一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法技术

本发明专利技术涉及一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，用于在Smith圆图中查看滤波器反射状态，在Smith圆图具有n个频点的S曲线，所述曲线为仿真输入或者前端实测后以标准形式输入至Smith圆图，读取各个频点的复数型S参数，然后通过对各个频点的迭代处理计算确定频点间的最大欧式距离作为反射圆直径，取该反射圆直径的一半即为最终确定的反射圆半径。本申请的方法对于反射圆半径的确定过程更为简单，且效率更高，尤其适用于频点更多的工作状况下。下。下。

【技术实现步骤摘要】
一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法


[0001]本专利技术涉及射频通信滤波
，具体涉及一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法。

技术介绍

[0002]射频滤波器是无线射频通信中的关键器件，用于滤除不需要频段的信号，仅保留需要频段内的信号。声表面波（SAW）滤波器是在压电衬底上通过光刻工艺制作的一种特殊芯片，它使用压电原理工作，能适用于手机一类消费电子的高性能需求，因此对其性能需要进行高质量的确认与保障。滤波器的一个重要指标是反射，一般使用Smith圆图查看反射情况，反射圆的半径越小越好，在使用程序自动优化滤波器设计的过程中需要程序能够自动计算反射圆的半径，一般的算法需要计算任意两个频点的距离，则对于有n个频点的曲线需要O(n^2)量级的计算次数，比如说S曲线上存在75个频点，那么就要计算75*75，也就是5625次，而当频点数量更多时会严重影响设计程序的计算效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是要提供一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，其确定过程更为简单，且效率更高，尤其适用于频点更多的工作状况下。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，用于在Smith圆图中查看滤波器反射状态，其特征在于，在Smith圆图具有n个频点的S曲线，所述曲线为仿真输入或者前端实测后以标准形式输入至Smith圆图，读取各个频点的复数型S参数，然后通过对各个频点的迭代处理计算确定频点间的最大欧式距离作为反射圆直径，取该反射圆直径的一半即为最终确定的反射圆半径。2.根据权利要求1所述的用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，其特征在于，读取各个频点的复数型S参数的过程，是读取S曲线上各个频点的S参数的单一分量Snn并将所述单一分量Snn转化为复数型格式。3.根据权利要求2所述的用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，其特征在于，读取各个频点的复数型S参数的过程是读取S曲线上各个频点的S参数的输入反射参数S11和输出反射参数S22。4.根据权利要求1所述的用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，其特征在于，通过对各个频点的迭代处理计算确定频点间的最大欧式距离作为反射圆半径的过程如下：步骤1：初始化距离变量d1=0，并初始化起始频点为f1，预设迭代次数阈值为m；步骤2：以起始频点f1作为起点计算其到其余各频点在复数平面的欧式距离并进行比较，比较后得到欧式距离的最大值记为d2，并将对应的与起始频点f1间具...

【专利技术属性】
技术研发人员：柳世民，
申请(专利权)人：阿尔伯达苏州科技有限公司，
类型：发明
国别省市：