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本发明涉及一种用于滤波器快速确定反射圆半径的方法，用于在Smith圆图中查看滤波器反射状态，在Smith圆图具有n个频点的S曲线，所述曲线为仿真输入或者前端实测后以标准形式输入至Smith圆图，读取各个频点的复数型S参数，然后通过对各个频点...
该专利属于阿尔伯达（苏州）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过阿尔伯达（苏州）科技有限公司授权不得商用。

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