一种多检测功能的集成电路芯片测试机制造技术

本发明专利技术公开了一种多检测功能的集成电路芯片测试机，包括测试台体，测试台体呈圆台体结构设置，测试台体的外圆周上设有工位容置通槽，工位容置通槽设有若干个，工位容置通槽等间距均匀分布在测试台体上，工位容置通槽相对两侧的测试台体上设有测试夹具，测试台体的一侧通过支架机构设有清洁机构，清洁机构一侧的测试台体边缘通过支架机构设有一号测试机构，一号测试机构一侧的测试台体边缘通过支架机构设有二号测试机构，二号测试机构与清洁机构相对设置，测试台体的工位容置通槽内部通过测试夹具装夹设有集成电路芯片本体

【技术实现步骤摘要】
一种多检测功能的集成电路芯片测试机


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，尤其是涉及一种多检测功能的集成电路芯片测试机
。

技术介绍

[0002]集成电路芯片是包括一硅基础板
、
至少一电路
、
一固定封环
、
一接地环以及至少一防护环的电子元件
。
其基本结构为：电路形成于硅基础板上，电路具有至少一输入
/
输出垫；固定封环形成于硅基础板上，并围绕电路及输入
/
输出垫；接地环形成于硅基础板及输入
/
输出垫之间，并与固定封环电连接；防护环设置于硅基础板之上，并围绕输入
/
输出垫，用以与固定封环电连接
。
为了保证集成电路芯片的稳定顺利工作，需要对加工后的集成电路芯片进行测试，计算成品率并筛选出残次品，而测试工装就是对集成电路芯片进行固定，以稳固地对集成电路芯片进行测试的工具
。
[0003]目前集成电路芯片测试设备采用单工位设计，虽然测试设备体积小，但对集成芯片测试操本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种多检测功能的集成电路芯片测试机，包括测试台体
(1)
，其特征在于：所述测试台体
(1)
呈圆台体结构设置，所述测试台体
(1)
的外圆周上等间距均匀分布设有若干个工位容置通槽
(2)
，所述工位容置通槽
(2)
相对两侧的测试台体
(1)
上设有测试夹具
(3)
，所述测试台体
(1)
的一侧通过支架机构设有清洁机构，所述清洁机构一侧的测试台体
(1)
边缘通过支架机构设有一号测试机构，所述一号测试机构一侧的测试台体
(1)
边缘通过支架机构设有二号测试机构，所述二号测试机构与清洁机构相对设置；所述测试台体
(1)
的工位容置通槽
(2)
内部通过测试夹具
(3)
装夹设有集成电路芯片本体
(13)
，所述测试台体
(1)
底部的中间设有支撑座
(9)
，所述支撑座
(9)
的内部设有转动轴
(10)
，所述转动轴
(10)
的顶部与测试台体
(1)
底部的中间固定安装，所述转动轴
(10)
的底部与支撑座
(9)
上的旋转驱动机构
(11)
连接，所述集成电路芯片本体
(13)
通过测试台体
(1)
的旋转由清洁机构
、
一号测试机构
、
二号测试机构的中间穿过
。2.
根据权利要求1所述的一种多检测功能的集成电路芯片测试机，其特征在于：所述支架机构包括升降机构
(4)
和支撑架
(8)
，测试台体
(1)
的圆周外侧设有支撑架
(8)
，支撑架
(8)
靠近测试台体
(1)
的一侧设有升降机构
(4)
，升降机构
(4)
包括导轨槽
(41)、
双向螺杆
(42)、
螺纹座
(43)
和伺服电机
(44)
，支撑架
(8)
靠近测试台体
(1)
一侧的中间设有导轨槽
(41)
，导轨槽
(41)
的内部设有双向螺杆
(42)
，双向螺杆
(42)
上螺纹设有两个螺纹座
(43)
，两个螺纹座
(43)
关于测试台体
(1)
上装夹的集成电路芯片本体
(13)
对称设置，双向螺杆
(42)
的顶部通过联轴器与支撑架
(8)
顶部伺服电机
(44)
的输出端连接
。3.
根据权利要求1所述的一种多检测功能的集成电路芯片测试机，其特征在于：所述测试夹具
(3)
包括液压缸
(31)
和夹具座
(32)
，工位容置通槽
(2)
相对两侧的测试台体
(1)
上均设有液压缸
(31)
，液压缸
(31)
的输出端通过液压杆与夹具座
(32)
连接，所述夹具座
(32)
包括一号夹具板
(321)、
二号夹具板
(322)、
调节螺杆
(323)
和支撑板
(324)
，一号夹具板
(321)
的一侧与液压杆连接，一号夹具板
(321)
的底部设有二号夹具板
(322)
，二号夹具板
(322)
和一号夹具板
(321)
之间呈
L
型结构设置，二号夹具板
(322)
的上方设有支撑板
(324)
，支撑板
(324)
通过调节螺杆<...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐玉鑫，
申请(专利权)人：无锡市爱普达微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：