一种芯片外观检测机构制造技术

本发明专利技术公开了一种芯片外观检测机构，涉及芯片外观检测技术领域，包括测试平台以及设置在所述测试平台上的斜槽底座和测试座本体，所述斜槽底座的底部内壁上设有安装槽，所述安装槽的内壁连接有辅助调节机构，所述辅助调节机构上分别连接有一个安装块和两个支撑杆，所述安装块的顶部外壁上设有连接块。本发明专利技术公开的芯片外观检测机构，利用垂直照射形成的阴影成像来对芯片针脚进行检测，效果更加全面充分，同时，有效规范了CPU针脚的歪斜限度，降低了CPU的故障率。CPU的故障率。CPU的故障率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片外观检测机构


[0001]本专利技术涉及芯片外观检测
，尤其涉及一种芯片外观检测机构。

技术介绍

[0002]随着科技行业发展的进步，芯片变得越来越小却越来越先进，在电脑产品的应用中以电脑CPU的形式存在，电脑CPU的针脚整体按照矩形分布，同时CPU的针脚排列整齐，在CPU生产完成后，需要等CPU的整体外观进行检测，避免类似CPU针脚类的结构发生弯曲变形，影响电脑内部元件的安装。
[0003]申请号为CN202010818568.X的专利文件公开了一种芯片外观检测机构，涉及芯片外观检测
,该芯片外观检测机构包括射频电路板，射频电路板表面设置有至少一条射频信号线和至少一个射频连接柱，射频连接柱与射频信号线一一对应且一体设置，射频连接柱与待测试芯片电连接。但是传统的芯片外观检测机构在使用时，只是对CPU外观磨损等瑕疵进行重点检测，此外，只是通过简单的辨别方式对芯片针脚进行检测，CPU针脚的歪斜程度无法得到有效的规范，检测效果不到位；例如：当芯片的部分针脚歪斜程度较大时，一方面芯片在使用时会无法与对应的元件接触充分，导致CPU工作出现故障，另一方面，在安装时，歪斜的针脚无法与针脚对应的槽口对应，容易发生碰撞挤压，导致针脚歪斜程度更大，修复难度也更大。

