一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针，包括绝缘针套，所述绝缘针套内设置有弹片，所述弹片包含横放的U形片，所述U形片的开口一侧设置有针头，U形片的开口另一侧设置有针尾，所述针头和针尾分别从绝缘针套的两端口伸出。该扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针，解决了现有测试探针使用时，针头与弹簧、针管接触面之间在测试过程存在接触不稳定的问题。在接触不稳定的问题。在接触不稳定的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针


[0001]本技术属于半导体检测
，具体涉及一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针。

技术介绍

[0002]随着电子科技的发展，目前测试探针已经广泛应用于手机、汽车以及航空航天等领域。常见的测试探针主要由针套、弹簧和针头组成，其中弹簧装配在针套内，针头则可伸缩地装配在针套的一端并与弹簧之间形成有抵压接触。
[0003]但是现有测试探针使用时，针头与弹簧、针管接触面之间在测试过程存在接触不稳定，导致测试探针阻抗变化较大，造成测试探针的测试性能减弱进而不能用于超精密测试环境的问题

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针，解决现有测试探针使用时，针头与弹簧、针管接触面之间在测试过程存在接触不稳定的问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本技术公开了一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针，包括绝缘针套，所述绝缘针套内设置有弹片，所述弹片包含横放的U形片，所述U形片的开口一侧设置有针头，U形片的开口另一侧设置有针尾，所述针头和针尾分别从绝缘针套的两端口伸出。
[0006]本技术的技术方案，还具有以下特点：
[0007]作为本技术技术方案的进一步改进，所述绝缘针套靠近针尾的一端设置有第一限位片，所述第一限位片的内径大于所述绝缘针套的内径。
[0008]作为本技术技术方案的进一步改进，所述针头尾部设置有第二限位片，所述第二限位片的外径大于针头伸出绝缘针套的一端口的内径。
[0009]作为本技术技术方案的进一步改进，所述针尾尾部设置有第三限位片，所述第三限位片的外径大于针尾伸出绝缘针套的一端口的内径。
[0010]作为本技术技术方案的进一步改进，所述U形片与所述第二限位片和所述第三限位片之间圆弧过渡。
[0011]与现有技术相比，本技术的一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针，由于绝缘卡套采用绝缘材料进行涂层处理，具备绝缘的性能，测试用的弹片是集针头、弹簧与尾针于一体的整体结构设计，因此无论测试次数多少，都能够保持超低的阻抗和超高的绝缘性能，解决现有测试探针在测试过程由于各配件接触不稳定，导致测试探针阻抗变化较大，造成测试探针的测试性能减弱进而不能用于超精密测试环境的问题。
附图说明
[0012]此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部
分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
[0013]图1是本技术的一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针的结构示意图；
[0014]图2是本技术的一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针中绝缘针套的结构示意图；
[0015]图3是本技术的一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针中弹片的装配图。
[0016]图中：1.U形片，2.第二限位片，3.针头，4.绝缘针套，5.第一限位片，6.针尾，7.第三限位片。
具体实施方式
[0017]下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0018]在本技术的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0019]本技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本技术中的具体含义。
[0020]如图1所示，本技术的一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针，包括绝缘针套4，绝缘针套4内设置有弹片，弹片包含横放的U形片1，U形片1的开口一侧设置有针头3，U形片1的开口另一侧设置有针尾6，针头3和针尾6分别从绝缘针套4的两端口伸出。
[0021]与现有测试探针相比，U形片1、针头3和针尾6组成的弹片相当于带有针管、弹簧和针轴的现有测试探针。但在本申请中U形片1、针头3和针尾6是一体成型的，U形片1相当于弹簧的作用，能够确保针头3与被测对象接触的时候不发生硬性接触，表面发生折损。无需针管，U形片1、针头3和针尾6始终是连接在一起的，不存在相互之间接触不良。
[0022]结合图2，在本技术的一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针中，绝缘针套4靠近针尾6的一端设置有第一限位片5，第一限位片5的内径小于绝缘针套4的内径，可防止U形片1从绝缘针套4脱出面，避免针尾6无法收回。
[0023]结合图3，在本技术的一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针中，针头3尾部设置有第二限位片2，第二限位片2的外径大于针头3伸出绝缘针套4的一端口的内径。
[0024]这样设计的目的在于，通过第二限位片2和绝缘针套4限位配合，可以防止针头3从绝缘针套4完全脱出。
[0025]结合图3，在本技术的一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针中，针尾6尾部设置有第三限位片7，第三限位片7的外径大于针尾6伸出绝缘针套4的一端口的内径。
[0026]这样设计的目的在于，通过第三限位片7和绝缘针套4限位配合，可以防止针尾6从
绝缘针套4完全脱出
[0027]结合图3，在本技术的一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针中，U形片1与第二限位片2和第三限位片7之间圆弧过渡，可以确保连接处具有一定的弹性，防止受压发生折损。
[0028]因此，本技术的一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针，由于绝缘卡套采用绝缘材料进行涂层处理，具备绝缘的性能，测试用的弹片是集针头、弹簧与尾针于一体的整体结构设计，因此无论测试次数多少，都能够保持超低的阻抗和超高的绝缘性能，解决现有测试探针在测试过程由于各配件接触不稳定，导致测试探针阻抗变化较大，造成测试探针的测试性能减弱进而不能用于超精密测试环境的问题。
[0029]上述说明示出并描述了技术的若干优选实施例，但如前所述，应当理解技术并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述技术构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离技术的精神和范围，则都应在技术所附权利要求的保护范围内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针，其特征在于，包括绝缘针套(4)，所述绝缘针套(4)内设置有弹片，所述弹片包含横放的U形片(1)，所述U形片(1)的开口一侧设置有针头(3)，U形片(1)的开口另一侧设置有针尾(6)，所述针头(3)和针尾(6)分别从绝缘针套(4)的两端口伸出。2.根据权利要求1所述的扁平式无弹簧超低阻抗单头单动测试探针，其特征在于，所述绝缘针套(4)靠近针尾(6)的一端设置有第一限位片(5)，所述第一限位片(5)的内径小于所述绝缘针套(4)的内径。3.根据权利要求1所述的扁平式...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁崇亮，张飞龙，
申请(专利权)人：渭南木王智能科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：