作为测量头 移动的起始点，滑动带游标的工字型滑块，带动测量头移动，在移动 的过程式中，分别记录数显千分表的拐点值即波峰波谷相对于标准半圆杆测量基准线的变化量hl、 h2、 h3…，并同时通过标尺和游标记录 在每个拐点处测量头的移动量即波纹的波长值Ll、 L2、 L3…，如图， 13所示。上述过程即是测量数据的收集过程，依据数据处理方法的不同， 波纹度参数有几种不同的表达方式，如波纹度轮廓最大高度Wi、波纹 度轮廓不平的平均高度W。等，可以依据客户不同的检测需求做相应的 数据处理。权利要求1、平面表面波纹度测量装置，其特征在于由数显千分表、工字型滑块、紧固螺钉、测量头、测量基座、固紧螺钉和标准半圆杆组成；标准半圆杆上面制成平面，下面制成半圆面，在半圆面上制出两个凹槽；工字型滑块上制有游标，中心制有装数显千分表表轴的孔及侧面制出紧固螺钉的安装螺孔；测量基座上制有标尺，在测量基座顶面上制有装工字型滑块的卡槽及在中部制有长槽通孔；将两个标准半圆杆用固紧螺钉固定在测量基座下端上，将数显千分表的表轴装在工字型滑块的孔中，用紧固螺钉固定，将工字型滑块装在测量基座顶面上制出的卡槽内，工字型滑块在卡槽内可自由滑动，将测量头装在数显千分表表轴的下端上。全文摘要平面表面波纹度测量装置，是用于零件平面加工后表面波纹度的测量装置；由数显千分表、工字型滑块、紧固螺钉、测量头、测量基座、固紧螺钉和标准半圆杆组成；将两个标准半圆杆用固紧螺钉固定在测量基座下端上，将数显千分表的表轴装在工字型滑块的孔中，用紧固螺钉固定，将工字型滑块装在测量基座顶面上制出的卡槽内，工字型滑块在卡槽内可自由滑动，将测量头装在数显千分表表轴的下端上；优点为测量表面波纹度提供了测量装置；平面表面波纹度测量装置结构紧凑，使用方便。文档编号G01B5/28GK101614517SQ20091001315公开日2009年12月30日 申请日期2009年8月13日 优先权日2009年8月13日专利技术者孙永峰, 李大伟, 燕 王, 王守坤, 石晓华, 顾天尕 申请人:沈阳飞机工业(集团)有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
平面表面波纹度测量装置，其特征在于由数显千分表、工字型滑块、紧固螺钉、测量头、测量基座、固紧螺钉和标准半圆杆组成；标准半圆杆上面制成平面，下面制成半圆面，在半圆面上制出两个凹槽；工字型滑块上制有游标，中心制有装数显千分表表轴的孔及侧面制出紧固螺钉的安装螺孔；测量基座上制有标尺，在测量基座顶面上制有装工字型滑块的卡槽及在中部制有长槽通孔；将两个标准半圆杆用固紧螺钉固定在测量基座下端上，将数显千分表的表轴装在工字型滑块的孔中，用紧固螺钉固定，将工字型滑块装在测量基座顶面上制出的卡槽内，工字型滑块在卡槽内可自由滑动，将测量头装在数显千分表表轴的下端上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：石晓华，孙永峰，王守坤，顾天尕，李大伟，王燕，
申请(专利权)人：沈阳飞机工业集团有限公司，
类型：发明
国别省市：89[中国|沈阳]