技术实现思路

[0004]本专利技术公开一种芯片外观检测机构，旨在解决传统的芯片外观检测机构在使用时，CPU针脚的歪斜程度无法得到有效的规范，存在检测效果不到位的技术问题。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0006]一种芯片外观检测机构，包括测试平台以及设置在所述测试平台上的斜槽底座和测试座本体，所述斜槽底座的底部内壁上设有安装槽，所述安装槽的内壁设有螺纹杆，所述螺纹杆上连接有辅助调节机构，所述辅助调节机构上分别连接有一个安装块和两个支撑杆，所述安装块的顶部外壁上设有连接块，两个所述支撑杆的顶端均设有限制块，两个所述限制块的相对一侧外壁上安装有同一个调节架，所述调节架的内壁上滑动连接有滑环，所述滑环的圆周内壁上设有等距离分布的固定机构，所述滑环的圆周外壁上设有等距离分布的齿槽，所述连接块的顶部外壁上设有固定槽，所述固定槽的底部内壁上通过轴承连接有主动齿轮，所述主动齿轮与所述滑环外壁的所述齿槽相啮合，所述安装块的内壁上通过轴承连接有微调螺杆，所述微调螺杆的外壁上设有第一螺纹套块，所述第一螺纹套块的一侧外壁上设有灯管，所述测试平台的一侧外壁上设有侧板，所述侧板靠近所述调节架的一侧外壁上设有背景板，所述灯管的灯光朝向所述背景板一侧。
[0007]本方案中，相较于传统的芯片外观检测，除了简单的外部检测还包括矫正后测试工序，先将待测的芯片放入到固定机构上，接着打开灯管作为光源使用，光源会垂直照向芯片的针脚，同时将照射的阴影呈现在背景板上，然后通过微调主动齿轮，在主动齿轮与滑环
外壁齿槽的啮合作用下微调固定的芯片转动，通过呈现的阴影充分全面的对芯片针脚进行检测，通过此预检测工序，全面有效的判断CPU针脚是否歪斜，与此同时，将针脚测试合格的CPU放入到测试座本体上检测，检测结果更加有说服力。
[0008]在一个优选的方案中，所述辅助调节机构包括：安装在所述螺纹杆外壁的第二螺纹套块，所述第二螺纹套块的顶部外壁上设有安装杆，所述安装杆的顶端设有固定台，所述固定台的一侧外壁上设有两个连接杆，所述测试平台的一侧外壁上设有微型马达，所述微型马达的输出轴与所述螺纹杆的一端相连，两个所述连接杆的一端分别与两个所述支撑杆的一侧外壁相连，所述固定台位于所述安装杆的顶端。
[0009]设置的辅助调节机构可以同步对调节架以及安装块进行移动，在预检测工序中，通过辅助调节机构可以将二者朝向背景板靠近或者远离背景板进行调节，通过调节灯管光源与背景板的距离来改变阴影清晰度，保证在不同光线环境的CPU针脚阴影成像可以更加清楚。
[0010]在一个优选的方案中，所述固定机构包括：对称安装在所述滑环圆周内壁的四个内凸台，所述内凸台的一侧内壁上均设有等距离分布的第一复位弹簧，若干个所述第一复位弹簧的一端安装有同一个支撑垫，所述支撑垫远离所述第一复位弹簧的一侧外壁设置为垂直折角结构，四个所述支撑垫配合使用。
[0011]设置的固定机构位于滑环上，将芯片放置于内凸台上后，四个呈垂直折角结构的支撑垫将对芯片的四角进行支撑固定，在进行旋转调节时，芯片整体会更加稳定。
[0012]在一个优选的方案中，所述测试平台的顶部外壁上嵌接有矫正台，所述矫正台上设有若干个矫正槽，且所述矫正槽的内径设置为上宽下窄结构。
[0013]设置在矫正台上的矫正槽与待测的芯片针脚分布位置相同，其中的区别是矫正槽的槽口内径要大于针脚的直径，在歪斜范围不大的芯片针脚需要矫正时，随着矫正槽的上宽下窄，逐渐插入的针脚会被矫正槽矫正为垂直于芯片的状态，利于后续测试。
[0014]在一个优选的方案中，所述测试座本体顶部外壁的一侧通过铰链连接有盖板，所述盖板的内侧壁上设有密封条，所述测试座本体的顶部外壁上设有密封槽，所述密封条和所述密封槽相适配，所述盖板的内侧壁上设有聚流槽，所述聚流槽的圆周内壁上连接有等距离分布的分流通道，所述聚流槽的顶部内壁的中央位置开有导出孔，所述导出孔的内壁上安装有软管，所述测试平台顶部外壁的一侧还设有等距离分布的集气瓶，若干个所述集气瓶的顶部均设有密封盖，若干个所述密封盖顶部外壁的一侧均设有导管，若干个所述密封盖顶部外壁的另一侧设有橡胶塞，所述导管的一侧外壁上设有阀门，若干个所述导管的一端连接有同一个分流管，所述分流管与所述软管相连通，所述侧板的一侧外壁上设有显示屏，且所述显示屏与所述测试座本体电性连接。
