一种集成电路检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及集成电路检测技术领域，尤其是指一种集成电路检测装置，它包括检测架和检测台，检测台固定于检测架内底端，检测台上端左右两侧均设有夹板，夹板内侧均相接有缓冲垫，夹板外端与检测架内侧之间均相接有弹簧伸缩杆，检测架内左侧固定有检测仪，检测仪外部通过弹簧线缆相接有检测笔，检测笔外围固定套接有环形套；本实用新型专利技术便于调整检测笔对电路板的前后左右的检测位置，且结合多颗激光灯珠射出的光线射向电路板的待检测位置，此时则代表检测笔的检测端对准了电路板的待检测位置，从而利于通过检测笔精准的检测电路板的集成电路，以免出现检测偏差，利于减小对电路板集成电路的检测误差。成电路的检测误差。成电路的检测误差。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路检测装置


[0001]本技术涉及集成电路检测
，尤其是指一种集成电路检测装置。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连在一起，制成在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，因为所有的元件在解耦股上成为一个整体，这就使得电子元件具有微小化、智能化、低消耗和高性能的优点，当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路，集成电路常常会出现故障，需要进行定期检测，故此需要使用到集成电路检测装置；
[0003]现有集成电路检测装置，通常是通过检测仪上的检测笔来检测电路板上的电路状况，由于电路板上待检测的位置较多，因此经常需要调整检测笔的检测位置，但是检测笔在调整过程中，检测笔的检测端难以精准的对准电路板上待检测的位置进行检测，易导致对电路板出现检测偏差，从而会增加集成电路的检测误差，并且检测笔通常是下移且按压在电路板待检测位置进行检测的，由于不同规格电路板厚度不一，若检测笔对电路板的按压力度过大，检测笔易压损电路板上的元件，不但影响检测效果，还易导致电路板损坏。

