一种紫外-可见-近红外光谱分析用样品池制造技术

本发明专利技术公开了一种紫外

【技术实现步骤摘要】
一种紫外
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可见
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近红外光谱分析用样品池


[0001]本专利技术涉及一种紫外
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可见
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近红外吸收（漫反射）光谱分析用样品池，具体涉及一种样品适应范围广、分析方式适应范围广、操作方便的紫外
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可见
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近红外光谱分析用样品池，属于光谱分析相关


技术介绍

[0002]对固体材料进行紫外
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可见
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近红外光谱分析表征是研究和评价功能固体材料的重要方法和手段。固体类样品若需进行紫外
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可见
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近红外光谱分析必须使用合适的固体样品池，并配合固体积分球样品附件进行测试。固体样品置于样品池中不仅可以使样品处于仪器光路上有利于完成测试，而且还可以避免样品直接接触固体积分球和标准白板，防止样品污染积分球和标准白板，延长仪器使用寿命。
[0003]在光催化材料、光电极材料、太阳能电池材料、光热材料等生产和科研领域，经常会遇到活性敏感材料原位生长或负载在特定固体底片上的固体基片类样品。这类样品在进行后续紫外
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可见
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近红外光相互作用性能测试评价时，为适应目前常见的紫外
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可见固体漫反射样品池，通常需要将活性材料从基底上收集起来，变成固体粉末后再利用粉末类样品池进行活性敏感材料的紫外
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可见
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近红外漫反射测试，以便得到活性材料对紫外
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>可见
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近红外光的相互作用信息。
[0004]由上可以看出，利用现有的固体粉末类样品池来进行固体基片类样品的紫外
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可见
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近红外光谱表征至少存在以下不足：1）不能原位进行表征，容易损失样品信息；2）样品用量较多，很多基片类样品因量少可能无法测试；3）测试效率低，很多情况下需要多片的样品收集才能满足测试样品准备，既耗时又费力；4）对于具有一定透光性的基片类样品，变成粉末类样品后只能进行漫反射一种模式测试，透射测试模式无法进行。

