一种芯片外观检测机构制造技术

本发明专利技术公开了一种芯片外观检测机构，涉及芯片外观检测技术领域，包括测试平台以及设置在所述测试平台上的斜槽底座和测试座本体，所述斜槽底座的底部内壁上设有安装槽，所述安装槽的内壁连接有辅助调节机构，所述辅助调节机构上分别连接有一个安装块和两个支撑杆，所述安装块的顶部外壁上设有连接块。本发明专利技术公开的芯片外观检测机构，利用垂直照射形成的阴影成像来对芯片针脚进行检测，效果更加全面充分，同时，有效规范了CPU针脚的歪斜限度，降低了CPU的故障率。CPU的故障率。CPU的故障率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片外观检测机构


[0001]本专利技术涉及芯片外观检测
，尤其涉及一种芯片外观检测机构。

技术介绍

[0002]随着科技行业发展的进步，芯片变得越来越小却越来越先进，在电脑产品的应用中以电脑CPU的形式存在，电脑CPU的针脚整体按照矩形分布，同时CPU的针脚排列整齐，在CPU生产完成后，需要等CPU的整体外观进行检测，避免类似CPU针脚类的结构发生弯曲变形，影响电脑内部元件的安装。
[0003]申请号为CN202010818568.X的专利文件公开了一种芯片外观检测机构，涉及芯片外观检测
,该芯片外观检测机构包括射频电路板，射频电路板表面设置有至少一条射频信号线和至少一个射频连接柱，射频连接柱与射频信号线一一对应且一体设置，射频连接柱与待测试芯片电连接。但是传统的芯片外观检测机构在使用时，只是对CPU外观磨损等瑕疵进行重点检测，此外，只是通过简单的辨别方式对芯片针脚进行检测，CPU针脚的歪斜程度无法得到有效的规范，检测效果不到位；例如：当芯片的部分针脚歪斜程度较大时，一方面芯片在使用时会无法与对应的元件接触充分，导致C本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片外观检测机构，包括测试平台(1)以及设置在所述测试平台(1)上的斜槽底座(3)和测试座本体(8)，其特征在于，所述斜槽底座(3)的底部内壁上设有安装槽，所述安装槽的内壁设有螺纹杆(12)，所述螺纹杆(12)上连接有辅助调节机构，所述辅助调节机构上分别连接有一个安装块(14)和两个支撑杆(4)，所述安装块(14)的顶部外壁上设有连接块(20)，两个所述支撑杆(4)的顶端均设有限制块(17)，两个所述限制块(17)的相对一侧外壁上安装有同一个调节架(18)，所述调节架(18)的内壁上滑动连接有滑环(27)，所述滑环(27)的圆周内壁上设有等距离分布的固定机构，所述滑环(27)的圆周外壁上设有等距离分布的齿槽(28)，所述连接块(20)的顶部外壁上设有固定槽，所述固定槽的底部内壁上通过轴承连接有主动齿轮(32)，所述主动齿轮(32)与所述滑环(27)外壁的所述齿槽(28)相啮合，所述安装块(14)的内壁上通过轴承连接有微调螺杆(23)，所述微调螺杆(23)的外壁上设有第一螺纹套块(24)，所述第一螺纹套块(24)的一侧外壁上设有灯管(15)，所述测试平台(1)的一侧外壁上设有侧板(5)，所述侧板(5)靠近所述调节架(18)的一侧外壁上设有背景板(33)，所述灯管(15)的灯光朝向所述背景板(33)一侧。2.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述调节架(18)分别与所述背景板(33)和所述安装块(14)呈垂直分布，且所述调节架(18)位于所述背景板(33)与所述安装块(14)之间。3.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述斜槽底座(3)的倾斜角度在5
°‑8°
范围内。4.根据权利要求3所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述斜槽底座(3)的两侧内壁上均设有滑槽，两个所述支撑杆(4)的底端均设有侧滑块(11)，两个所述侧滑块(11)分别滑动连接在两个所述滑槽的内壁上。5.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述辅助调节机构包括：安装在所述螺纹杆(12)外壁的第二螺纹套块，所述第二螺纹套块的顶部外壁上设有安装杆(34)，所述安装杆(34)的顶端设有固定台(21)，所述固定台(21)的一侧外壁上设有两个连接杆(13)，所述测试平台(1)的一侧外壁上设有微型马达(6)，所述微型马达(6)的输出轴与所述螺纹杆(12)的一端相连，两个所述连接杆(13)的一端分别与两个所述支撑杆(4)的一侧外壁相连，所述固定台(21)位于所述安装杆(34)的顶端。6.根据权利要求5所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：殷国海，
申请(专利权)人：江苏芯缘半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：