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本发明公开了一种芯片外观检测机构，涉及芯片外观检测技术领域，包括测试平台以及设置在所述测试平台上的斜槽底座和测试座本体，所述斜槽底座的底部内壁上设有安装槽，所述安装槽的内壁连接有辅助调节机构，所述辅助调节机构上分别连接有一个安装块和两个支撑...
该专利属于江苏芯缘半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏芯缘半导体有限公司授权不得商用。

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