本实用新型涉及测试探针技术领域，且公开了一种半导体芯片测试探针，包括针头、针筒、清洗盒和管盖，所述针头通过固定装置固定在针筒的内部，所述针筒上设有半圆孔洞，所述针筒通过清洁装置进行清洗，所述清洗盒的左侧设有进水管，所述清洗盒的右侧设有出...

本实用新型涉及测试装置技术领域，且公开了一种射频测试探针，包括底座，所述底座顶部固定连接有固定板，所述固定板一侧固定连接有导向杆。该射频测试探针，通过底座顶部固定连接有固定板，固定板一侧固定连接有导向杆，导向杆外表面活动安装有移动块，移...

本实用新型涉及线束测试技术领域，且公开了一种线束测试探针，包括测试台，所述测试台的正面底端固定连接有支撑台，且测试台的内边活动连接有调节基板，且调节基板的中端由左至右开设有横滑槽，且横滑槽的槽壁滑动连接有横滑块，且横滑块的正面活动连接有...

本实用新型公开了一种双头测试探针，涉及双头测试探针技术领域。该双头测试探针，包括套筒，所述套筒的侧壁上贯穿且滑动连接有测试针头，所述套筒的外壁上设置有接线用的线路接头，所述套筒上设置有对测试针头进行限位的限位机构，所述限位机构包括：固定...

本实用新型公开了一种能控制开与关的测试探针，包括主体，主体的内壁设置关闭装置，关闭装置包括滑槽A，滑槽A开设在主体的内壁一侧上，滑槽A与移动块滑动连接，滑槽A的内壁两侧与导向杆的两端固定连接，导向杆与移动块滑动连接，移动块的一侧固定连接...

本实用新型公开了一种芯片用超高精度测试探针，包括套筒，所述套筒左侧侧壁上设置有滑动装置，所述滑动装置包括有按钮、连接块及弹簧A，所述按钮贯穿套筒并在套筒上滑动连接，所述连接块设置在套筒内部，所述弹簧A左端固定连接在套筒内壁上，所述弹簧A...

本实用新型公开一种适应大电流的测试探针，包括针管，所述针管的两端均设有针轴，所述针管的设置有导流组件，所述导流组件包括连接弹簧和辅助导板，所述辅助导板设置有两组且辅助导板均以针管的中心线为对称轴对称设置，所述辅助导板包括铜片和橡胶板，所...

本实用新型公开了一种超紧凑型探针，涉及探针技术领域。该超紧凑型探针，包括外壳，所述外壳内部设置有探针组件，所述探针组件包括有：活动杆，所述活动杆可滑动地安装在所述外壳的内壁上；第一连接杆，所述第一连接杆可转动地安装在所述活动杆的内壁上；...

本实用新型公开一种集成电路用长寿命测试探针。涉及电路测试设备技术领域。包括探针本体，所述探针本体的顶部固定有连接座，所述连接座的侧壁固定有滑块，所述滑块中贯穿有导向杆，所述导向杆的顶部固定在保护罩的内壁，所述连接座的侧壁固定有连接板。该...

本实用新型涉及PCB探针技术领域，具体为一种PCB精密测试探针，包括探针安装板，所述探针安装板的内部滑动连接有探针本体，所述探针安装板的内部设置有防护调节装置，所述防护调节装置包括：半防护套，所述半防护套的内部固定连接有蜗轮；连杆，所述...

本实用新型公开了一种新型双头大电流测试探针，包括针管，所述针管的表面开设有贯穿的通孔，且通孔内转动连接有转轴，所述转轴的顶端固定连接有制动轮，所述制动轮的侧壁上开设有多组阵列分布的限位槽，所述针管的表面设置有对制动轮进行限位的限位组件。...

本实用新型公开了一种自动测试探针，涉及测试探针技术领域，包括探测壳，所述探测壳左壁贯穿且转动连接有螺纹杆，所述螺纹杆中部螺纹连接有螺母，所述螺母底端固定连接有电动推杆，所述电动推杆底端设置有探测组件，所述探测组件包括：保护壳，所述保护壳...

本实用新型公开了一种半导体高频测试探针，涉及测试探针技术领域。包括机体，所述机体的内壁与第一弹簧的一端固定连接，所述第一弹簧的另一端上固定连接有滑板，所述滑板的底壁上滑动连接有第一滑块，所述第一滑块的底壁上固定连接有测试探针，所述测试探...