一种多通道多功能的芯片测试机及测试方法技术

本发明专利技术公开了一种多通道多功能的芯片测试机及测试方法，测试机包括：上位机和芯片测试机；上位机设置控制参数并发送至芯片测试机及显示测试结果；芯片测试机包括：通信板、背板、多个测试板卡、多个面板、转接板及芯片承载板；通信板接收上位机发送的控制参数并通过背板传给测试板卡，及接收转接板的测试结果并传给上位机；每个测试板卡均包括：主控芯片及多通道多功能测试资源，主控芯片基于控制参数，用于控制多通道多功能测试资源选择、控制待测芯片多功能测试，及协调其他板卡工作；通过面板将全部测试资源连接至转接板，对接入的待测芯片进行相应功能测试。本发明专利技术能同时测量多个芯片且对每个芯片实现多功能测试，测试效率高，功能全面。功能全面。功能全面。

【技术实现步骤摘要】
一种多通道多功能的芯片测试机及测试方法


[0001]本专利技术涉及芯片测试机
，涉及一种多通道多功能的芯片测试机及测试方法。

技术介绍

[0002]当前，芯片生产过程中需要进行编程、测试等操作。现有技术中，对芯片的测试装置，存在多个芯片测试兼容性差、效率低、测试功能有限及开发时间长的问题。此外，对于大批量芯片生产编程、测试工作，大多委托给芯片封装厂，针对特定芯片开发相应测试设备，存在测试设备用途单一、测试功能不全面、开发周期长、费时费力、成本高、效率低的缺点。

技术实现思路

[0003]因此，本专利技术提出一种多通道多功能的芯片测试机及测试方法，通过多通道多功能测试资源，能够同时测量多个芯片并且对每个芯片实现多功能测试，有效提高了芯片的测试效率，测试功能全面，省时省力，节约成本，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为达到上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种多通道多功能的芯片测试机，包括：
[0006]上位机和芯片测试机；
[0007本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道多功能的芯片测试机，其特征在于，包括：上位机和芯片测试机；所述上位机，用于设置控制参数，基于总线将所述控制参数发送至所述芯片测试机及显示测试结果；所述芯片测试机，包括：通信板、背板、多个测试板卡、多个面板、转接板及芯片承载板；所述通信板，用于接收所述上位机发送的控制参数并通过所述背板传给所述测试板卡，及接收所述转接板的测试结果并传给所述上位机；所述背板，用于承载通信板和多个测试板卡及供电；每个测试板卡，均包括：主控芯片及多通道多功能测试资源，所述主控芯片基于所述控制参数，用于控制多通道多功能测试资源的选择、控制待测芯片的多功能测试，以及协调其他板卡的工作；所述面板，用于提供接口，将所述多通道多功能测试资源连接至所述转接板；所述芯片承载板，用于放置待测芯片；所述转接板，用于提供全部的多通道多功能测试资源对接入的待测芯片进行相应功能测试。2.根据权利要求1所述的多通道多功能的芯片测试机，其特征在于，所述多通道多功能测试资源支持的多通道，包括：DPS供电通道、PMU高精度测量通道和数字通道，所述DPS供电通道和PMU高精度测量通道用于给待测芯片提供运行电压和电流，以及测试电压和电流，所述数字通道用于收发测试指令Pattern。3.根据权利要求2所述的多通道多功能的芯片测试机，其特征在于，所述多通道多功能测试资源支持的多功能测试，包括：开/短路测试、漏电流测试、IDD动态/静态测试和Function测试。4.根据权利要求3所述的多通道多功能的芯片测试机，其特征在于，每个测试板卡包括8个DPS供电通道，用于给多个待测芯片进行漏电流测试、IDD动态/静态测试和...

【专利技术属性】
技术研发人员：常浩，刘增红，
申请(专利权)人：镇江矽佳测试技术有限公司，
类型：发明
国别省市：