芯片测试机构制造技术

本申请涉及一种芯片测试机构，其包括测试机台和防护罩，测试机台内设置有PLC控制器，测试机台还设置有用于对芯片进行测的四工位测试组件，四工位测试组件与PLC控制器连接；四工位测试组件包括转盘部件、用于对芯片进行外观检测的视觉检测工位、用于对芯片进行检测的轨道检测工位、用于对芯片进行射频检测的屏蔽检测工位和用于根据测试结果对芯片进行分拣的分拣工位；轨道检测工位包括沿四工位转盘转动方向设置的弧形导轨和滑动设置在弧形导轨上用于对芯片进行检测的常规测试部件。本申请能够有效提高测试效率和测试精度的效果。够有效提高测试效率和测试精度的效果。够有效提高测试效率和测试精度的效果。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试机构


[0001]本申请涉及芯片测试的领域，尤其是涉及芯片测试机构。

技术介绍

[0002]芯片测试机构，广泛地应用在集成电路芯片的各种测试场合，用以辅助测试集成电路芯片的各脚位功能是否正常。同时随着智能互联技术的发展成熟，越来越多的芯片往往都设置有无线射频模块，而无线射频模块在进行测试时往往需要借助屏蔽箱提供无干扰环境。
[0003]公开号为CN115193762A的中国专利公开了一种汽车钥匙测试设备，其包括测试机台和安装在机台上防护罩，防护罩上设置有用于取放测试工件的测试窗口，测试机台上安装有PLC控制器、用于向设备供电的电控箱、气源组件以及用于对汽车钥匙主板进行烧录测试的多工位测试组件，电控箱、气源组件和多工位测试组件均与PLC控制器连接；多工位测试组件包括转盘部件、用于取放汽车钥匙主板的上下料工位、用于对汽车钥匙主板进行程序烧录的烧录工位、用于对汽车钥匙主板进行测试的测试工位和用于根据测试结果对汽车钥匙主板进行分拣的产品分拣工位。该申请为采用四工位并行工作，简化汽车钥匙测试操作，提高集成度。但是在芯片实际测试过程中，往往需要先对芯片进行识别，然后进行外观检测，再进行上电测试，最后再放入屏蔽箱中进行射频测试。在完成测试后打开屏蔽箱取出产品根据测试结果进行筛选打标。整个测试流程相当繁琐，即使集成设置在同一机台上，仍需要多处环节共同协作对待测试芯片一步一步进行检测，其中上电测试环节由于测试项目过多往往所需时间较长，其他工位在完成工作后仍需等待，容易导致测试效率和测试精度较低。
[0004]针对上述中的相关技术，现有芯片测试流程操作较为复杂，需要多环节共同协作，较为耗时耗力，容易导致测试效率和测试精度较低。