技术实现思路

[0004]本技术是提供一种集成电路检测装置，利于精准的调整检测笔对电路板的检测位置，减小检测误差，且防止检测笔压损电路板，保证集成电路的检测效果。
[0005]为了解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：
[0006]一种集成电路检测装置，包括检测架和检测台，所述检测台固定于所述检测架内底端；
[0007]所述检测台上端左右两侧均设有夹板，所述夹板内侧均相接有缓冲垫，所述夹板外端与所述检测架内侧之间均相接有弹簧伸缩杆，所述检测架内左侧固定有检测仪，所述检测仪外部通过弹簧线缆相接有检测笔；
[0008]所述检测笔外围固定套接有环形套，所述环形套下端相接有若干颗呈环形均匀排布的激光灯珠，所述检测笔上端设有电动缸，所述电动缸与所述检测笔之间设有开关组件；
[0009]所述检测架上端左右两侧均开有滑槽，所述滑槽内均滑动连接有往上延伸的阻尼滑块，两块所述阻尼滑块之间固定有导轴，所述导轴外部设有横向滑移组件。
[0010]进一步地，所述开关组件包括上固定块、下固定块、弹簧复位杆、接近开关及接近板，所述上固定块固定于所述电动缸动力端，所述下固定块设于所述上固定块下端。
[0011]进一步地，所述弹簧复位杆相接于所述上固定块与所述下固定块之间，所述接近开关相接于所述上固定块下端，所述接近板固定于所述下固定块上端，所述接近开关与所述接近板上下对应。
[0012]进一步地，所述检测架外侧上端螺纹连接有贯穿进其中一个所述滑槽内的锁紧螺杆。
[0013]进一步地，所述横向滑移组件包括阻尼滑套、防滑齿板、复位弹簧及拉杆，所述阻尼滑套滑动套接于所述导轴外围，所述电动缸上端固定于所述阻尼滑套下端，所述导轴外围包裹有防滑垫，所述防滑齿板设于所述阻尼滑套内并抵于所述导轴上端。
[0014]进一步地，所述复位弹簧设有两个且均相接于所述防滑齿板上端与所述阻尼滑套内顶端之间，所述拉杆固定于所述防滑齿板上端中部，所述拉杆往上滑动贯穿出所述阻尼滑套。
[0015]本技术的有益效果：
[0016]1.通过将集成电路板放在检测台上，结合弹簧伸缩杆的弹性，利于方便的通过夹板及缓冲垫将电路板夹紧，保证电路板在检测过程中的稳定性；
[0017]2.通过阻尼滑块在滑槽内进行前后滑动，便于调整检测笔对电路板的前后检测位置，且使阻尼滑套沿着导轴左右滑动，因此便于调整检测笔对电路板的左右检测位置，结合多颗激光灯珠射出的光线射向电路板的待检测位置，此时则代表检测笔的检测端对准了电路板的待检测位置，从而利于通过检测笔精准的检测电路板的集成电路，以免出现检测偏差，利于减小对电路板集成电路的检测误差；
[0018]3.通过电动缸带动检测笔下移检测时，检测笔的检测端按压在电路板上后，同时接近板会靠近接近开关，从而通过接近开关控制电动缸停止工作，以免电动缸继续带动检测笔下移，防止检测笔压损电路板上的元件，且防止电路板损坏，利于保证对电路板集成电路的检测效果。
附图说明
[0019]图1为本技术的整体结构示意图；
[0020]图2为本技术的A局部放大结构示意图；
[0021]图3为本技术的横向滑移组件结构示意图；
[0022]图4为本技术的开关组件结构示意图；
[0023]图5为本技术的检测笔结构示意图；
[0024]图6为本技术的环形套仰视结构示意图。
[0025]附图标记说明：
[0026]检测架1、检测台2、弹簧伸缩杆3、夹板4、缓冲垫5、滑槽6、阻尼滑块7、锁紧螺杆8、导轴9、阻尼滑套10、电动缸11、复位弹簧12、拉杆13、防滑齿板14、上固定块15、下固定块16、检测笔17、接近开关18、接近板19、弹簧复位杆20、环形套21、激光灯珠22、检测仪23。
具体实施方式
[0027]为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本技术作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本技术的限定。
[0028]如图1所示，本实施例中，包括检测架1和检测台2，所述检测台2固定于所述检测架1内底端，所述检测台2上端左右两侧均设有夹板4，所述夹板4内侧均相接有缓冲垫5，所述夹板4外端与所述检测架1内侧之间均相接有弹簧伸缩杆3，所述检测架1内左侧固定有检测仪23，所述检测仪23外部通过弹簧线缆相接有检测笔17。
[0029]首先拉动夹板4压缩弹簧伸缩杆3，且将集成电路板放在检测台2上，同时使电路板
位于两块夹板4之间，然后结合弹簧伸缩杆3的弹性带动夹板4复位，从而可以方便的通过夹板4及缓冲垫5将电路板夹紧，保证电路板在检测过程中的稳定性，而通过缓冲垫5与电路板接触，利于防止电路板被夹板4夹损。
[0030]如图1、2、5、6所示，本实施例中，所述检测笔17外围固定套接有环形套21，所述环形套21下端相接有若干颗呈环形均匀排布的激光灯珠22，所述检测笔17上端设有电动缸11，所述电动缸11与所述检测笔17之间设有开关组件，所述检测架1上端左右两侧均开有滑槽6，所述滑槽6内均滑动连接有往上延伸的阻尼滑块7，两块所述阻尼滑块7之间固定有导轴9，所述导轴9外部设有横向滑移组件，所述检测架1外侧上端螺纹连接有贯穿进其中一个所述滑槽6内的锁紧螺杆8。
[0031]然后使激光灯珠22通电工作，且使多颗激光灯珠22射出的光线在检测台2上聚集成一个点，同时将检测笔17的检测端与激光灯珠22射出的光线上下对齐，当导轴9前后拉动阻尼滑块7沿着滑槽6前后移动时，同时导轴9会带动横向滑移组件、电动缸11、开关组件、检测笔17、环形套21及激光灯珠22一起前后移动，因此结合多颗激光灯珠22射出的光线射向电路板的待检测位置，利于使检测笔17精准的对准电路板的纵向待检测位置，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路检测装置，包括检测架(1)和检测台(2)，所述检测台(2)固定于所述检测架(1)内底端，其特征在于：所述检测台(2)上端左右两侧均设有夹板(4)，所述夹板(4)内侧均相接有缓冲垫(5)，所述夹板(4)外端与所述检测架(1)内侧之间均相接有弹簧伸缩杆(3)，所述检测架(1)内左侧固定有检测仪(23)，所述检测仪(23)外部通过弹簧线缆相接有检测笔(17)；所述检测笔(17)外围固定套接有环形套(21)，所述环形套(21)下端相接有若干颗呈环形均匀排布的激光灯珠(22)，所述检测笔(17)上端设有电动缸(11)，所述电动缸(11)与所述检测笔(17)之间设有开关组件；所述检测架(1)上端左右两侧均开有滑槽(6)，所述滑槽(6)内均滑动连接有往上延伸的阻尼滑块(7)，两块所述阻尼滑块(7)之间固定有导轴(9)，所述导轴(9)外部设有横向滑移组件。2.如权利要求1所述的一种集成电路检测装置，其特征在于：所述开关组件包括上固定块(15)、下固定块(16)、弹簧复位杆(20)、接近开关(18)及接近板(19)，所述上固定块(15)固定于所述电动缸(11)动力端，所述下固定块(16)设于所述上固定块(15)下端。3.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：宁晓川，
申请(专利权)人：深圳市荣德伟业电子有限公司，
类型：新型
国别省市：