本发明专利技术提供一种芯片电路测试装置及芯片测试系统，涉及芯片电路测试技术领域。该一种芯片电路测试装置，包括底座，所述底座两侧外壁上均固定连接有侧向支撑板，两块所述侧向支撑板上端面靠近前后端位置处均套设有气缸，位于两侧的所述气缸上端面分别固定连接有一号支撑架和二号支撑架，所述一号支撑架和二号支撑架相对一侧外壁上分别固定开设有调节滑槽和限位滑槽，所述调节滑槽前后内壁之间转动连接有调节丝杆，所述限位滑槽前后内壁之间固定连接有限位滑杆，所述调节丝杆外壁上螺纹套接有调节滑块，所述限位滑杆外壁上滑动套接有限位滑块。该装置整体结构设计合理，使用方便，不仅能够对芯片电路进行高效全面的检测，而且能够方便检测完毕后工人取下芯片，降低劳动强度，节省时间。节省时间。节省时间。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片电路测试装置及芯片测试系统
[0001]本专利技术涉及芯片电路测试
，具体为一种芯片电路测试装置及芯片测试系统。
技术介绍
[0002]简单来说,芯片测试就是使用专用的自动测试设备(ATE)检查制造出来的芯片其功能和性能是否满足一定的要求。因此,芯片测试会包含多方面的内容,可以分为直流参数测试,功能测试,混合信号参数测试,不同类型的芯片对测试会有不同的要求。
[0003]传统测试一般通过人工进行，在通路较多的情况下，人工测试容易遗漏，出现断路点不容易被发现，此外芯片测试后，由于引脚插入引脚槽导致取下芯片较为麻烦，基于此，我们提出一种芯片电路测试装置及芯片测试系统。
技术实现思路
[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种芯片电路测试装置及芯片测试系统，解决了人工进行检测存在效率低下，准确度不高，取下芯片难度大的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种芯片电路测试装置，包括底座，所述底座两侧外壁上均固定连接有侧向支撑板，两块所述侧向支撑板上端面靠近前后端位置处均套设有气缸，位于两侧的所述气缸上端面分别固定连接有一号支撑架和二号支撑架，所述一号支撑架和二号支撑架相对一侧外壁上分别固定开设有调节滑槽和限位滑槽，所述调节滑槽前后内壁之间转动连接有调节丝杆，所述限位滑槽前后内壁之间固定连接有限位滑杆，所述调节丝杆外壁上螺纹套接有调节滑块，所述限位滑杆外壁上滑动套接有限位滑块，所述调节滑块和限位滑块之间固定连接有桁架，所述桁架下端面固定开设有横向滑槽，所述横向滑槽两侧内壁之间固定连接有滑动支撑板，所述滑动支撑板上端面靠近两侧前后处均固定开设有限位轮槽，四个所述限位轮槽内均设置有支撑滑轮，位于同一侧的两个所述支撑滑轮内端固定套接有横轴，两个所述横轴前后端转动套接有吊架，两个所述吊架下端均固定连接有安装架，两个所述安装架下端面分别固定连接有超声检测仪和射线检测仪；
[0008]所述底座上端面固定连接有测试平台，所述测试平台上端面中部固定开设有凹槽，所述凹槽内活动设置有放置平台，所述凹槽下端面两侧均固定开设有矩形滑槽，所述矩形滑槽内端滑动套设有矩形滑块，所述矩形滑块内端螺纹套接有升降丝杆，所述升降丝杆下端面固定连接有T型转轴，所述测试平台内端固定开设有齿轮槽，所述齿轮槽两侧内壁之间转动连接有驱动杆，所述驱动杆两侧外壁上均固定套接有二号主动齿轮，所述底座上分别固定设置有信号参数测试电路、存储功能测试电路和芯片测试终端设备。
[0009]优选的，两个所述吊架后端面上均固定连接有驱动电机，所述驱动电机输出端固
定连接有一号主动齿轮，所述横轴后端贯穿吊架并固定连接有一号从动齿轮，所述一号从动齿轮与一号主动齿轮啮合。
[0010]优选的，两个所述T型转轴下端均贯穿齿轮槽并固定连接有二号从动齿轮，两个所述二号从动齿轮分别与两个二号主动齿轮啮合，所述驱动杆一端贯穿测试平台并固定连接有摇杆。
[0011]优选的，所述测试平台上端面固定开设有多个引脚槽。
[0012]优选的，所述一号支撑架后端面固定连接有调节电机，所述调节电机输出端贯穿调节滑槽并与调节丝杆固定连接。
[0013]优选的，所述信号参数测试电路和存储功能测试电路均与芯片测试终端设备电性连接。
[0014]优选的，所述矩形滑块与矩形滑槽滑动贴合设置。
[0015]一种芯片测试系统，包括以下测试流程：
[0016]S1.首先通过调节电机带动调节丝杆转动，实现带动调节滑块移动，进一步带动桁架进行前后移动；
[0017]S2.然后通过驱动电机带动一号主动齿轮转动，进一步带动一号从动齿轮转动，实现通过横轴带动支撑滑轮转动，进一步通过吊架带动安装架移动，进一步实现带动超声检测仪和射线检测仪对芯片整体扫描，找出断路点；
[0018]S3.通过信号参数测试电路和存储功能测试电路连接芯片测试终端设备进行芯片信号和存储功能测试。
[0019](三)有益效果
[0020]本专利技术提供了一种芯片电路测试装置及芯片测试系统。具备以下有益效果：
