检测装置制造方法及图纸

一种检测装置，适于检测待测物的待测面的平面度。检测装置包括平台、支撑架、套筒、第一杆件、滚轮、第二杆件、第三杆件、绘图板与绘笔，其中平台适于承载待测物，而支撑架则配置于平台上。套筒可滑动地配置于支撑架上，而套筒与平台表面互相垂直，且套筒的移动路径与平台表面平行。第一杆件穿设于套筒中，且滚轮枢设于第一杆件的一端，而第一杆件的另一端则枢接至第二杆件的一端。第三杆件的一端可滑动地配置于支撑架上，而第三杆件的另一端枢接至第二杆件的两端之间。绘图板配置于平台上，而绘笔配置于第二杆件的另一端。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是有关于一种量测装置，且特别是有关于一种量测平面度的检测装置。
技术介绍
近年来，随着计算机科技的突飞猛进，计算机的运作速度也不断地加快，因此计算机主机内部电子元件的发热功率也不断地攀升。为了预防计算机主机内部的电子元件因过热而产生暂时性或永久性地失效，电子元件的散热效能变得非常重要。就现有技术而言，为了有效降低电子元件运作时所产生的热能，在计算机主机的机壳内部加装散热风扇以提供热对流的形式来加以散热。此外，更可直接在计算机主机的电源供应器、中央处理单元(central processing unit，CPU)及绘图处理单元(graphic processing unit，GPU)，甚至是芯片组等温度容易升高的电子元件上加装散热风扇与散热片(heat spreader)，以便迅速地移除这些电子元件于运作时所产生的热能。就中央处理单元而言，由于制造精度的影响使得散热片与中央处理单元之间并无法完全贴合，因此在散热片与中央处理单元之间通常会配置一热垫片，以提高散热片与中央处理单元之间的热传导效率。然而，热垫片的阻抗值与其厚度成正比。换言之，若使用较薄的热垫片，则对于散热片与中央处理单元的平面度的要求也就相对提高。目前量测平面度的仪器例如是三维量床或是雷射干涉仪，这些量测仪器大多体积庞大且价格不斐。
技术实现思路
本技术的目的就是在于提供一种检测装置，以能够简便地量测待测物的平面度。为达上述目的，本技术提出一种检测装置，其适于检测一待测物的一待测面的平面度。此检测装置包括一平台、一支撑架、一套筒、一第一杆件、一滚轮、一第二杆件、一第三杆件、一绘图板以及一绘笔，其中平台适于承载待测物，而支撑架则配置于平台上。套筒为可滑动地配置于支撑架上，且套筒与平台表面互相垂直，而套筒的移动路径与平台表面平行。另外，第一杆件穿设于套筒之中，而滚轮枢设于第一杆件的一端，且第一杆件的另一端则枢接至第二杆件的一端。第三杆件的一端为可滑动地配置于支撑架上，而第三杆件的另一端枢接至第二杆件的两端之间，且第三杆件的移动路径与平台表面平行。此外，绘图板配置于平台上，而绘笔配置于第二杆件的另一端。当滚轮与待测面接触，且套筒带动第一杆件移动时，第一杆件会带动第二杆件，以使绘笔在绘图板上绘出待测面的轮廓。此外，上述的检测装置更包括一推杆，且此推杆连接至套筒，并适于带动套筒移动。相较于现有技术，本技术因采用简单的连杆机构，便可在绘图板上绘出待测面的轮廓，因此本技术的检测装置不仅成本较低，且操作容易。附图说明图1为本技术检测装置示意图。图2为本技术待测路线示意图。具体实施方式请参考图1，检测装置100适于检测一待测物200的待测面212的平面度。此检测装置100包括一平台110、一支撑架120、一套筒130、一第一杆件140、一滚轮150、一第二杆件142、一第三杆件144、一绘图板160以及一绘笔170，其中平台110用以承载待测物200，而支撑架120配置于平台110上。套筒130为可滑动地配置于支撑架120上，且套筒130与平台110的表面112互相垂直。此外，套筒130的移动路径与平台表面112平行，且第一杆件140是穿设于套筒130之中。换言之，套筒130适于带动第一杆件140沿着平行于平台表面112的方向移动，且第一杆件140适于垂直于平台表面112的方向移动。滚轮150枢设于第一杆件140的一端，且为了增加滚轮150的使用寿命，滚轮150的材质例如是金属、塑料或其它耐磨的材质。此外，第一杆件140的另一端枢接至第二杆件142的一端，而绘笔170配置于第二杆件142的另一端。另外，绘图板160配置于平台110上，且绘笔170与绘图板160接触。再者，第三杆件144的一端可滑动地配置于支撑架120之上，而第三杆件144的另一端枢接至第二杆件142的两端之间。