技术实现思路

[0005]为了解决现有芯片测试流程操作较为复杂，需要多环节共同协作，较为耗时耗力，容易导致测试效率和测试精度较低的问题，本申请提供芯片测试机构。
[0006]第一方面，本申请提供一种芯片测试机构，采用如下的技术方案：
[0007]一种芯片测试机构，包括测试机台和防护罩，所述防护罩上开设有用于取放芯片的测试窗口，所述测试机台内设置有PLC控制器，所述防护罩上设置有用于控制芯片测试机构的控制面板，所述控制面板与PLC控制器连接；所述测试机台还设置有用于对芯片进行测的四工位测试组件，所述四工位测试组件与PLC控制器连接；所述四工位测试组件包括转盘部件、用于对芯片进行外观检测的视觉检测工位、用于对芯片进行检测的轨道检测工位、用于对芯片进行射频检测的屏蔽检测工位和用于根据测试结果对芯片进行分拣的分拣工位；所述转盘部件包括转动设置在测试机台上的四工位转盘和用于驱动轮四工位转盘转动的驱动电机，所述视觉检测工位、轨道检测工位、屏蔽检测工位和分拣工位上均设有用于承载
待检测芯片的承载工装，四个所述承载工装均安装在四工位转盘上；所述轨道检测工位包括沿四工位转盘转动方向设置的弧形导轨和滑动设置在弧形导轨上用于对芯片进行检测的常规测试部件。
[0008]优选的，所述弧形导轨包括弧形轨体、滑动设置在弧形轨体上的导轨滑块和用于驱动导轨滑块滑动的驱动组件；所述常规测试部件包括常规探针安装板、用于对待测芯片进行检测的检测设备和常规升降气缸，所述常规升降气缸沿竖直方向设置且缸体与导轨滑块固定连接，所述常规升降气缸的活塞杆与常规探针安装板连接，所述常规探针安装板上安装有用于若干根对芯片进行检测的常规测试探针，若干根所述常规测试探针均与检测设备连接；所述常规探针安装板底部设置有若干根定位锁定销，所述承载工装顶部开设有若干个用于容纳定位锁定销的定位锁定孔。
[0009]优选的，所述常规升降气缸的活塞杆端部连接有保护板，所述保护板与探针安装板连接，所述保护板上开设有用于容纳常规测试探针的容纳孔。
[0010]优选的，所述驱动组件包括设置在弧形轨体上的齿条、转动设置在导轨滑块上与齿条啮合的驱动齿轮、转动设置在导轨滑块上与弧形轨体远离齿条一侧抵接的辅助滑轮和滑块电机，所述滑块电机安装在导轨滑块上且滑块电机的输出端与驱动齿轮传动连接；所述弧形轨体的两端均设置有用于放置导轨滑块脱落的防脱板。
[0011]优选的，所述视觉检测工位包括视频采集设备和扫码器，所述视频采集设备和扫码器均安装在防护罩上，所述视频采集设备设置有补光环形灯，所述测试窗口处安装有红外安全光幕。
[0012]优选的，所述承载工装包括承载底板和承载底座，所述承载底板采用屏蔽材料制成；所述定位锁定孔开设在承载底座顶部，所述承载底座顶部开设有用于盛放芯片的安装槽；所述四工位转盘与承载工装抵接处均设置有顶起口。
[0013]优选的，所述屏蔽检测工位包括承载支架、屏蔽箱和安装在屏蔽箱内用于对芯片进行测试的射频测试部件，所述屏蔽箱安装在承载支架上且底部开设有供承载底座通行的测试孔，所述测试机台的台板下方设置有用于顶起位于屏蔽检测工位的承载工装的测试气缸；所述射频测试部件包括屏蔽探针安装板、射频测试件、WiFi测试件和LED分析仪，所述屏蔽探针安装板位于测试孔上方且安装有若干根屏蔽测试探针，所述LED分析仪的测试光纤采集待测试芯片的LED色彩光强数据。
[0014]优选的，所述分拣工位包括分拣旋转气缸、连接板、气动夹爪和NG收纳盒，所述分拣旋转气缸安装在测试机台上，且所述分拣旋转气缸的输出端通过连接板与气动夹爪连接。
[0015]优选的，所述PLC控制器控制四工位测试组件对待测试芯片进行测试具体包括以下步骤：
[0016]S1、芯片测试机构通电后，PLC控制器向四工位测试组件发送复位自检指令，四工位测试组件复位并进行自检；
[0017]S2、将待测芯片通过测试窗口放在视觉检测工位的承载工装上，对芯片进行扫码获取芯片条码信息并采集芯片图像信息发送至PLC控制器处；
[0018]S3、PLC控制器基于芯片条码信息确定芯片型号，并基于芯片图像信息对芯片进行外观检测，并生成外观检测结果，若外观检测NG则PLC控制器四工位转盘输送经过轨道检测
工位和屏蔽检测工位时不对该芯片进行检测；
[0019]S4、PLC控制器控制四工位转盘转动带动位于视觉检测工位的承载工装移动至轨道检测工位，若待测试芯片通过外观检测则，控制常规升降气缸带着常规探针安装板下压使得常规测试探针与待测芯片连接，同时常规探针安装板的定位锁定销插入承载工装的定位锁定孔内；
[0020]S5、PLC控制器控制检测设备对芯片进行上电检测，同时PLC控制器控制四工位转盘转动带动承载工装和常规测试部件移动，在承载工装即将移动至屏蔽检测工位时，常规测试部件完成对待测芯片的检测，生成常规测试结果；PLC控制器控制常规升降气缸带动常规探针安装板升起，四工位转盘继续带着承载工装移动至屏蔽检测工位；
