一种双头测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种双头测试探针，涉及双头测试探针技术领域。该双头测试探针，包括套筒，所述套筒的侧壁上贯穿且滑动连接有测试针头，所述套筒的外壁上设置有接线用的线路接头，所述套筒上设置有对测试针头进行限位的限位机构，所述限位机构包括：固定块、限位框、卡块，所述固定块的侧壁固定连接在套筒中心处的内壁上，所述限位框的底端焊接在套筒的外壁上，所述限位框的两侧开设有通槽。通过设置限位机构，使本装置在不使用时，通过限位机构将测试针头收进套筒内，防止针头的尖锐处受到撞击导致变形，影响后续的测试，并且更加便于对其进行携带，防止携带时尖锐的针头对人体造成伤害，设计更加人性化。设计更加人性化。设计更加人性化。

【技术实现步骤摘要】
一种双头测试探针


[0001]本技术涉及双头测试探针
，具体为一种双头测试探针。

技术介绍

[0002]测试探针，是应用于电子测试中测试PCBA的一种测试连接电子元件。
[0003]在现有技术中，现有的双头测试探针的针头处通常处于尖锐状态，在携带以及使用前，容易通过掉落引起的撞击以及晃动引起的碰撞导致针头受到损坏，从而影响后续的测试结构，并且在不使用时，尖锐的针头容易对人体造成伤害。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种双头测试探针，解决了上述
技术介绍
提到的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种双头测试探针，包括套筒，所述套筒的侧壁上贯穿且滑动连接有测试针头，所述套筒的外壁上设置有接线用的线路接头，所述套筒上设置有对测试针头进行限位的限位机构，所述限位机构包括：
[0008]固定块，所述固定块的侧壁固定连接在套筒中心处的内壁上；
[0009]限位框，所述限位框本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双头测试探针，包括套筒(1)，所述套筒(1)的侧壁上贯穿且滑动连接有测试针头(2)，所述套筒(1)的外壁上设置有接线用的线路接头(3)，所述套筒(1)上设置有对测试针头(2)进行限位的限位机构(4)，其特征在于：所述限位机构(4)包括：固定块(42)，所述固定块(42)的侧壁固定连接在套筒(1)中心处的内壁上；限位框(45)，所述限位框(45)的底端焊接在套筒(1)的外壁上，所述限位框(45)的两侧开设有通槽；卡块(44)，所述卡块(44)的底端开设有卡槽，所述卡块(44)的侧壁焊接在连接杆(43)的侧壁上。2.根据权利要求1所述的一种双头测试探针，其特征在于：所述测试针头(2)的侧壁固定连接有限位弹簧(41)的一端，所述限位弹簧(41)的另一端固定连接在固定块(42)的侧壁上。3.根据权利要求1所述的一种双头测试探针，其特征在于：所述限位框(45)的内壁开设有滑槽一(46...

【专利技术属性】
技术研发人员：文扩华，
申请(专利权)人：先得利精密测试探针深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：