一种芯片用超高精度测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片用超高精度测试探针，包括套筒，所述套筒左侧侧壁上设置有滑动装置，所述滑动装置包括有按钮、连接块及弹簧A，所述按钮贯穿套筒并在套筒上滑动连接，所述连接块设置在套筒内部，所述弹簧A左端固定连接在套筒内壁上，所述弹簧A右端固定连接在连接块的左侧。该芯片用超高精度测试探针，通过对按钮进行按压，使探针向下滑动，保证探针从套筒内进行伸出，方便使用，当探针在进行下滑时，滑动到一定距离后，探针上的固定槽与滑动杆的一端相啮合，对探针进行固定，当不需要使用到设备时，对拉块进行向外拉动，通过弹簧B带动探针弹性收缩，使探针向上滑动至套筒内部，对其进行保护。对其进行保护。对其进行保护。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片用超高精度测试探针


[0001]本技术涉及探针
，具体为一种芯片用超高精度测试探针。

技术介绍

[0002]探针是电测试的接触媒介，探针通常包括探针壳、探针头，探针通常用来测试一些微型电子元器件的参数，随着科技的发展，消费者不断地朝着电子产品小巧、轻薄的方向发展，随之对于电子产品的性能检测要求也越来越高，探针已被广泛应用于仪表和测试行业中，是精密测量电阻或者其他电信号最常用的采样手段。
[0003]现有技术中，目前使用的测试探针都存在有一部分针头是露在套筒外部的，如果对其存放不当，会对探头造成磨损，使整体设备造成损坏，有的会使用保护套对探头进行套接保护，但是保护套容易丢失，使用时也非常不便。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种芯片用超高精度测试探针，解决了对探针头进行保护的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种芯片用超高精度测试探针，包括套筒，所述套筒左侧侧壁上设置有滑动装置，所述套筒内部滑动连接有探针，所述探针上端固定连接有连接绳，所述滑动装置包括：
[0008]按钮，所述按钮贯穿套筒并在套筒上滑动连接；
[0009]连接块，所述连接块设置在套筒内部；
[0010]弹簧A，所述弹簧A左端固定连接在套筒内壁上，所述弹簧A右端固定连接在连接块的左侧。
[0011]优选的，所述按钮下端设置为斜面，所述按钮上端右侧固定安装有连接块。
[0012]优选的，所述探针开设有滑动槽和固定槽，所述滑动槽与内部的滑动装置滑动连接。
[0013]优选的，所述探针外壁固定连接有卡环A，所述卡环A下端设有弹簧B，所述弹簧B与探针套接，所述弹簧B下端固定连接有限位环，所述探针贯穿限位环并与限位环滑动连接，所述限位环外壁固定安装在套筒内壁上。
[0014]优选的，所述套筒下端固定连接有固定环，所述固定环右侧设有固定装置。
[0015]优选的，所述固定装置包括有滑动杆、卡环B、弹簧C及拉块，所述滑动杆贯穿固定环，所述滑动杆与弹簧C套接，所述弹簧C右端与固定环内壁固定连接，所述弹簧C左端与卡环B固定连接，所述卡环B的内壁与滑动杆固定连接，所述滑动杆右端固定连接有拉块。
[0016](三)有益效果
[0017]本技术提供了一种芯片用超高精度测试探针。具备以下有益效果：
[0018](1)、该芯片用超高精度测试探针，通过对按钮进行按压，使按钮在套筒上进行向内滑动，靠近探针一端的斜面接触滑动槽进行滑动，对探针进行挤压，使探针向下滑动，保证探针从套筒内进行伸出，方便使用。
[0019](2)、该芯片用超高精度测试探针，通过在套筒下端固定固连接的固定环，内部设置有固定装置，当探针在进行下滑时，滑动到一定距离后，探针上的固定槽与滑动杆的一端相啮合，对探针进行固定，当不需要使用到设备时，对拉块进行向外拉动，通过弹簧B带动探针弹性收缩，使探针向上滑动至套筒内部，对其进行保护。
附图说明
[0020]图1为本技术整体立体的结构示意图；
[0021]图2为本技术整体正面剖视的结构示意图；
[0022]图3为本技术图2中A部分放大的结构示意图；
[0023]图4为本技术2中B部分放大的结构示意图。
[0024]图中：1、套筒；101、限位环；2、滑动装置；201、按钮；202、连接块；203、弹簧A；3、探针；301、滑动槽；302、固定槽；4、连接绳；5、卡环A；6、弹簧B；7、固定环；8、固定装置；801、滑动杆；802、卡环B；803、弹簧C；804、拉块。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]请参阅图1