技术实现思路

[0005]针对现有固体样品池在进行紫外
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可见
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近红外光谱分析表征时仅适用于固体粉末样品不适用于固体基片类样品的不足，本专利技术提供了一种紫外
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可见
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近红外光谱分析用样品池，该样品池既适合于固体粉末样品，又适合于固体基片类样品，尤其是是可以实现不同大小和形状的固体基片类样品多测量模式的原位紫外
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可见
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近红外光谱分析，具有操作方便、样品用量少、不破坏样品、不污染仪器等优势。
[0006]本专利技术具体技术方案如下：一种紫外
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可见
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近红外光谱分析用样品池，该样品池包括底板，所述底板的两侧带有滑槽，底板的底部设有凸起于底板上表面的限位结构，底板上具有自底板上表面下凹的样品室，样品室上设有活动的填充板，在底板的滑槽上活动插接有背板。
[0007]进一步的，样品室内放置有样品，所述样品为负载或生长在基片上的固体基片类样品或固体粉末样品。当样品为固体粉末时，可以将粉末平铺到样品室中，进行漫反射测试。当样品为固体基片类样品时，可以直接将固体基片类样品直接放到样品室中，进行漫反
射测试或透射测试。
[0008]进一步的，底板整体外形优选长方形外形，也可采用正方形等外形。底板上部有一缺口，方便样品池背板取放，缺口形状优选半圆形，也可以为其它形状，大小以方便背板取放为宜。底板两边设有滑槽，通过滑槽卡住背板。背板可以直接插入滑槽中，保证滑槽的宽度与背板的厚度相同或者滑槽的宽度稍大于背板的厚度，这样可以保证背板与底板很好的接触，防止样品位移。还有一种方式是，在背板的两侧设置滑块或滑杆，所述滑块或滑杆与滑槽搭配使用，使背板插入底板上方，滑块或滑杆的下表面保持与背板的下表面位于同一水平面上，从而使背板与底板之间的间隔足够小。当然，也可以采用其他的可行的方式。
[0009]进一步的，背板和底板的形状相同，背板与底板的尺寸相同，或者背板的尺寸稍微小于底板的尺寸。背板为长方形、正方形等多边形形状时，优选其边角采用倒圆角的设置，以方便插入滑槽中。
[0010]进一步的，当底板和背板为长方形、正方形等多边形时，所述滑槽起于底板的底部，止于底板的上部，滑槽的长度短于底板的长度。
[0011]进一步的，所述样品室位于底板的中部或中下部。所述样品室为轴对称结构，优选的，样品室的形状可以是正方形、等腰三角形、等腰梯形、圆形等轴对称图形。
[0012]进一步的，样品室的对称轴与水平面垂直。这样的设置方式可以使不同大小的固体基片类样品均可稳固地卡在样品室中线位置，防止样品的位移。
[0013]进一步的，所述样品室的深度可以根据实际需要进行调整，要满足固体粉末类样品检测的需求，也要满足固体基片类样品检测的需要，优选为一般常见固体基片类样品的最大厚度。当待测基片样品的厚度小于样品室深度时，可选择合适厚度的样品室填充板，使待测样品稳固成竖直状态，满足光谱仪测试对样品的要求。待测样品和填充板总厚度等于或稍低于凹槽深度。无样品室的其它底板区域在同一平面，便于背板插入滑槽。
[0014]进一步的，所述填充板的形状与样品室一致，填充板用于保证样品竖直且稳固，填充板的外边缘尺寸与样品室的内边缘尺寸一致，使填充板能恰好放入样品室内。优选的，填充板的厚度和样品的厚度等于样品室的深度，这样可以正好保持样品室的上表面与填充板的上表面处于同一水平面。
[0015]进一步的，所述限位结构的目的是为了挡住背板，防止背板掉落。限位结构可以为限位挡板、限位块或限位插槽等。
[0016]进一步的，所述底板、填充板和背板的材质均采用对紫外
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可见
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近红外光谱仪所涉及波段的光透明的透光材料制成，透光材料的具体透光性能要求以满足目标测试需求为准。滑槽的材质可以与底板一致，也可以与底板不一致。
[0017]本专利技术具有以下有益效果：1、本专利技术样品池既可以适合于固体粉末样品，又适合于固体基片类样品，扩大了样品的适用范围。
[0018]2、本专利技术样品池不仅可以满足基片类样品的原位紫外
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可见
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近红外光谱漫反射模式测试需求，也可以根据样品需要进行透射模式测量，获得更多样品性能信息。
[0019]3、本专利技术样品池可以直接将基片类样品直接放入进行原位检测，无须将样品从基片上取下，操作简单，样品需求量少，能更好的反映样品的全部信息。
[0020]4、本专利技术样品池具有结构设计简单、易于制备和使用、适用样品广、样品可回收、
样品不会污染仪器等诸多优点。
附图说明
[0021]图1是本专利技术紫外
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可见
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近红外光谱分析用样品池各本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种紫外
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可见
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近红外光谱分析用样品池，其特征是：包括底板（2），所述底板的两侧带有滑槽（3），底板的底部设有凸起于底板上表面的限位结构，底板上具有自底板上表面下凹的样品室（4），样品室内设有活动的填充板（5），在底板的滑槽上活动插接有背板（7）。2.根据权利要求1所述的紫外
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可见
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近红外光谱分析用样品池，其特征是：所述样品室为轴对称结构，优选的，所述样品室的形状为正方形、等腰三角形、等腰梯形或圆形；优选的，所述样品室位于底板的中部或中下部。3.根据权利要求2所述的紫外
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可见
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近红外光谱分析用样品池，其特征是：样品室的对称轴与水平面垂直；优选的，所述填充板的形状与样品室一致，填充板的外边缘尺寸与样品室的内边缘尺寸一致。4.根据权利要求1、2或3所述的紫外
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可见
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近红外光谱分析用样品池，其特征是：所述样品室内放置有样品（8），填充板的厚度保证样品室放入样品后，填充板的上表面与底板的上表面在同一水平面；优选的，样品室内的样品为负载或生长在基片上的固体基片类样品或固体粉末样品。5.根据权利要求1所述的紫外
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可见
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近红外光...

【专利技术属性】
技术研发人员：窦智峰，王桂振，
申请(专利权)人：海南大学，
类型：发明
国别省市：