一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法技术

本发明专利技术涉及一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，用于在Smith圆图中查看滤波器反射状态，在Smith圆图具有n个频点的S曲线，所述曲线为仿真输入或者前端实测后以标准形式输入至Smith圆图，读取各个频点的复数型S参数，然后通过对各个频点的迭代处理计算确定频点间的最大欧式距离作为反射圆直径，取该反射圆直径的一半即为最终确定的反射圆半径。本申请的方法对于反射圆半径的确定过程更为简单，且效率更高，尤其适用于频点更多的工作状况下。下。下。

【技术实现步骤摘要】
一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法


[0001]本专利技术涉及射频通信滤波
，具体涉及一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法。

技术介绍

[0002]射频滤波器是无线射频通信中的关键器件，用于滤除不需要频段的信号，仅保留需要频段内的信号。声表面波（SAW）滤波器是在压电衬底上通过光刻工艺制作的一种特殊芯片，它使用压电原理工作，能适用于手机一类消费电子的高性能需求，因此对其性能需要进行高质量的确认与保障。滤波器的一个重要指标是反射，一般使用Smith圆图查看反射情况，反射圆的半径越小越好，在使用程序自动优化滤波器设计的过程中需要程序能够自动计算反射圆的半径，一般的算法需要计算任意两个频点的距离，则对于有n个频点的曲线需要O(n^2)量级的计算次数，比如说S曲线上存在75个频点，那么就要计算75*75，也就是5625次，而当频点数量更多时会严重影响设计程序的计算效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是要提供一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，其确定过程更为简单，且效率更高，尤其适用于频点更多的工作状况下。
[0004]为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案是：本专利技术提供了一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，用于在Smith圆图中查看滤波器反射状态，在Smith圆图具有n个频点的S曲线，所述曲线为仿真输入或者前端实测后以标准形式输入至Smith圆图，读取各个频点的复数型S参数，然后通过对各个频点的迭代处理计算确定频点间的最大欧式距离作为反射圆直径，取该反射圆直径的一半即为最终确定的反射圆半径。
[0005]对于上述技术方案，申请人还有进一步的优化措施。
[0006]可选地，读取各个频点的复数型S参数的过程，是读取S曲线上各个频点的S参数的单一分量Snn并将所述单一分量Snn转化为复数型格式。
[0007]进一步地，读取各个频点的复数型S参数的过程是读取S曲线上各个频点的S参数的输入反射参数S11和输出反射参数S22。
[0008]可选地，通过对各个频点的迭代处理计算确定频点间的最大欧式距离作为反射圆半径的过程如下：步骤1：初始化距离变量d1=0，并初始化起始频点为f1，预设迭代次数阈值为m；步骤2：以起始频点f1作为起点计算其到其余各频点在复数平面的欧式距离并进行比较，比较后得到欧式距离的最大值记为d2，并将对应的与起始频点f1间具有欧式距离最大值的频点记为f2；步骤3：将d2与d1进行比较，确定d2是否大于d1，以及迭代次数是否小于m；步骤4：如果步骤3得到的结果为“是”则赋值f1=f2、d1=d2，也就是更新起始频点以
及距离变量，并重复执行步骤2和步骤3，而如果步骤3得到的结果为“否”则输出d2/2作为反射圆的半径。
[0009]进一步地，步骤1中在初始化时还设置有迭代次数i，并且初始化迭代次数i=0，当步骤4中每重复执行步骤2和3一次则迭代次数i自加1。
[0010]进一步地，所述迭代次数阈值m为3~10之间的自然数。
[0011]更进一步地，所述迭代次数阈值m为3或4或5。
[0012]可选地，在反射圆半径Rm最终确定时，将确定出最大欧式距离作为反射圆直径的两端频点分别记为P1和P2，取P1和P2的中点P3，并计算P3到原点的距离L，其中0≤L≤1，根据距离L对反射圆半径Rm进行归一化处理，获得归一化后的反射圆归一化半径Rn=Rm*(1
‑
L)。
[0013]由于上述技术方案运用，本专利技术与现有技术相比具有下列优点：本专利技术的用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，通过读取复数型S参数，然后进行迭代处理计算来快速得到反射圆半径，整个方法流程对于处理n个频点的数据只需要O(n)量级的距离计算和比较，随着点数的增加效率优势会逐渐凸显，处理效率高，且结果准确无误。
