一种芯片测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试装置，属于芯片测试技术领域；包括测试装置主体，所述测试装置主体的端部连接有两组连接线，所述连接线远离测试装置主体的一端设置有测试笔，所述连接线的端部设置有插头，所述测试装置主体的正面设置有接口，所述连接线通过插头插设在接口的内部，所述插头的外部设置有固定板，所述接口的两侧皆设置有插杆，所述固定板的两侧皆开设有通孔，所述插杆与通孔相互适配。本实用新型专利技术可以使连接线带动插头插入到接口内部后，使得插杆插入到通孔的内部，随后通过固定板进行限位，避免连接线拉扯后造成插头脱离接口内部的情况，从而使测试笔的测试效率更好。从而使测试笔的测试效率更好。从而使测试笔的测试效率更好。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试装置


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片测试装置。

技术介绍

[0002]芯片是一个电子设备中重要的组成部分，因此当电子设备发生损坏时，通常都需要对芯片进行测试，来判断损坏的位置，方便后续的检修。
[0003]现在市面上对芯片的测试通常都是通过测试机，测试机连接有连个测试笔，随后将一个完好的芯片板和需要测试的芯片放置一处，随后两个测试笔分别放置在两组芯片上相同位置处的焊点处，随后通过观看测试机上的曲线，两者一致时，怎测试芯片此处完成，当不同时，则表面该测试芯片此处发生损坏，使用方便。
[0004]但是该测试笔是通过导线插设在侧视设备上的，而剩余的导线则位于工作台，当导线受到拉扯时而对测试笔进行移动，则容易使该测试笔连通导线与测试机之间发生脱离，从而影响该测试的效率，为此，我们提出一种芯片测试装置来解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是为了解决
技术介绍
中涉及的现有技术存在的缺点，而提出的一种芯片测试装置。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0007]一种芯片测试装置，包括测试装置主体，所述测试装置主体的端部连接有两组连接线，所述连接线远离测试装置主体的一端设置有测试笔，所述连接线的端部设置有插头，所述测试装置主体的正面设置有接口，所述连接线通过插头插设在接口的内部，所述插头的外部设置有固定板，所述接口的两侧皆设置有插杆，所述固定板的两侧皆开设有通孔，所述插杆与通孔相互适配；
[0008]可以使插头在插入到接口的内部时，通过插杆与固定板之间进行限位，从而避免插头受到拉扯后与接口之间发生脱离，从而使连接线带动测试笔的测试效果更好，不会影响测试效率。
[0009]优选的，所述插杆的端部设置有挡块，所述挡块的外壁直径大于插杆的外壁直径，所述通孔的内壁直径与挡块相互适配；
[0010]可以使挡块嵌入到挡块的内部，随后通过挡块移动至固定板的外壁，可以对固定板形成阻挡，从而完成对固定板限位，使得插头不会发生脱离的情况。
[0011]优选的，所述固定板的两侧皆开设有转动槽，所述转动槽的端部与通孔相互连通，所述转动槽为弧形设置，且转动槽的内壁间距与插杆的外壁直径相互适配；
[0012]使得插杆带动挡块嵌入到通孔的内部，随后可以使挡块带动插杆在转动槽的内部滑动，使得挡块位于转动槽的外侧进行限位，从而避免了插杆发生脱离的情况，进而使得插头的稳定性更好。
[0013]优选的，所述转动槽远离通孔的一端设置有限位槽，所述限位槽与挡块相互适配；
[0014]当挡块移动至限位槽的位置处时，可以使挡块嵌入到限位槽的内部，从而使挡块的稳定性更好，进一步避免了插杆和挡块发生滑动的情况，使用方便。
[0015]优选的，所述插杆的中间位置处开设有开槽，所述开槽的内部设置有推块；
[0016]可以使推块推动固定板，从而使固定板大于挡块挤压，进而避免了挡块发生移动后造成脱离的情况，使得固定板带动插头的稳定性更好。
[0017]优选的，所述开槽的内部中间位置处设置有轴杆，所述推块的外部套接有轴杆，所述推块与轴杆滑动连接；
[0018]可以对推块进行限位，从而使推块对固定板推动的效果更好，同时避免推块发生脱离的情况。
[0019]优选的，所述轴杆的外部套接有压力弹簧，所述压力弹簧的一端与推块固定连接，所述压力弹簧的另一端与开槽内壁固定连接；
[0020]可以使压力弹簧推动推块进行移动，从而使推块推动固定板，可以使固定板的支撑效果更好。
[0021]与现有技术相比，本技术的有益效果为：
