适用于交换电路的自测试系统技术方案

本发明专利技术提供了一种适用于交换电路的自测试系统

【技术实现步骤摘要】
适用于交换电路的自测试系统、方法及设备


[0001]本专利技术涉及交换电路自测试
，具体地，涉及一种适用于交换电路的自测试系统
、
方法及设备
。

技术介绍

[0002]交换芯片在批量生产以后需要进行接口测试，如果直接通过
ixia
测试仪来进行接口的通路测试，不仅效率低下，而且需要耗费大量的人力物力
。
为此就有回环测试的产生，现有的回环测试方法有基于
SWITCH
的，有基于
1553B
总线双端口交叉回环的，有基于
FPGA
的多协议高速伪随信号回环的技术，应用在不同的领域
。
而本专利技术在回环测试的基础上还结合了内部自测试功能，即通过芯片本身就可以实现发帧功能，这样不仅节约了测试时间成本而且摆脱了对
ixia
测试仪等外部设备的依赖，提高了测试的效率
。
[0003]专利文献
CN115113021A(
申请号：
CN202210699552.0)
公开了一种
PCIe
交换电路的测试装置及方法，该装置设置在被测试的
PCIe
电路中，该装置设置了由端口组成的测试口，用于控制测试组的测试管理模块，以及保存测试结果的测试结果寄存器
。
然而该专利无法实现本专利技术带来的技术效果
。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中的缺陷，本专利技术的目的是提供一种适用于交换电路的自测试系统
、
方法及设备
。
[0005]根据本专利技术提供的适用于交换电路的自测试系统，包括：将四个外部
PIN
脚作为测试引脚，分别为
test0、test1、test2
和
test led
；所述
test0
用于配置端口
VLAN
；所述
test1
用于配置千兆介质无关接口
GMII
的链接状态；所述
test2
用于配置自发帧模式；所述
test led
用于控制
Led
灯点亮；
[0006]首先将交换芯片的外部端口两两对连，然后通过
test0
引脚配置端口
VLAN
模式，使不同的端口处于不同的
VLAN
中，同时强制链接端口0～5，待所有端口链接且系统复位完毕后，触发自动发帧，然后
IMP
端口把帧同时发往端口0和端口5，然后有两路数据帧同时转发，其中一路从
IMP
端口输出依次经过端口
0、
端口
1、
端口
2、
端口
3、
端口4和端口5，最终再转发到
IMP
端口；另一路从
IMP
端口输出依次经过端口
5、
端口
4、
端口
3、
端口
2、
端口1和端口0，最终再转发到
IMP
端口；此时
IMP
端口接收到两路数据帧，
IMP
发送端口将监测到收到两倍数量的帧，触发
test led
输出引脚点亮外部的灯，从而实现自发帧功能
。
[0007]优选的，在自测试模式下，首先配置端口
VLAN
的
test0
选通测试模块的信号组，同时配置
GMII
的
LINK
状态的
test1
选通强制
LINK
所有端口，配置自发帧模式的
test2
选通
IMP
端口自发帧模式的信号组，然后通过内部的自测试模块对
IMP
端口线速发送帧长为
64
字节，数量为
256
的帧，此时控制
Led
灯点亮的
test led
开始计数，当
IMP
端口的发送端检测到收到两倍数量的帧时，触发
test led
输出引脚点亮外部的灯
。
[0008]优选的，配置端口
VLAN
的
test0
采用
mux
结构，在测试模式下，选通测试模块的信号
组，旁路
bypass
正常模式的信号组；在正常模式下，旁路
bypass
测试模块的信号组，选通正常模式的信号组
。
[0009]优选的，配置
GMII
的
LINK
状态的
test1
采用
mux
结构，在测试模式下，选通强制
LINK
的信号组，路旁覆盖
bypass override
寄存器值的信号组；在正常模式下，旁路
bypass
强制
LINK
