一种超导量子芯片测试方法、装置以及介质制造方法及图纸

本申请涉及超导量子芯片测试领域，公开了一种超导量子芯片测试方法、装置以及介质，通过获取用户设定的测控线路配置和相关参数；确认各测控线路配置的优化迭代循环算法以及测试流程；根据各测控线路配置施加对应的调控波形；发送指令至测控系统以进行测试并获取测试数据。采用本技术方案，用户只需要为超导量子芯片选择测控线路配置并为其设定相关参数，确认优化迭代循环算法以及测试流程，通过施加调控波形后，测控系统即可开始进行测试，从而实现对超导量子芯片的测试。在本技术方案中，用户可以对测试流程顺序、循环内容、优化方法等进行自由组合，并根据存储的优化迭代算法，支持多种测试需求，减少了人力资源的浪费，提高了测试效率。了测试效率。了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种超导量子芯片测试方法、装置以及介质


[0001]本申请涉及超导量子芯片测试领域，特别是涉及一种超导量子芯片测试方法、装置以及介质。

技术介绍

[0002]超导量子芯片在完成室温基本工艺检测后，需要在低温环境下，获取与量子比特共振的信号参数，结合适当的调控技术，实现保真度较高的量子逻辑门，从而利用这些量子逻辑门组成量子线路，完成量子算法。常见的获取与量子比特共振的信号参数并利用该参数实现量子逻辑门的表征手段统称为超导量子芯片测试。
[0003]在当前技术中，通常需要人工进行测试，但是在实际过程中，由于涉及多路信号的测试校准，测试流程中具有大量数据参数，整个流程需要消耗大量的时间且会随着量子比特数目的增加，计算复杂度会呈指数型增长。
[0004]由此可见，如何提供一种更加便捷的超导量子芯片测试方法是本领域技术人员亟待解决的问题。

