一种芯片测试用多工位测试板制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试用多工位测试板，包括底座，底座上侧开设有凹槽，凹槽内部通过转轴旋转安装有测试座，测试座上侧设有滑槽和螺杆，螺杆上通过滑块螺纹滑动安装有测试板，且测试板内中部开设有测试接孔，且滑槽、螺杆和测试板设置有多组，底座上侧中部安装有立架，立架内顶部通过气缸安装有测试笔，转轴下端通过齿轮组传动连接有电机，本实用新型专利技术由于测试板通过滑块和螺杆滑动设置在测试座的滑槽内，且滑槽、螺杆和测试板设置有多组，测试座的转轴下端通过齿轮组传动连接有电机，使得通过电机和齿轮组能够驱动测试座水平旋转调节，从而能够切换不同的测试板进行测试使用处理，上下料交替设置测试，极大提高了芯片测试的效率。的效率。的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试用多工位测试板


[0001]本技术涉及芯片测试设备
，具体是一种芯片测试用多工位测试板。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。集成电路芯片包括硅基板、电路、固定封环、接地环混合至少一组防护环的电子元件。集成电路芯片在加工完成后需要进行相关的测试处理，进行判断出所测试的集成电路芯片的好坏。
[0003]现有技术中申请号为CN201920840072.5的一种多工位PCBA板测试台，其解决了原有多工位PCBA板测试台不便调节、稳定性较差的问题，该技术结构合理，稳固效果好，调节便利，但是，不便于对测试座旋转调节，从而不便于切换不同的测试板进行测试使用处理，不利于上下料交替设置测试，从而影响芯片测试的效率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种芯片测试用多工位测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试用多工位测试板，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上侧中部开设有凹槽(2)，所述凹槽(2)内部通过转轴(12)旋转安装有测试座(3)，所述测试座(3)上侧开设有滑槽(4)，所述滑槽(4)内旋转安装有螺杆(6)，所述螺杆(6)上通过滑块(18)螺纹滑动安装有测试板(5)，且测试板(5)内中部开设有测试接孔(10)，且滑槽(4)、螺杆(6)和测试板(5)设置有多组，所述底座(1)上侧中部安装有立架(9)，所述立架(9)内顶部通过气缸(16)安装有测试笔(17)，所述转轴(12)下端通过齿轮组传动连接有电机(15)。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用多工位测试板，其特征在于：所述立架(9)设置成U型支架，所述立架(9)外侧安装有PL...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐玉鑫，张隽，满维华，
申请(专利权)人：无锡市爱普达微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：