[0021]S6、PLC控制器控制测试气缸将承载工装顶起直至承载底座完全进入屏蔽箱内，此时承载底板与屏蔽箱底部抵接且将测试孔封闭，屏蔽探针安装板上的屏蔽测试探针与待测芯片连接，PLC控制器控制、射频测试件、WiF本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.芯片测试机构，其特征在于：包括测试机台(1)和防护罩(11)，所述防护罩(11)上开设有用于取放芯片的测试窗口(12)，所述测试机台(1)内设置有PLC控制器(2)，所述防护罩(11)上设置有用于控制芯片测试机构的控制面板(13)，所述控制面板(13)与PLC控制器(2)连接；所述测试机台(1)还设置有用于对芯片进行测的四工位测试组件(3)，所述四工位测试组件(3)与PLC控制器(2)连接；所述四工位测试组件(3)包括转盘部件(4)、用于对芯片进行外观检测的视觉检测工位(5)、用于对芯片进行检测的轨道检测工位(6)、用于对芯片进行射频检测的屏蔽检测工位(7)和用于根据测试结果对芯片进行分拣的分拣工位(8)；所述转盘部件(4)包括转动设置在测试机台(1)上的四工位转盘(41)和用于驱动轮四工位转盘(41)转动的驱动电机(42)，所述视觉检测工位(5)、轨道检测工位(6)、屏蔽检测工位(7)和分拣工位(8)上均设有用于承载待检测芯片的承载工装(43)，四个所述承载工装(43)均安装在四工位转盘(41)上；所述轨道检测工位(6)包括沿四工位转盘(41)转动方向设置的弧形导轨(61)和滑动设置在弧形导轨(61)上用于对芯片进行检测的常规测试部件(62)。2.根据权利要求1所述的芯片测试机构，其特征在于：所述弧形导轨(61)包括弧形轨体(611)、滑动设置在弧形轨体(611)上的导轨滑块(612)和用于驱动导轨滑块(612)滑动的驱动组件(613)；所述常规测试部件(62)包括常规探针安装板(621)、用于对待测芯片进行检测的检测设备(622)和常规升降气缸(623)，所述常规升降气缸(623)沿竖直方向设置且缸体与导轨滑块(612)固定连接，所述常规升降气缸(623)的活塞杆与常规探针安装板(621)连接，所述常规探针安装板(621)上安装有用于若干根对芯片进行检测的常规测试探针(624)，若干根所述常规测试探针(624)均与检测设备(622)连接；所述常规探针安装板(621)底部设置有若干根定位锁定销(625)，所述承载工装(43)顶部开设有若干个用于容纳定位锁定销(625)的定位锁定孔(434)。3.根据权利要求2所述的芯片测试机构，其特征在于：所述常规升降气缸(623)的活塞杆端部连接有保护板(626)，所述保护板(626)与探针安装板连接，所述保护板(626)上开设有用于容纳常规测试探针(624)的容纳孔(627)。4.根据权利要求2所述的芯片测试机构，其特征在于：所述驱动组件(613)包括设置在弧形轨体(611)上的齿条(614)、转动设置在导轨滑块(612)上与齿条(614)啮合的驱动齿轮(615)、转动设置在导轨滑块(612)上与弧形轨体(611)远离齿条(614)一侧抵接的辅助滑轮(616)和滑块电机(617)，所述滑块电机(617)安装在导轨滑块(612)上且滑块电机(617)的输出端与驱动齿轮(615)传动连接；所述弧形轨体(611)的两端均设置有用于放置导轨滑块(612)脱落的防脱板(618)。5.根据权利要求1所述的芯片测试机构，其特征在于：所述视觉检测工位包括视频采集设备(51)和扫码器(52)，所述视频采集设备(51)和扫码器(52)均安装在防护罩(11)上，所述视频采集设备(51)设置有补光环形灯(53)，所述测试窗口(12)处安装有红外安全光幕(54)。6.根据权利要求2所述的芯片测试机构，其特征在于：所述承载工装(43)包括承载底板(431)和承载底座(432)，所述承载底板(431)采用屏蔽材料制成；所述定位锁定孔(434)开设在承载底座(432)顶部，所述承载底座(432)顶部开设有用于盛放芯片的安装槽(433)；所述四工位转盘(41)与承载工装(43)抵接处均设置有顶起口(411)。7.根据权利要求6所述的芯片测试机构，其特征在于：所述屏蔽检测工位(7)包括承载
支架(71)、屏蔽箱(72)和安装在屏蔽箱(72)内用于对芯片进行测试的射频测试部件(73)，所述屏蔽箱(72)安装在承载支架(71)上且底部开设有供承载底座(432)通行的测试孔(721)，所述测试机台(1)的台板下方设置有用于顶起位于屏蔽检测工位(7)的承载工装(43)的测试气缸(14)；所述射频测试部件(73)包括屏蔽探针安装板(731)、射频测试件(732)、WiFi测试件(733)和LED分析仪(734)...

【专利技术属性】
技术研发人员：殷国海，
申请(专利权)人：江苏芯缘半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：