[0021]1、本专利技术提供了一种芯片电路测试装置及芯片测试系统，该装置通过采用驱动电机带动一号主动齿轮转动进一步带动一号从动齿轮转动，进一步带动横轴转动，进一步带动支撑滑轮转动，进一步使得超声检测仪和射线检测仪能够进行移动，配合调节电机带动桁架移动，实现对芯片电路板的整体扫描，并反馈到终端，能够测试出断路位置，以此快速判断电路板的合格情况，，同时利用芯片测试终端设备对信号参数测试电路和存储功能测试电路进行测试，极大的提升了检测效率。
[0022]2、本专利技术提供了一种芯片电路测试装置及芯片测试系统，该装置在测试完芯片电路板后可以利用摇杆带动驱动杆转动，进一步带动二号主动齿轮转动，进一步带动二号从动齿轮转动，进一步通过T型转轴带动升降丝杆转动，从而实现带动矩形滑块升降运动，从而能够通过放置平台上升带动芯片引脚从引脚槽内脱出，方便检测完毕后取下芯片，十分方便。
[0023]3、本专利技术提供了一种芯片电路测试装置及芯片测试系统，该装置整体结构设计合理，使用方便，不仅能够对芯片电路进行高效全面的检测，而且能够方便检测完毕后工人取下芯片，降低劳动强度，节省时间。
附图说明
[0024]图1为本专利技术的主结构示意图；
[0025]图2为本专利技术的局部结构正剖示意图；
[0026]图3为图2中A处结构放大示意图；
[0027]图4为本专利技术的支撑板处局部结构侧视示意图；
[0028]图5为本专利技术的底座上端俯视图；
[0029]图6为本专利技术的放置平台底部连接局部结构示意图。
[0030]其中，1、底座；2、侧向支撑板；3、气缸；4、一号支撑架；5、二号支撑架；6、调节滑槽；7、限位滑槽；8、调节丝杆；9、限位滑杆；10、调节滑块；11、限位滑块；12、桁架；13、横向滑槽；14、滑动支撑板；15、限位轮槽；16、支撑滑轮；17、横轴；18、吊架；19、安装架；20、超声检测仪；21、射线检测仪；22、一号从动齿轮；23、驱动电机；24、一号主动齿轮；25、测试平台；26、凹槽；27、放置平台；28、矩形滑槽；29、矩形滑块；30、升降丝杆；31、T型转轴；32、齿轮槽；33、二号从动齿轮；34、驱动杆；35、二号主动齿轮；36、摇杆；37、引脚槽；38、信号参数测试电路；39、存储功能测试电路；40、芯片测试终端设备；41、调节电机。
具体实施方式
[0031]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]实施例：
[0033]本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片电路测试装置，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)两侧外壁上均固定连接有侧向支撑板(2)，两块所述侧向支撑板(2)上端面靠近前后端位置处均套设有气缸(3)，位于两侧的所述气缸(3)上端面分别固定连接有一号支撑架(4)和二号支撑架(5)，所述一号支撑架(4)和二号支撑架(5)相对一侧外壁上分别固定开设有调节滑槽(6)和限位滑槽(7)，所述调节滑槽(6)前后内壁之间转动连接有调节丝杆(8)，所述限位滑槽(7)前后内壁之间固定连接有限位滑杆(9)，所述调节丝杆(8)外壁上螺纹套接有调节滑块(10)，所述限位滑杆(9)外壁上滑动套接有限位滑块(11)，所述调节滑块(10)和限位滑块(11)之间固定连接有桁架(12)，所述桁架(12)下端面固定开设有横向滑槽(13)，所述横向滑槽(13)两侧内壁之间固定连接有滑动支撑板(14)，所述滑动支撑板(14)上端面靠近两侧前后处均固定开设有限位轮槽(15)，四个所述限位轮槽(15)内均设置有支撑滑轮(16)，位于同一侧的两个所述支撑滑轮(16)内端固定套接有横轴(17)，两个所述横轴(17)前后端转动套接有吊架(18)，两个所述吊架(18)下端均固定连接有安装架(19)，两个所述安装架(19)下端面分别固定连接有超声检测仪(20)和射线检测仪(21)；所述底座(1)上端面固定连接有测试平台(25)，所述测试平台(25)上端面中部固定开设有凹槽(26)，所述凹槽(26)内活动设置有放置平台(27)，所述凹槽(26)下端面两侧均固定开设有矩形滑槽(28)，所述矩形滑槽(28)内端滑动套设有矩形滑块(29)，所述矩形滑块(29)内端螺纹套接有升降丝杆(30)，所述升降丝杆(30)下端面固定连接有T型转轴(31)，所述测试平台(25)内端固定开设有齿轮槽(32)，所述齿轮槽(32)两侧内壁之间转动连接有驱动杆(34)，所述驱动杆(34)两侧外壁上均固定套接有二号主动齿轮(35)，所述底座(1)上分别固定设置有信号参数测试电路(38)、存储功能测试电路(39)和芯...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐玉鑫，张隽，满维华，
申请(专利权)人：无锡市爱普达微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。