的信号组，选通
override
寄存器值的信号组
。
[0010]优选的，配置自发帧模式的
test2
采用
mux
结构，在测试模式下，选通
IMP
端口自发帧模式的信号组，
bypassIMP
端口接收模式的信号组；在正常模式下，选通
IMP
端口接收模式的信号组，
bypassIMP
端口自发帧模式的信号组
。
[0011]优选的，控制
Led
灯点亮的
test led
采用计数器模块，当
IMP
端口的发送端检测到收到两倍数量的帧，则触发
test led
输出引脚点亮外部的灯
。
[0012]优选的，交换芯片通过外部端口两两互连，然后自发帧模块往
IMP
端口发帧，代替网络测试仪，并且通过
test0
引脚配置端口
VLAN
模式，使不同的端口处于不同的
VLAN
中
。
[0013]优选的，触发自动发帧后，自测试模块开始往
IMP
端口发送
256
帧
64
字节的帧
。
[0014]根据本专利技术提供的适用于交换电路的自测试方法，采用所述的适用于交换电路的自测试系统，执行如下步骤：
[0015]将交换芯片的外部端口两两对连，通过
test0
引脚配置端口
VLAN
模式，使不同的端口处于不同的
VLAN
中；
[0016]强制链接端口0～5，待所有端口链接且系统复位完毕后，触发自动发帧；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种适用于交换电路的自测试系统，其特征在于，包括：将四个外部
PIN
脚作为测试引脚，分别为
test0、test1、test2
和
test led
；所述
test0
用于配置端口
VLAN
；所述
test1
用于配置千兆介质无关接口
GMII
的链接状态；所述
test2
用于配置自发帧模式；所述
test led
用于控制
Led
灯点亮；首先将交换芯片的外部端口两两对连，然后通过
test0
引脚配置端口
VLAN
模式，使不同的端口处于不同的
VLAN
中，同时强制链接端口0～5，待所有端口链接且系统复位完毕后，触发自动发帧，然后
IMP
端口把帧同时发往端口0和端口5，然后有两路数据帧同时转发，其中一路从
IMP
端口输出依次经过端口
0、
端口
1、
端口
2、
端口
3、
端口4和端口5，最终再转发到
IMP
端口；另一路从
IMP
端口输出依次经过端口
5、
端口
4、
端口
3、
端口
2、
端口1和端口0，最终再转发到
IMP
端口；此时
IMP
端口接收到两路数据帧，
IMP
发送端口将监测到收到两倍数量的帧，触发
test led
输出引脚点亮外部的灯，从而实现自发帧功能
。2.
根据权利要求1所述的适用于交换电路的自测试系统，其特征在于，在自测试模式下，首先配置端口
VLAN
的
test0
选通测试模块的信号组，同时配置
GMII
的
LINK
状态的
test1
选通强制
LINK
所有端口，配置自发帧模式的
test2
选通
IMP
端口自发帧模式的信号组，然后通过内部的自测试模块对
IMP
端口线速发送帧长为
64
字节，数量为
256
的帧，此时控制
Led
灯点亮的
test led
开始计数，当
IMP
端口的发送端检测到收到两倍数量的帧时，触发
testled
输出引脚点亮外部的灯
。3.
根据权利要求1所述的适用于交换电路的自测试系统，其特征在于，配置端口
VLAN
的
test0
采用
mux
结构，在测试模式下，选通测试模块的信号组，旁路
bypass
正常模式的信号组；在正常模式下，旁路
bypass
测试模块的信号组，选通正常模式的信号组
。4.
根据权利要求1所述的适用于交换电路的自测试系统，其特征在于，配置
GMII
的
LINK
状态的

【专利技术属性】
技术研发人员：王芸，赵永建，刘宇，段国东，戴天喆，刘玉静，
申请(专利权)人：华东计算技术研究所中国电子科技集团公司第三十二研究所，
类型：发明
国别省市：