一种新型双头大电流测试探针制造技术

技术编号:35714007 阅读:16 留言:0更新日期:2022-11-23 15:21
本实用新型专利技术公开了一种新型双头大电流测试探针,包括针管,所述针管的表面开设有贯穿的通孔,且通孔内转动连接有转轴,所述转轴的顶端固定连接有制动轮,所述制动轮的侧壁上开设有多组阵列分布的限位槽,所述针管的表面设置有对制动轮进行限位的限位组件。该新型双头大电流测试探针,通过向上拉制动轮,使转轴带动柱齿轮向上移动,圆盘底部的弹簧拉伸,柱齿轮与下方的齿条分离,或者向下按下制动轮,使转轴带动柱齿轮向下移动,柱齿轮与上方的齿条分离,并转动制动轮,使单独一个测试探针滑出,也可以两个测试探针一起使用,从而提高新型双头大电流测试探针在使用过程中的灵活性。头大电流测试探针在使用过程中的灵活性。头大电流测试探针在使用过程中的灵活性。

【技术实现步骤摘要】
一种新型双头大电流测试探针


[0001]本技术涉及测试探针
,具体为一种新型双头大电流测试探针。

技术介绍

[0002]测试探针是一种高端精密链接器件,广泛应用于测试PCB线路板、FPC印刷电路,其主要作为起连接作用的精密探针使用,目前已广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等

[0003]在现有技术中,市场上的双头大电流测试探针在使用过程中,两端均暴露在外,无法做到单独使用,导致使用不过灵活,并且探针的针头长期暴露在外,容易导致针头磨损,从而影响试探针的使用寿命。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]本技术的主要目的是提供一种新型双头大电流测试探针,能够解决上述
技术介绍
提到的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述目的,本技术提出的新型双头大电流测试探针,一种新型双头大电流测试探针,包括针管,所述针管的表面开设有贯穿的通孔,且通孔内转动连接有转轴,所述转轴的顶端固定连接有制动轮,所述制动轮的侧壁上开设有多组阵列分布的限位槽,所述针管的表面设置有对制动轮进行限位的限位组件,所述针管的两端开设有贯穿的通孔,并且所述针管的两端的端面上设置有遮挡组件,所述针管的内部设置有探针组件,所述探针组件包括:测试探针,所述测试探针的侧壁固定连接有对称设置的两凸块,所述两凸块远离测试探针的一端转动连接有滑轮一,所述滑轮一与针管的内壁贴合;齿条,所述齿条的固定连接在测试探针的侧壁上,所述齿条的侧壁固定连接有凸块,所述凸块的侧壁转动连接有滑轮二与针管的内壁贴合;以及柱齿轮,所述柱齿轮的表面固定连接在转轴的底部,所述柱齿轮的底部转动连接有圆盘,所述圆盘的底面通过弹簧弹性连接在针管的内部上,所述柱齿轮啮合传动齿条。
[0008]优选的,所述测试探针、齿条均设置有两组,两组所述测试探针、齿条以柱齿轮的中点中心对称设置。
[0009]优选的,所述限位组件包括限位块,所述限位块插接在限位槽中,所述限位块的侧壁固定连接有转板。
[0010]优选的,所述转板的侧壁固定连接有固定块一,所述固定块一的斜壁上固定连接有弹簧,所述弹簧远离固定块一的一端固定连接有固定块二,所述固定块二固定连接在针管的表面上,所述转板的底面铰接有铰接块,所述铰接块固定连接在针管的表面上。
[0011]优选的,所述遮挡组件包括圆形挡板,所述圆形挡板的直径大于针管端面开设有通孔的直径。
[0012]优选的,所述圆形挡板的侧壁固定连接有连接板,所述连接板的顶端固定连接有套管,所述套管的内部固定连接有转杆,所述转杆的两端设置在阻尼器的内部。
[0013]有益效果
[0014]本技术提供了一种新型双头大电流测试探针。具备以下有益效果:
[0015](1)、该新型双头大电流测试探针,通过向上拉制动轮,使转轴带动柱齿轮向上移动,圆盘底部的弹簧拉伸,柱齿轮与下方的齿条分离,或者向下按下制动轮,使转轴带动柱齿轮向下移动,柱齿轮与上方的齿条分离,并转动制动轮,使单独一个测试探针滑出。
[0016](2)、该新型双头大电流测试探针,通过解除制动轮的限位,并反向转动制动轮,将测试探针收回针管中,圆形挡板在阻尼器的作用下,将通孔封堵住,避免灰尘进入其中。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0018]图1为本技术整体装置的结构示意图;
[0019]图2为本技术剖视的结构示意图;
[0020]图3为本技术A处放大结构示意图;
[0021]图4为本技术B处放大结构示意图。
[0022]图中:1、针管;2、转轴;3、制动轮;4、限位槽;5、限位组件;51、限位块;52、转板;53、固定块一;54、固定块二;55、铰接块;6、遮挡组件;61、圆形挡板;62、连接板;63、套管;64、转杆;65、阻尼器;7、探针组件;71、测试探针;72、滑轮一;73、齿条;74、滑轮二;75、柱齿轮;76、圆盘。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0024]需要说明,本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
[0025]另外,在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本技术要求的保护范围之内。
[0026]请参阅图1