[0015]设置的集气瓶配合聚流槽和分流通道形成收集装置，芯片在测试过程中，不同工作时段测试时芯片发热程度不同，设置的收集装置可对不同发热环境下气体成分进行收集，然后经过分别检验，确定芯片使用的安全性，避免了芯片发热后产生有害气体对使用者造成伤害。
[0016]在一个优选的方案中，所述测试座本体的四角内壁上均设有安装垫，四个所述安装垫的一侧外壁上均设有伸缩杆，所述伸缩杆活塞杆的一端均设有夹持垫，且所述伸缩杆活塞杆的外壁上套接有第二复位弹簧。
[0017]设置的第二复位弹簧配合夹持垫，不仅能对待测的芯片在测试座本体内部进行固定夹持，还能起到导向限位作用，更加有利于芯片针脚的正确插入，避免针脚插入位置出错造成针脚折弯受损。
[0018]由上可知，一种芯片外观检测机构，包括测试平台以及设置在所述测试平台上的斜槽底座和测试座本体，所述斜槽底座的底部内壁上设有安装槽，所述安装槽的内壁设有螺纹杆，所述螺纹杆上连接有辅助调节机构，所述辅助调节机构上分别连接有一个安装块和两个支撑杆，所述安装块的顶部外壁上设有连接块，两个所述支撑杆的顶端均设有限制块，两个所述限制块的相对一侧外壁上安装有同一个调节架，所述调节架的内壁上滑动连接有滑环，所述滑环的圆周内壁上设有等距离分布的固定机构，所述滑环的圆周外壁上设有等距离分布的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片外观检测机构，包括测试平台(1)以及设置在所述测试平台(1)上的斜槽底座(3)和测试座本体(8)，其特征在于，所述斜槽底座(3)的底部内壁上设有安装槽，所述安装槽的内壁设有螺纹杆(12)，所述螺纹杆(12)上连接有辅助调节机构，所述辅助调节机构上分别连接有一个安装块(14)和两个支撑杆(4)，所述安装块(14)的顶部外壁上设有连接块(20)，两个所述支撑杆(4)的顶端均设有限制块(17)，两个所述限制块(17)的相对一侧外壁上安装有同一个调节架(18)，所述调节架(18)的内壁上滑动连接有滑环(27)，所述滑环(27)的圆周内壁上设有等距离分布的固定机构，所述滑环(27)的圆周外壁上设有等距离分布的齿槽(28)，所述连接块(20)的顶部外壁上设有固定槽，所述固定槽的底部内壁上通过轴承连接有主动齿轮(32)，所述主动齿轮(32)与所述滑环(27)外壁的所述齿槽(28)相啮合，所述安装块(14)的内壁上通过轴承连接有微调螺杆(23)，所述微调螺杆(23)的外壁上设有第一螺纹套块(24)，所述第一螺纹套块(24)的一侧外壁上设有灯管(15)，所述测试平台(1)的一侧外壁上设有侧板(5)，所述侧板(5)靠近所述调节架(18)的一侧外壁上设有背景板(33)，所述灯管(15)的灯光朝向所述背景板(33)一侧。2.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述调节架(18)分别与所述背景板(33)和所述安装块(14)呈垂直分布，且所述调节架(18)位于所述背景板(33)与所述安装块(14)之间。3.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述斜槽底座(3)的倾斜角度在5
°‑8°
范围内。4.根据权利要求3所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述斜槽底座(3)的两侧内壁上均设有滑槽，两个所述支撑杆(4)的底端均设有侧滑块(11)，两个所述侧滑块(11)分别滑动连接在两个所述滑槽的内壁上。5.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述辅助调节机构包括：安装在所述螺纹杆(12)外壁的第二螺纹套块，所述第二螺纹套块的顶部外壁上设有安装杆(34)，所述安装杆(34)的顶端设有固定台(21)，所述固定台(21)的一侧外壁上设有两个连接杆(13)，所述测试平台(1)的一侧外壁上设有微型马达(6)，所述微型马达(6)的输出轴与所述螺纹杆(12)的一端相连，两个所述连接杆(13)的一端分别与两个所述支撑杆(4)的一侧外壁相连，所述固定台(21)位于所述安装杆(34)的顶端。6.根据权利要求5所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：殷国海，
申请(专利权)人：江苏芯缘半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：