技术实现思路

[0005]本申请的目的是提供一种超导量子芯片测试方法、装置以及介质，用于在进行超导量子芯片测试时减少人力资源的浪费，提高测试效率。
[0006]为解决上述技术问题，本申请提供一种超导量子芯片测试方法，包括：
[0007]获取用户设定的测控线路配置和对应的相关参数；
[0008]根据各所述测控线路配置施加对应的调控波形；
[0009]根据用户设定确认各所述测控线路配置的优化迭代循环算法以及测试流程；
[0010]发送指令至测控系统以进行测试并获取测试数据。
[0011]优选的，在获取到所述测试数据之后，还包括：
[0012]调用数据库中的标准数据对所述测试数据进行标定。
[0013]优选的，还包括：
[0014]根据所述测试数据显示各测试流程的测试结果和各测试流程的所用时间。
[0015]优选的，还包括：
[0016]指示各所述测控线路配置未经校准的相关参数。
[0017]优选的，还包括：在测试的过程中展示当前测试流程位置。
[0018]优选的，还包括：显示各所述测控线路配置的调控波形是否经过校准。
[0019]优选的，所述根据各所述测控线路配置施加对应的调控波形为：
[0020]调用实验序列模板为各所述测控线路配置施加对应的调控波形。
[0021]为解决上述技术问题，本申请还提供一种超导量子芯片测试装置，包括：
[0022]获取模块，用于获取用户设定的测控线路配置和对应的相关参数；
[0023]施加模块，用于根据各所述测控线路配置施加对应的调控波形；
[0024]确认模块，用于根据用户设定确认各所述测控线路配置的优化迭代循环算法以及测试流程；
[0025]发送模块，用于发送指令至测控系统以进行测试并获取测试数据。
[0026]为解决上述技术问题，本申请还提供另一种超导量子芯片测试装置，包括存储器，用于存储计算机程序；
[0027]处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述的超导量子芯片测试方法的步骤。
[0028]为解决上述技术问题，本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的超导量子芯片测试方法的步骤。
[0029]本申请所提供的超导量子芯片测试方法，通过获取用户设定的测控线路配置和相关参数；根据用户设定确认各测控线路配置的优化迭代循环算法以及测试流程；根据各测控线路配置施加对应的调控波形；发送指令至测控系统以进行测试并获取测试数据。相对于当前技术中，人工进行超导量子芯片测试需要经过复杂的计算以及多个操作步骤，浪费大量时间以及人力资源，采用本技术方案，用户只需要为超导量子芯片选择测控线路配置并为其设定相关参数，确认优化迭代循环算法以及测试流程，通过施加调控波形后，即可发送指令至测控系统开始进行测试，并接收测控系统反馈的测试数据，从而实现对超导量子芯片的测试。在本技术方案中，用户可以对测试流程顺序、循环内容、优化方法等进行自由组合，并根据存储的优化迭代算法，支持多种测试需求，减少了人力资源的浪费，提高了测试效率。
[0030]此外，本申请所提供的超导量子芯片测试装置以及介质与上述超导量子芯片测试方法相对应，效果同上。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本申请实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1为本申请实施例提供的一种超导量子芯片测试方法的流程图；
[0033]图2为本申请实施例提供的一种超导量子芯片测试方法框架说明图；
[0034]图3为本申请实施例提供的一种自动化流程定义交互界面示意图；
[0035]图4为本申请实施例提供的一种超导量子芯片测试装置的结构图；
[0036]图5为本申请实施例提供的另一种超导量子芯片测试装置的结构图。
具体实施方式
[0037]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护范围。
[0038]超导量子芯片在完成室温基本工艺检测后，需要在低温环境下，获取与量子比特
共振的信号参数，结合适当的调控技术，实现保真度较高的量子逻辑门，从而利用这些量子逻辑门组成量子线路，完成量子算法，常见的获取与量子比特共振的信号参数并利用该参数实现量子逻辑门的表征手段统称为超导量子芯片测试。在实际过程中，由于涉及多路信号测试校准，测试流程基于迭代优化思想，即利用已知数据获取粗略参数信息，再根据此信息补充实验反过来进行优化迭代，最终获取精度较高的参数。
[0039]在当前技术中，通常需要人工进行测试，但是在实际过程中，由于涉及多路信号的测试校准，测试流程中具有大量数据参数，整个流程需要消耗大量的时间且会随着量子比特数目的增加，计算复杂度会呈指数型增长。
[0040]本申请的核心是提供一种超导量子芯片测试方法、装置以及介质，用于在进行超导量子芯片测试时减少人力资源的浪费，提高测试效率。
[0041]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步的详细说明。
[0042]图1为本申请实施例提供的一种超导量子芯片测试方法的流程图，如图1所示，该方法包括：
[0043]S10：获取用户设定的测控线路配置和对应的相关参数；
[0044]S11：根据各测控线路配置施加对应的调控波形；
[0045]S12：根据用户设定确认各测控线路配置的优化迭代循环算法以及测试流程；
[0046]S13：发送指令至测控系统以进行测试并获取测试数据。
[本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超导量子芯片测试方法，其特征在于，包括：获取用户设定的测控线路配置和对应的相关参数；根据各所述测控线路配置施加对应的调控波形；根据用户设定确认各所述测控线路配置的优化迭代循环算法以及测试流程；发送指令至测控系统以进行测试并获取测试数据。2.根据权利要求1所述的超导量子芯片测试方法，其特征在于，在获取到所述测试数据之后，还包括：调用数据库中的标准数据对所述测试数据进行标定。3.根据权利要求1所述的超导量子芯片测试方法，其特征在于，还包括：根据所述测试数据显示各测试流程的测试结果和各测试流程的所用时间。4.根据权利要求1所述的超导量子芯片测试方法，其特征在于，还包括：指示各所述测控线路配置未经校准的相关参数。5.根据权利要求1所述的超导量子芯片测试方法，其特征在于，还包括：在测试的过程中展示当前测试流程位置。6.根据权利要求1所述的超导量子芯片测试方法，其特征在于，还包括：显示各所述测控线路配置的调控波形是否经...

【专利技术属性】
技术研发人员：李泽东，周慧德，栾添，
申请(专利权)人：量子科技长三角产业创新中心，
类型：发明
国别省市：