图4,本技术提供一种新型双头大电流测试探针,包括针管1,针管
1的表面开设有贯穿的通孔,且通孔内转动连接有转轴2,转轴2的顶端固定连接有制动轮3,制动轮3的侧壁上开设有多组阵列分布的限位槽4,针管1的表面设置有对制动轮3进行限位的限位组件5,针管1的两端开设有贯穿的通孔,并且针管1的两端的端面上设置有遮挡组件6,针管1的内部设置有探针组件7。
[0027]在本技术实施例中,该探针组件7包括:
[0028]测试探针71,测试探针71的侧壁固定连接有对称设置的两凸块,两凸块远离测试探针71的一端转动连接有滑轮一72,滑轮一72与针管1的内壁贴合;
[0029]齿条73,齿条73的固定连接在测试探针71的侧壁上,齿条73的侧壁固定连接有凸块,凸块的侧壁转动连接有滑轮二74与针管1的内壁贴合;
[0030]以及柱齿轮75,柱齿轮75的表面固定连接在转轴2的底部,柱齿轮75的底部转动连接有圆盘76,圆盘76的底面通过弹簧弹性连接在针管1的内部上,柱齿轮75啮合传动齿条73。
[0031]具体而言,该新型双头大电流测试探针中的探针组件7包括测试探针71、齿条73、以及柱齿轮75,测试探针71、齿条73均设置有两组,两组测试探针71、齿条73以柱齿轮75的中点中心对称设置。
[0032]在本技术实施例中,限位组件5包括限位块51,限本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型双头大电流测试探针,包括针管(1),其特征在于:所述针管(1)的表面开设有贯穿的通孔,且通孔内转动连接有转轴(2),所述转轴(2)的顶端固定连接有制动轮(3),所述制动轮(3)的侧壁上开设有多组阵列分布的限位槽(4),所述针管(1)的表面设置有对制动轮(3)进行限位的限位组件(5),所述针管(1)的两端开设有贯穿的通孔,所述针管(1)的两端的端面上设置有遮挡组件(6),所述针管(1)的内部设置有探针组件(7),所述探针组件(7)包括:测试探针(71),所述测试探针(71)的侧壁固定连接有对称设置的两凸块,所述两凸块远离测试探针(71)的一端转动连接有滑轮一(72),所述滑轮一(72)与针管(1)的内壁贴合;齿条(73),所述齿条(73)的固定连接在测试探针(71)的侧壁上,所述齿条(73)的侧壁固定连接有凸块,所述凸块的侧壁转动连接有滑轮二(74)与针管(1)的内壁贴合;以及柱齿轮(75),所述柱齿轮(75)的表面固定连接在转轴(2)的底部,所述柱齿轮(75)的底部转动连接有圆盘(76),所述圆盘(76)的底面通过弹簧弹性连接在针管(1)的内部上,所述柱齿轮(75)啮合传动齿条(73)。2.根据权利要求1所述的一种新型双头大电流测试探针,其特征在于:所述测试探针(71...

【专利技术属性】
技术研发人员:文扩华
申请(专利权)人:先得利精密测试探针深圳有限公司
类型:新型
国别省市:

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