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图4，本技术提供一种技术方案：一种芯片用超高精度测试探针，包括套筒1，套筒1左侧侧壁上设置有滑动装置2，套筒1内部滑动连接有探针3，探针3上端固定连接有连接绳4，连接绳4贯穿套筒1，滑动装置2包括：
[0027]按钮201，按钮201贯穿套筒1并，按钮201在套筒1上滑动连接；
[0028]连接块202，连接块202设置在套筒1内部，连接块202下端固定连接在按钮201的右侧上端；
[0029]弹簧A203，弹簧A203左端固定连接在套筒1内壁上，弹簧A203右端固定连接在连接块202的左侧。
[0030]具体而言，本技术技术方案的滑动装置2包括有按钮201，连接块202及弹簧A203，按钮201下端的斜面与滑动槽301的斜面相互平行，当按钮201在滑动槽301上进行滑动时，通过探针3固定安装的卡环A5进行限位，使探针3在套筒1内壁进行水平上下滑动。
[0031]在本技术的一实施方式中，固定安装在套筒1内壁的限位环101对弹簧B6进行支撑，弹簧B6进行弹性势能对上端卡环A5进行固定支撑，保证探针3进行固定支撑，确保探针3在滑动装置2没有对其进行按压时，处于套筒1内，进行保护。
[0032]请继续参阅图1
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图4，按钮201下端设置为斜面，按钮201上端右侧固定安装有连接块202，探针3开设有滑动槽301和固定槽302，滑动槽301与内部的滑动装置2滑动连接，探针3外壁固定连接有卡环A5，卡环A5下端设有弹簧B6，弹簧B6与探针3套接，弹簧B6下端固定连
接有限位环101，探针3贯穿限位环101并与限位环101滑动连接，限位环101外壁固定安装在套筒1内壁上，套筒1下端固定连接有固定环7，固定环7右侧设有固定装置8，固定装置8包括有滑动杆801、卡环B802、弹簧C803及拉块804，滑动杆801贯穿固定环7，滑动杆801与弹簧C803套接，弹簧C803右端与固定环7内壁固定连接，弹簧C803左端与卡环B802固定连接，卡环B802的内壁与滑动杆801固定连接，滑动杆801右端固定连接有拉块804。
[0033]为了防止探针3进行探测时，固定装置8对其进行固定出现漏电的现象，滑动杆801设置为橡胶材质，橡胶绝缘性，能保证探针3设备使用的安全远行，同时橡胶也具有一定的柔韧性，在对固定槽302进行固定时，与探针3进行接触，对探针3的表面进行保护，不会出现使用金属固定造成划伤磨损的风险。
[0034]本技术的实施方式中，为了方便更好的使用固定装置8，使用弹簧C803对滑动杆801进行支撑，当探针3在进行向下滑动时，滑动杆801的右端与探针3相接触，当探针3向下滑动到一定的距离时，滑动杆801会与固定槽302相啮合，通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片用超高精度测试探针，包括套筒(1)，所述套筒(1)左侧侧壁上设置有滑动装置(2)，其特征在于：所述套筒(1)内部滑动连接有探针(3)，所述探针(3)上端固定连接有连接绳(4)，所述滑动装置(2)包括：按钮(201)，所述按钮(201)贯穿套筒(1)并在套筒(1)上滑动连接；连接块(202)，所述连接块(202)设置在套筒(1)内部；弹簧A(203)，所述弹簧A(203)左端固定连接在套筒(1)内壁上，所述弹簧A(203)右端固定连接在连接块(202)的左侧。2.如权利要求1所述的一种芯片用超高精度测试探针，其特征在于：所述按钮(201)下端设置为斜面，所述按钮(201)上端右侧固定安装有连接块(202)。3.如权利要求1所述的一种芯片用超高精度测试探针，其特征在于：所述探针(3)开设有滑动槽(301)和固定槽(302)，所述滑动槽(301)与内部的滑动装置(2)滑动连接。4.如权利要求3所述的一种芯片用超高精度测试探针，其特征在于：所述探针(3...

【专利技术属性】
技术研发人员：文扩华，
申请(专利权)人：先得利精密测试探针深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：