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本发明公开了一种多通道多功能的芯片测试机及测试方法，测试机包括：上位机和芯片测试机；上位机设置控制参数并发送至芯片测试机及显示测试结果；芯片测试机包括：通信板、背板、多个测试板卡、多个面板、转接板及芯片承载板；通信板接收上位机发送的控制参数...
该专利属于镇江矽佳测试技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过镇江矽佳测试技术有限公司授权不得商用。

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