一种探针制造技术

本实用新型专利技术提供了一种探针，包括探针本体，所述探针本体的上部杆体上设置有第二连接螺纹，且探针本体的中部杆体设置有第一连接螺纹，所述探针本体的下部设置有下针体，且下针体的底端设置有下探头，所述探针本体的上端设置有套环，且套环的上端设置有顶帽；所述套环上设置三组凹槽，且套环的上端的顶帽光滑的半球体结构；所述第二连接螺纹外套置有防护套，并且防护套为拆卸结构；所述探针本体的中部套置有上密封圈，且上密封圈与探针本体之间拆分连接，并且上密封圈采用人工合成相接触材质。本实用新型专利技术结构设置合理，设置多重密封结构，使其探测更安全可靠，更紧密严实，并且探测更快速便利，有助于提高整体探测效率。有助于提高整体探测效率。有助于提高整体探测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种探针


[0001]本技术涉及探针
，具体涉及一种探针。

技术介绍

[0002]探针主要是应用于测试各种制作完成后的电子元件及电路板， 是将探针配置于测试治具上而与电子元件或电路板接触，接着由探 针将测试的结果经导线传回计算机，以确认待测物是否有不良之处。
[0003]在对比文件“CN200956035一种可替换式探针结构”的说明书中提及“其包括中空的探针主体，该探针主体内具有弹性元件，以及至少一穿入该探针主体的针体，该针体抵接该弹性元件并可在该探针主体内伸缩运动，本技术在该探针主体外缘套设有中空的套筒”，但是，对比文件中的探针的探测头比较粗且单一，无法进行侧接触探测，探测效率低，并不方便实用。

