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本发明公开了一种多检测功能的集成电路芯片测试机，包括测试台体，测试台体呈圆台体结构设置，测试台体的外圆周上设有工位容置通槽，工位容置通槽设有若干个，工位容置通槽等间距均匀分布在测试台体上，工位容置通槽相对两侧的测试台体上设有测试夹具，测试台...
该专利属于无锡市爱普达微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡市爱普达微电子有限公司授权不得商用。

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