附图说明
[0014]后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本专利技术的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：图1是根据本专利技术一个实施例中的用于滤波器快速确定反射圆半径的方法的工作流程图；图2是根据本专利技术一个实施例中的方法在Smith圆图执行的示意图；图3是根据本专利技术一个实施例中的用于滤波器快速确定反射圆半径的方法求取反射圆归一化半径的工作流程图；图4是根据本专利技术一个实施例中求取反射圆归一化半径的方法在Smith圆图执行的示意图；图5是根据本专利技术一个实施例中Smith圆图中所得到的归一化的反射圆图。
具体实施方式
[0015]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0016]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0017]此外，下面所描述的本专利技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
[0018]本实施例提供了一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，用于在Smith圆图中查看滤波器反射状态，在Smith圆图具有n个频点的S曲线，所述曲线为仿真输入或者前端实测后以标准形式输入至Smith圆图，读取各个频点的复数型S参数，然后通过对各个频点的迭代处理计算确定频点间的最大欧式距离作为反射圆直径，取该反射圆直径的一半即为最终确定的反射圆半径。
[0019]读取各个频点的复数型S参数的过程，是读取S曲线上各个频点的S参数的单一分量Snn并将所述单一分量Snn转化为复数型格式。读取各个频点的复数型S参数的过程是读取S曲线上各个频点的S参数的输入反射参数S11和输出反射参数S22。
[0020]S参数，是表征射频信号传输特性的散射参数，是微波传输中的一个重要参数。其中，S12为反向传输系数，也就是隔离。S21为正向传输系数，也就是增益。S11为输入反射系数，也就是输入回波损耗，S22为输出反射系数，也就是输出回波损耗。
[0021]如图1所示，在Smith圆图具有n个频点的S曲线，所述曲线为仿真输入或者前端实测后以标准形式输入至Smith圆图，读取各个频点的复数型S参数。通过对各个频点的迭代处理计算确定频点间的最大欧式距离作为反射圆半径的过程如下：步骤1：初始化距离变量d1=0，并初始化起始频点为f1，预设迭代次数阈值为m。所述迭代次数阈值m可以设置为3~10之间的自然数。在本实施例中，所述迭代次数阈值m设置为5；步骤2：以起始频点f1作为起点计算其到其余各频点在复数平面的欧式距离并进行比较，比较后得到欧式距离的最大本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，用于在Smith圆图中查看滤波器反射状态，其特征在于，在Smith圆图具有n个频点的S曲线，所述曲线为仿真输入或者前端实测后以标准形式输入至Smith圆图，读取各个频点的复数型S参数，然后通过对各个频点的迭代处理计算确定频点间的最大欧式距离作为反射圆直径，取该反射圆直径的一半即为最终确定的反射圆半径。2.根据权利要求1所述的用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，其特征在于，读取各个频点的复数型S参数的过程，是读取S曲线上各个频点的S参数的单一分量Snn并将所述单一分量Snn转化为复数型格式。3.根据权利要求2所述的用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，其特征在于，读取各个频点的复数型S参数的过程是读取S曲线上各个频点的S参数的输入反射参数S11和输出反射参数S22。4.根据权利要求1所述的用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，其特征在于，通过对各个频点的迭代处理计算确定频点间的最大欧式距离作为反射圆半径的过程如下：步骤1：初始化距离变量d1=0，并初始化起始频点为f1，预设迭代次数阈值为m；步骤2：以起始频点f1作为起点计算其到其余各频点在复数平面的欧式距离并进行比较，比较后得到欧式距离的最大值记为d2，并将对应的与起始频点f1间具...

【专利技术属性】
技术研发人员：柳世民，
申请(专利权)人：阿尔伯达苏州科技有限公司，
类型：发明
国别省市：