技术实现思路

[0004]为克服现有技术所存在的缺陷，现提供一种探针，以解决对比文件中的探针的探测头比较粗且单一，无法进行侧接触探测，探测效率低，并不方便实用的问题。
[0005]为实现上述目的，提供一种探针，包括探针本体，所述探针本体的上部杆体上设置有第二连接螺纹，且探针本体的中部杆体设置有第一连接螺纹，所述探针本体的下部设置有下针体，且下针体的底端设置有下探头，所述探针本体的上端设置有套环，且套环的上端设置有顶帽。
[0006]进一步的，所述套环上设置三组凹槽，且套环的上端的顶帽光滑的半球体结构。
[0007]进一步的，所述第二连接螺纹外套置有防护套，且防护套采用PVC材质，并且防护套为拆卸结构。
[0008]进一步的，所述探针本体的中部套置有上密封圈，且上密封圈与探针本体之间拆分连接，并且上密封圈采用人工合成相接触材质。
[0009]进一步的，所述上密封圈的下侧设置有中密封圈，且中密封圈的下侧设置有下密封圈，并且中密封圈、下密封圈均与上密封圈所采用的材质相同，同时上密封圈、中密封圈和下密封圈均为拆卸结构。
[0010]进一步的，所述下针体的中心开设有探测中芯，下针体的左右两侧面均开设有多组分探测点，且分探测点与探测中芯之间相连接设置。
[0011]本技术的有益效果在于：
[0012]1.本技术中探针本体上部杆体外所套置的防护套既方便防护探针，又方便组装拆分，使用方便省事。
[0013]2.本技术中探针本体中部所设置的上密封圈、中密封圈和下密封圈主要是用于密封，使得探针本体的下部杆体伸入所探测物体内，更紧密严实，也保持探测的准确度，使用更安全可靠。
[0014]3.本技术中下针体上分探测点和探测中芯的设置更方便探针本体对所探测物体的接触，以便进行更快探测，有助于提高整体探测效率。
附图说明
[0015]图1为本技术实施例的正视示意图；
[0016]图2为本技术实施例的左视示意图；
[0017]图3为本技术实施例的剖面结构示意图；
[0018]图4为本技术实施例的探针结构展开示意图。
[0019]图中：1、探针本体；100、第一连接螺纹；101、上密封圈；102、中密封圈；103、下密封圈；104、下针体；105、分探测点；106、探测中芯；107、下探头；108、防护套；109、套环；110、顶帽；111、第二连接螺纹。
具体实施方式
[0020]为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果能更清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进一步详细说明。此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术，提出诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便更加透彻地理解本技术实施例。所描述的实施例是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本技术。基于本公开中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
[0021]下面结合附图来详细描述本技术的具体实施方式。
[0022]图1为本技术实施例的正视示意图、图2为本技术实施例的左视示意图、图3为本技术实施例的剖面结构示意图和图4为本技术实施例的探针结构展开示意图。
[0023]参照图1至图4所示，本技术提供了一种探针，包括探针本体1，探针本体1的上部杆体上设置有第二连接螺纹111，且探针本体1的中部杆体设置有第一连接螺纹100，探针本体1的下部设置有下针体104，且下针体104的底端设置有下探头107，探针本体1的上端设置有套环109，且套环109的上端设置有顶帽110。
[0024]在本实施例中，套环109上设置三组凹槽，且套环109的上端的顶帽110光滑的半球体结构；第二连接螺纹111外套置有防护套108，且防护套108采用PVC材质，并且防护套108为拆卸结构。
[0025]作为一种较佳的实施方式，本技术中探针本体1上部杆体外所套置的防护套108既方便防护探针，又方便组装拆分，使用方便省事。
[0026]在本实施例中，探针本体1的中部套置有上密封圈101，且上密封圈101与探针本体1之间拆分连接，并且上密封圈101采用人工合成相接触材质；上密封圈101的下侧设置有中密封圈102，且中密封圈102的下侧设置有下密封圈103，并且中密封圈102、下密封圈103均与上密封圈101所采用的材质相同，同时上密封圈101、中密封圈102和下密封圈103均为拆卸结构。
[0027]作为一种较佳的实施方式，本技术中探针本体1中部所设置的上密封圈101、
中密封圈102和下密封圈103主要是用于密封，使得探针本体1的下部杆体伸入所探测物体内，更紧密严实，也保持探测的准确度，使用更安全可靠。
[0028]在本实施例中，下针体104的中心开设有探测中芯106，下针体104的左右两侧面均开设有多组分探测点105，且分探测点105与探测中芯106之间相连接设置。
[0029]作为一种较佳的实施方式，本技术中下针体104上分探测点105和探测中芯106的设置更方便探针本体1对所探测物体的接触，以便进行更快探测，有助于提高整体探测效率。
[0030]本技术可有效解决对比文件中的探针的探测头比较粗且单一，无法进行侧接触探测，探测效率低，并不方便实用的问题，本技术结构设置合理，设置多重密封结构，使其探测更安全可靠，更紧密严实，并且探测更快速便利，有助于提高整体探测效率。
[0031]上述实施例用来解释说明本技术，而不是对技术进行限制，在本技术精神和申请保护权利要求范围内，对本技术做出的任何修改和改变，均应包含在本技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探针，包括探针本体（1），其特征在于：所述探针本体（1）的上部杆体上设置有第二连接螺纹（111），且探针本体（1）的中部杆体设置有第一连接螺纹（100），所述探针本体（1）的下部设置有下针体（104），且下针体（104）的底端设置有下探头（107），所述探针本体（1）的上端设置有套环（109），且套环（109）的上端设置有顶帽（110）。2.根据权利要求1所述的一种探针，其特征在于，所述套环（109）上设置三组凹槽，且套环（109）的上端的顶帽（110）光滑的半球体结构。3.根据权利要求1所述的一种探针，其特征在于，所述第二连接螺纹（111）外套置有防护套（108），且防护套（108）采用PVC材质，并且防护套（108）为拆卸结构。4.根据权利要求1所述的一种探针，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：武斌，盛伟，尚成迎，
申请(专利权)人：亚赛无锡半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：