[0022]1、本技术可以使连接线带动插头插入到接口内部后，使得插杆插入到通孔的内部，随后通过固定板进行限位，避免连接线拉扯后造成插头脱离接口内部的情况，从而使测试笔的测试效率更好。
[0023]2、本技术可以使压力弹簧带动推块进行移动，从而使推块带动固定板进行移动，进而使挡块嵌入到限位槽的内部进行限位，避免挡块在固定板的外部发生滑动，从而使挡块不会发生脱离的情况，使得挡块的限位效果更好。
附图说明
[0024]图1为本技术提出的一种芯片测试装置的立体结构示意图；
[0025]图2为图1中连接线和测试笔的结构示意图；
[0026]图3为图1中连接线的端部与接口的连接结构示意图；
[0027]图4为图3中插杆的正视剖面结构示意图。
[0028]图中：1、测试装置主体；2、连接线；3、测试笔；4、接口；5、插头；6、固定板；7、通孔；8、转动槽；9、限位槽；10、插杆；11、挡块；12、开槽；13、推块；14、轴杆；15、压力弹簧。
具体实施方式
[0029]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0030]参照图1
‑
4所示的一种芯片测试装置，在测试装置主体1的端部开设上接口4，该连接线2远离测试装置主体1的一端设置有测试笔3，随后连接线2的端部设置有插头5，使得连接线2通过插头5插设在接口4的内部，同时该插头5的外部设置有固定板6，而接口4的两侧皆设置有插杆10，同时该固定板6的两侧皆开设有通孔7，插杆10与通孔7相互适配，随后在插杆10的端部设置有挡块11，而挡块11的外壁直径大于插杆10的外壁直径，同时该通孔7的内壁直径与挡块11相互适配，随后该固定板6的两侧皆开设有转动槽8，使得转动槽8的端部
与通孔7相互连通，同时该转动槽8为弧形设置，且转动槽8的内壁间距与插杆10的外壁直径相互适配，可以使挡块11在嵌入到通孔7内部，通过转动插头5，进而使插头5带动固定板6发生转动，使得插杆10转动至转动槽8的位置处，可以完成对固定板6的限位，使得限位会不会发生脱离的情况。
[0031]具体对本实施例中的插杆10和挡块11进行说明，请参照图4，随后在转动槽8远离通孔7的一端设置有限位槽9，使得限位槽9与挡块11相互适配，同时该插杆10的中间位置处开设有开槽12，随后在开槽12的内部设置有推块13，随后该开槽12的内部中间位置处设置有轴杆14，推块13的外部套接有轴杆14，推块13与轴杆14滑动连接，轴杆14的外部套接有压力弹簧15，压力弹簧15的一端与推块13固定连接，压力弹簧15的另一端与开槽12内壁固定连接。
[0032]工作原理：本技术在使用时，将连接线2的端部插头5插入到接口4的内部后，随后可以使挡块11插入到通孔7的内部后，挡块11移动至固定板6的另一侧，随后转动固定板6，使得固定板6带动通孔7和转动槽8进行转动，随后该固定板6带动限位槽9移动至挡块11的位置处后，该压力弹簧15带动推块13进行移动，从而使推块13推动固定板6进行移动，从而使挡块11嵌入到限位槽9的内部，从而使固定板6不会发生脱离的情本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，包括测试装置主体(1)，其特征在于，所述测试装置主体(1)的端部连接有两组连接线(2)，所述连接线(2)远离测试装置主体(1)的一端设置有测试笔(3)，所述连接线(2)的端部设置有插头(5)，所述测试装置主体(1)的正面设置有接口(4)，所述连接线(2)通过插头(5)插设在接口(4)的内部，所述插头(5)的外部设置有固定板(6)，所述接口(4)的两侧皆设置有插杆(10)，所述固定板(6)的两侧皆开设有通孔(7)，所述插杆(10)与通孔(7)相互适配。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于，所述插杆(10)的端部设置有挡块(11)，所述挡块(11)的外壁直径大于插杆(10)的外壁直径，所述通孔(7)的内壁直径与挡块(11)相互适配。3.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于，所述固定板(6)的两侧皆开设有转动槽(8)，所述转动槽(8)的端部与通孔(...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶羽，张侠，
申请(专利权)人：安徽青软晶芒微电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：