值得一提的是，为了便于推动套筒130，此检测装置100更包括一连接至套筒130的推杆180。而有关于检测装置100的操作流程将详述如后。请同时参考图1及图2，检测装置100的操作流程包括下列步骤。首先，在待测物200上规划出待测路线ab、cd、ef、gh及ij，然后将待测物200置于平台110上，且滚轮150置放在待测物200的待测面212上，并对准待测路线ab。接着，推动推杆180，以使滚轮150由待测面212的a端移动至b端，而推动推杆180的方式例如是人工或是机器手臂。当滚轮150经过待测面212的不平之处时，滚轮150将带动第一杆件140上下移动。此时，第一杆件140以第三杆件144为支点，因此绘笔170在绘图板160上绘出待测路线ab的代表的轮廓kl。当待测路线ab的代表的轮廓kl已绘制于绘图板160上后，移动待测物200，以使滚轮150对准待测路线cd，而移动待测物200的方法例如是人工或是机器手臂。如此重复上述的步骤直到将所有待测线段cd、ef、gh及ij所代表的待测面212的轮廓均绘制于绘图板160上为止。量测人员便可依据绘图板160显示的轮廓，以便于判断待测面212的平整度是否符合要求。值得一提的是，绘图板160也可采用滚动条型态，以使待测面212的轮廓得以绘制于其上。此外，绘图板160也可调整高度，以便于记录不同待测线段的轮廓。综上所述，本技术的检测装置利用简单的连杆机构，便可检测出待测物的平面度，因此本技术的检测装置不仅成本较低，且操作容易。此外，经由变更第二杆件与第三杆件的枢接点的位置，并搭配选择滚轮的直径便可调整本技术的检测装置的检测精度。权利要求1.一种检测装置，适于检测一待测物的一待测面的平面度，其特征在于该检测装置包括一平台，适于承载该待测物；一支撑架，配置于该平台上；一套筒，可滑动地配置于该支撑架上，而该套筒的移动路径与该平台表面平行，且该套筒与该平台表面垂直；一第一杆件，穿设该套筒；一滚轮，枢设于该第一杆件的一端；一第二杆件，该第二杆件的一端枢接至该第一杆件的另一端；一第三杆件，该第三杆件的一端可滑动地配置于该支撑架上，而该第三杆件的另一端枢接至该第二杆件的两端之间，且该第三杆件的移动路径与该平台表面平行；一绘图板，配置于该平台上；以及一绘笔，配置于该第二杆件的另一端。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于更包括一推杆，连接至该套筒，而该推杆适于带动该套筒移动。3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于该滚轮的材质包括金属。专利摘要一种检测装置，适于检测待测物的待测面的平面度。检测装置包括平台、支撑架、套筒、第一杆件、滚轮、第二杆件、第三杆件、绘图板与绘笔，其中平台适于承载待测物，而支撑架则配置于平台上。套筒可滑动地配置于支撑架上，而套筒与平台表面互相垂直，且套筒的移动路径与平台表面平行。第一杆件穿设于套筒中，且滚轮枢设于第一杆件的一端，而第一杆件的另一端则枢接至第二杆件的一端。第三杆件的一端可滑动地配置于支撑架上，而第三杆件的另一端枢接至第二杆件的两端之间。绘图板配置于平台上，而绘笔配置于第二杆件的另一端。文档编号G01B5/28GK2859453SQ20052004211公开日2007年1月17日 申请日期2005年6月2日 优先权日2005年6月2日专利技术者汪保华 申请人:上海环达计本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测装置，适于检测一待测物的一待测面的平面度，其特征在于：该检测装置包括：一平台，适于承载该待测物；一支撑架，配置于该平台上；一套筒，可滑动地配置于该支撑架上，而该套筒的移动路径与该平台表面平行，且该套筒与该平台表面垂直；一第一杆件，穿设该套筒；一滚轮，枢设于该第一杆件的一端；一第二杆件，该第二杆件的一端枢接至该第一杆件的另一端；一第三杆件，该第三杆件的一端可滑动地配置于该支撑架上，而该第三杆件的另一端枢接至该第二杆件的两端之间，且该第三杆件的移动路径与该平台表面平行；一绘图板，配置于该平台上；以及一绘笔，配置于该第二杆件的另一端。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：汪保华，
申请(专利权)人：上海环达计算机科技有限公司，神达电脑股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]